[實用新型]一種斷短路兩端式真空吸引測試機構

有效

• 申請號: 201520528093.5
• 申請日: 2015-07-21
• 公開（公告）號: CN204807591U
• 公開（公告）日: 2015-11-25
• 發明（設計）人: 柴英豪;林明輝
• 申請（專利權）人: 柴英豪
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/02;G01R27/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種測試治具的測試機構，具體涉及一種斷短路兩端式真空吸引測試機構。

背景技術

目前，傳統的測試方法是使用測試探針，但其具有：1)測試點壓傷的疑慮；2)治具成本過高的問題；3)遇到細線路無法測試或對位困難，需要用導電膠作兩段測試，工作效率較低。

實用新型內容

為解決上述技術問題，我們提出了一種可克服以上問題且成本較低的斷短路兩端式真空吸引測試機構。

為達到上述目的，本實用新型的技術方案如下：

一種斷短路兩端式真空吸引測試機構，其包括測試基座，所述測試基座的上表面上設有方形的第一測試區、與第一測試區中其一邊緣相抵靠的條形第二測試區、設于所述第一測試區和第二測試區上表面上的待測板、與所述待測板相鄰設置且均勻設于所述第一測試區上表面上的若干個數據傳輸端子和設于所述第二測試區下方的氣缸，所述氣缸拖動第二測試區上下運動，所述第一測試區包括第一真空吸氣室和設于第一真空吸氣室頂端上的pcb板或柔性線路板，所述第二測試區包括第二真空吸氣室和設于第二真空吸氣室頂端上的金屬或非金屬板，所述pcb板或柔性線路板的周邊和金屬或非金屬板上均開設有均勻的若干通孔，所述待測板上且位于所述第二測試區上方設有條形的待測物細出pin端子，所述待測板和pcb板或柔性線路板上均設有相同的測試點，且與所述待測物細出pin端子物理性連接。

優選的，所述待測板為柔性線路板或觸控面板或血糖裸片。

優選的，所述測試點為金點、銀點、銅點、炭點或者非金屬導體。

優選的，還包括與所述第一測試區的其他三個邊緣相鄰設置的待測板對位裝置，所述對位裝置包括設于第一測試區兩邊且與第二測試區相互垂直的垂直滑行軌道和設于所述垂直滑行軌道上的水平滑行軌道，所述水平滑行軌道上還均勻安裝有兩個CCD或電子顯微鏡，且所述CCD或電子顯微鏡可左右移動。

優選的，所述第二待測區為金屬或非金屬全短路區。

通過上述技術方案，本實用新型的斷短路兩端式真空吸引測試機構，測試點以軟性銀漿或pcb電路板銅點做為接觸點，平面對平面無壓傷問題，而且分兩段式真空吸引方式可測一般點對點接觸測試，也可測細線路全短路量測斷路及阻值量測，具有測試速度快，細線路無對位上困擾，而且測試治具成本較傳統探針式低。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本實用新型實施例1所公開的一種斷短路兩端式真空吸引測試機構的結構示意圖；

圖2為本實用新型實施例1所公開的一種斷短路兩端式真空吸引測試機構中第一測試區的分解示意圖。

具體實施方式

下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。

下面結合示意圖對本實用新型的具體實施方式作進一步詳細的說明。

實施例1.

如圖1、圖2所示，一種斷短路兩端式真空吸引測試機構，其包括測試基座1，所述測試基座1的上表面上設有方形的第一測試區、與第一測試區中其一邊緣相抵靠的條形第二測試區、設于所述第一測試區和第二測試區上表面上的待測板2、與所述待測板2相鄰設置且均勻設于所述第一測試區上表面上的若干個數據傳輸端子3和設于所述第二測試區下方的氣缸4，所述氣缸4拖動第二測試區上下運動，達到測試斷短路，阻抗的測試要求，數據傳輸端子3與測試機相配合，所述第一測試區包括第一真空吸氣室5和設于第一真空吸氣室5頂端上的pcb板或柔性線路板6，所述第二測試區包括第二真空吸氣室7和設于第二真空吸氣室7頂端上的金屬或非金屬板8，所述pcb板或柔性線路板6的周邊和金屬或非金屬板8上均開設有均勻的若干通孔a，所述待測板2上且位于所述第二測試區上方設有條形的待測物細出pin端子9，所述待測板2和pcb板或柔性線路板6上均設有相同的測試點b，且與所述待測物細出pin端子9物理性連接。該斷短路兩端式真空吸引測試機構，可測一般點對點接觸測試，也可測細線路全短路量測斷路及阻值量測。