[實用新型]一種SMIF激光傳感器檢測及調整輔助工具有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201520567069.2 | 申請日: | 2015-07-31 |
| 公開(公告)號: | CN204809194U | 公開(公告)日: | 2015-11-25 |
| 發(fā)明(設計)人: | 蘇陶炯 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務所 31219 | 代理人: | 余明偉 |
| 地址: | 100176 北京市大興區(qū)大*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 smif 激光 傳感器 檢測 調整 輔助工具 | ||
技術領域
本實用新型屬于半導體制造領域,涉及一種SMIF激光傳感器檢測及調整輔助工具。
背景技術
在現今的半導體制造工藝中,晶圓從生產制造到運送,都需要在密閉無塵條件下進行。相比于傳統的將生產設備設置潔凈室內的晶圓生產方式,新的晶圓隔離技術則是將潔凈室直接設置于生產設備中。晶圓隔離技術又稱為標準機械接口(StandardMechanicalInterface,SMIF),SMIF被集成到半導體設備中。在半導體制造工藝中,SMIF作為一個界面接口,在該界面接口中,晶圓被裝進晶圓盒;接著將晶圓盒裝載并封閉在SMIF,SMIF為晶圓提供一個極端潔凈的凈化級別的微環(huán)境。后續(xù),裝有晶圓的晶圓盒會被運輸至相應的半導體設備,以完成相應制程,之后再被運輸至SMIF中存儲起來。
SMIF中設有若干激光傳感器(lasersensor),用于感應晶圓(wafer)、凹槽(slot)、凸起(protrusion)等的位置。SMIF激光傳感器應滿足的標準:激光需射到接收傳感器的中心位置,這需要通過不斷調整SMIF激光傳感器來實現。
如圖1所示,顯示為一種SMIF的俯視結構示意圖,其中,SMIF框架上設有晶圓位置激光傳感器101、晶舟位置激光傳感器102及晶圓凸起激光傳感器103,其中,晶圓位置激光傳感器(waferpositionsensor)用于偵測晶舟里是否有晶圓,晶舟位置激光傳感器(cassetteslotsensor)用于偵測SMIF底盤上是否有晶舟,晶圓凸起激光傳感器(waferprotrusionsensor)用于偵測晶舟里的晶圓有沒有凸出來。偵測激光通過激光二極管(laserdiode)104發(fā)出,并經晶圓位置分光鏡((waferpositionbeamsplitter)105、晶舟位置分光鏡(cassetteslotbeamsplitters)106及反射鏡(mirrors)107的透射、反射作用,通過三個路徑分別射入所述晶圓位置激光傳感器101、晶舟位置激光傳感器102及晶圓凸起激光傳感器103。
當前激光傳感器的調整主要是通過調節(jié)分光鏡及反射鏡的位置使激光射到相應的接收傳感器。接收傳感器的位置是固定的,且位置隱蔽不易被觀察,調節(jié)時觀察很不方便,同時存在眼睛被激光照射到的風險。特別的,工廠內往往有數千臺SMIF,同時每臺SMIF都需要做定時檢查,由此將造成極大的人力資源的浪費。
因此,提供一種SMIF激光傳感器檢測及調整輔助工具,以便于工程師高效完成對SMIF激光傳感器的檢測和調整,節(jié)約人力和時間,同時保護操作人員的眼睛實屬必要。
實用新型內容
鑒于以上所述現有技術的缺點,本實用新型的目的在于提供一種SMIF激光傳感器檢測及調整輔助工具,用于解決現有技術中對SMIF激光傳感器的調整耗費大量人力和時間,并容易傷害操作人員眼睛的問題。
為實現上述目的及其他相關目的,本實用新型提供一種SMIF激光傳感器檢測及調整輔助工具,包括:
基座,所述基座上設有激光照射靶柱;所述激光照射靶柱上設有靶心通孔,所述靶心通孔的中心位置與SMIF上設置的激光傳感器的激光接收中心位置相對應。
可選地,所述激光照射靶柱為長方體。
可選地,所述靶心通孔為圓孔或多邊形孔。
可選地,所述激光照射靶柱的數目為三個,分別對應SMIF上設置的晶圓位置激光傳感器、晶舟位置激光傳感器及晶圓凸起激光傳感器。
可選地,所述基座上還設有開口,所述開口的位置對應SMIF底盤上的凸起。
可選地,所述開口為圓孔。
可選地,所述基座上還連接有把手。
可選地,所述把手跨越所述開口。
可選地,所述基座上設有貫穿所述基座的孔洞,所述孔洞的位置與所述SMIF底盤上的針腳位置相對應。
可選地,所述基座的外形與SMIF底盤的外形相匹配。
如上所述,本實用新型的SMIF激光傳感器檢測及調整輔助工具,具有以下有益效果:本實用新型的輔助工具可以用于檢測SMIF激光傳感器的位置是否正確,并有效地幫助SMIF激光傳感器位置的調整(通過調整分光鏡及反射鏡的位置間接調整),對于工廠內數量巨大的SMIF來說,既節(jié)省了調整時間,又節(jié)省了人力,同時可以保護操作人員的眼睛,避免操作人員眼睛被激光照射的風險。
附圖說明
圖1顯示為現有技術中SMIF的俯視結構示意圖。
圖2顯示為本實用新型的SMIF激光傳感器檢測及調整輔助工具的結構示意圖。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





