[實用新型]光學元件面型檢測調整座有效
| 申請號： | 201520553383.5 | 申請日： | 2015-07-28 |
| 公開（公告）號： | CN205027335U | 公開（公告）日： | 2016-02-10 |
| 發明（設計）人： | 周佺佺 | 申請（專利權）人： | 成都光明光電股份有限公司 |
| 主分類號： | G01B21/20 | 分類號： | G01B21/20 |
| 代理公司： | 成都希盛知識產權代理有限公司 51226 | 代理人： | 蒲敏 |
| 地址： | 610100 四川省*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光學 元件 檢測 調整 | ||
【權利要求書】：
1.光學元件面型檢測調整座，包括樣品放置臺面(1)，其特征在于：還包括調整平臺(2)，所述樣品放置臺面(1)設置在所述調整平臺(2)上，所述調整平臺(2)采用三個調整足(4)支撐，所述調整平臺(2)為左右兩個，所述樣品放置臺面(1)設置在所述左右兩個調整平臺(2)上，所述樣品放置臺面(1)通過支撐柱(3)設置在所述左右兩個調整平臺(2)上。
2.如權利要求1所述的光學元件面型檢測調整座，其特征在于：所述支撐柱(3)采用鑄鐵制成。
3.如權利要求1所述的光學元件面型檢測調整座，其特征在于：所述樣品放置臺面(1)、調整平臺(2)和調整足(4)采用鑄鐵制成。
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