[實用新型]一種斷短路兩端式真空吸引測試機構

有效

• 申請號: 201520528093.5
• 申請日: 2015-07-21
• 公開（公告）號: CN204807591U
• 公開（公告）日: 2015-11-25
• 發明（設計）人: 柴英豪;林明輝
• 申請（專利權）人: 柴英豪
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/02;G01R27/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種斷短路兩端式真空吸引測試機構，其特征在于，其包括測試基座，所述測試基座的上表面上設有方形的第一測試區、與第一測試區中其一邊緣相抵靠的條形第二測試區、設于所述第一測試區和第二測試區上表面上的待測板、與所述待測板相鄰設置且均勻設于所述第一測試區上表面上的若干個數據傳輸端子和設于所述第二測試區下方的氣缸，所述氣缸拖動第二測試區上下運動，所述第一測試區包括第一真空吸氣室和設于第一真空吸氣室頂端上的pcb板或柔性線路板，所述第二測試區包括第二真空吸氣室和設于第二真空吸氣室頂端上的金屬或非金屬板，所述pcb板或柔性線路板的周邊和金屬或非金屬板上均開設有均勻的若干通氣孔，所述待測板上且位于所述第二測試區上方設有條形的待測物細出pin端子，所述待測板和pcb板或柔性線路板上均設有相同的測試點，且與所述待測物細出pin端子物理性連接。

2.根據權利要求1所述的一種斷短路兩端式真空吸引測試機構，其特征在于，所述待測板為柔性線路板或觸控面板或血糖裸片。

3.根據權利要求1所述的一種斷短路兩端式真空吸引測試機構，其特征在于，所述測試點為金點、銀點、銅點、炭點或者非金屬導體。

4.根據權利要求1所述的一種斷短路兩端式真空吸引測試機構，其特征在于，還包括與所述第一測試區的其他三個邊緣相鄰設置的待測板對位裝置，所述對位裝置包括設于第一測試區兩邊且與第二測試區相互垂直的垂直滑行軌道和設于所述垂直滑行軌道上的水平滑行軌道，所述水平滑行軌道上還均勻安裝有兩個CCD或電子顯微鏡，且所述CCD或電子顯微鏡可左右移動。

5.根據權利要求1所述的一種斷短路兩端式真空吸引測試機構，其特征在于，所述第二待測區為金屬或非金屬全短路區。