[實用新型]一種QFN壓測測試機構

有效

• 申請號: 201520366946.X
• 申請日: 2015-06-01
• 公開（公告）號: CN204758717U
• 公開（公告）日: 2015-11-11
• 發明（設計）人: 謝國清
• 申請（專利權）人: 東莞市華越自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種QFN壓測測試機構。

背景技術

傳統的IC元件電信壓測測試包括電壓壓測測試、電流壓測測試與電阻壓測測試等，其主要都是采用人工測試的方法，人工測試工作效率低、勞務成本高，不利于企業批量化生產的要求。后來，市面上出現了一些IC元件電信測試設備，由于其不具有測試站高度調節的功能，無法適用于對不同規格的IC元件進行測試。市面上還有部分IC元件電信測試設備，由于其電信測試的種類比較單一，導致一個測試平臺無法完成對各種不同規格、不同類型的IC元件進行測試，從而給使用者帶來極大的不便。因此，針對目前IC元件進行電信測試存在上述技術問題的不足，本申請人研發一種通過設置有測試站底座、測試站高度調整機構、壓測測試板和測試板引線轉換機構，其通過調節測試站高度可適應對不同規格的IC元件進行測試，通用性強；所述壓測測試板設置有引線PCB板、IC定位機構、IC腳位金手指和IC散熱板探針，其通過IC定位機構可對IC元件進行壓測前定位，保證了IC腳位金手指和IC散熱板探針對IC元件測試接觸良好，從而保證了測試的準確性，其不但結構簡單，成本低，使用簡單、快捷、實用，還滿足了對精細的IC元件多腳位、多電信的測試需求，擴展性強，便于廣泛推廣使用的一種QFN壓測測試機構確屬必要。

發明內容

本實用新型要解決的技術問題是提供一種通過設置有測試站底座、測試站高度調整機構、壓測測試板和測試板引線轉換機構，其通過調節測試站高度可適應對不同規格的IC元件進行測試，通用性強；所述壓測測試板設置有引線PCB板、IC定位機構、IC腳位金手指和IC散熱板探針，其通過IC定位機構可對IC元件進行壓測前定位，保證了IC腳位金手指和IC散熱板探針對IC元件測試接觸良好，從而保證了測試的準確性，其不但結構簡單，成本低，使用簡單、快捷、實用，還滿足了對精細的IC元件多腳位、多電信的測試需求，擴展性強，便于廣泛推廣使用的QFN壓測測試機構。本實用新型是通過以下技術方案來實現的：

一種QFN壓測測試機構，包括測試站底座，及垂直設置在測試站底座一端上、可對不同規格的IC元件進行測試的測試站高度調整機構，及橫向設置在測試站高度調整機構上端的壓測測試板，及垂直設置在測試站底座另一端上的測試板引線轉換機構；所述壓測測試板設置包括引線PCB板，及設置在引線PCB板中部、具有彈性自動復位作用的IC腳位金手指，及蓋設于IC腳位金手指上面的IC定位機構，及設置在引線PCB板下方、具有彈性自動復位作用的散熱板控針。

作為優選，所述IC定位機構側視時呈凹型設置。

作為優選，所述散熱板控針設置有三根以上。

作為優選，所述IC散熱板探針通過引線PCB板與IC腳位金手指連接。

本實用新型的一種QFN壓測測試機構，包括測試站底座，及垂直設置在測試站底座一端上、可對不同規格的IC元件進行測試的測試站高度調整機構，及橫向設置在測試站高度調整機構上端的壓測測試板，及垂直設置在測試站底座另一端上的測試板引線轉換機構；所述壓測測試板設置包括引線PCB板，及設置在引線PCB板中部、具有彈性自動復位作用的IC腳位金手指，及蓋設于IC腳位金手指上面的IC定位機構，及設置在引線PCB板下方、具有彈性自動復位作用的散熱板控針。本實用新型由于設置有測試站底座、測試站高度調整機構、壓測測試板和測試板引線轉換機構，其通過調節測試站高度可適用于對不同規格、不同類型的IC元件進行測試，通用性強；其又由于設置有引線PCB板、IC定位機構、IC腳位金手指和IC散熱板探針，其通過IC定位機構可對IC元件進行壓測前定位，保證了IC腳位金手指與IC散熱板探針對IC元件進行測試時具有良好的接觸性能，從而保證了測試的準確性，其還設置測試板引線轉換機構與壓測測試板相配合操作，使其滿足可對精細的IC元件進行多腳位、多電信的測試要求，擴展性強，結構簡單，成本低，操作簡便，實用性強，推于廣泛推廣使用。

附圖說明

為了易于說明，本實用新型由下述的較佳實施例及附圖作以詳細描述。

圖1為本實用新型的一種QFN壓測測試機構的立體圖。

圖2為本實用新型的一種QFN壓測測試機構的壓測測試板的左視圖。

具體實施方式