[實用新型]一種高速內置閃存的測試板

有效

• 申請號: 201520371267.1
• 申請日: 2015-06-02
• 公開（公告）號: CN204884573U
• 公開（公告）日: 2015-12-16
• 發明（設計）人: 孫文濤
• 申請（專利權）人: 廣東利揚芯片測試股份有限公司
• 主分類號: G11C29/48
• 分類號: G11C29/48
• 代理公司: 東莞市華南專利商標事務所有限公司 44215
• 代理人: 劉克寬

1.一種高速內置閃存的測試板，其特征在于：包括用于連接上位測試機的測試插槽，所述插槽中具有兩排平行的排針，其中一排排針是測試通道排針，所述測試通道排針的測試針腳一端連接上位測試機，另一端連接到測試板上的測試電路，另一排排針是抗干擾排針，所述抗干擾排針的抗干擾針腳的底端接電源地，所述抗干擾排針接收測試通道排針產生的電磁波并傳導至電源地。

2.如權利要求1所述的一種高速內置閃存的測試板，其特征在于：所述抗干擾排針中一個針腳接電源地，另外的針腳連接該接電源地的針腳。

3.如權利要求1所述的一種高速內置閃存的測試板，其特征在于：所述測試電路包括芯片容置座，所述芯片容置座的管腳與所述測試通道排針的測試針腳的底端連接。

4.如權利要求3所述的一種高速內置閃存的測試板，其特征在于：所述芯片容置座設置于測試版的中心，所述測試插槽分布于所述芯片容置座的四周。

5.如權利要求4所述的一種高速內置閃存的測試板，其特征在于：芯片容置座兩側的測試插槽的通道排針的針腳的排序方向一致，以使得所有從上位測試機連接至所述測試插槽的排線方向一致。

6.如權利要求1所述的一種高速內置閃存的測試板，其特征在于：所述測試通道排針和抗干擾排針之間的距離小于測試通道排針中相鄰針腳之間的距離。