[實用新型]一種QFN壓測測試機構有效
| 申請號： | 201520366946.X | 申請日： | 2015-06-01 |
| 公開（公告）號： | CN204758717U | 公開（公告）日： | 2015-11-11 |
| 發明（設計）人： | 謝國清 | 申請（專利權）人： | 東莞市華越自動化設備有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 523000 廣東省東莞市黃*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 qfn 測測 試機 | ||
【權利要求書】：
1.一種QFN壓測測試機構，其特征在于：包括測試站底座，及垂直設置在測試站底座一端上、可對不同規格的IC元件進行測試的測試站高度調整機構，及橫向設置在測試站高度調整機構上端的壓測測試板，及垂直設置在測試站底座另一端上的測試板引線轉換機構；所述壓測測試板設置包括引線PCB板，及設置在引線PCB板中部、具有彈性自動復位作用的IC腳位金手指，及蓋設于IC腳位金手指上面的IC定位機構，及設置在引線PCB板下方、具有彈性自動復位作用的散熱板控針。
2.根據權利要求1所述的一種QFN壓測測試機構，其特征在于：所述IC定位機構側視時呈凹型設置。
3.根據權利要求1所述的一種QFN壓測測試機構，其特征在于：所述散熱板控針設置有三根以上。
4.根據權利要求1所述的一種QFN壓測測試機構，其特征在于：所述IC散熱板探針通過引線PCB板與IC腳位金手指連接。
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