[實用新型]一種IC附著力測試機構

有效

• 申請號: 201520334540.3
• 申請日: 2015-05-22
• 公開（公告）號: CN204575515U
• 公開（公告）日: 2015-08-19
• 發明（設計）人: 陳德鈞
• 申請（專利權）人: 京隆科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01N19/04
• 分類號: G01N19/04
• 代理公司: 北京華夏博通專利事務所(普通合伙) 11264
• 代理人: 劉俊

技術領域

本實用新型涉及一種IC附著力測試機構，用于測試IC（集成電路）的附著力是否合乎工業要求，屬于IC（集成電路）測試領域。

背景技術

集成電路（integrated?circuit,簡稱IC）是一種微型電子器件或部件，其采用一定的工藝，將一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構。以上所述元件通常通過焊接的方式制作在介質基片上。由于具備集成電路的電子產品（如手機）在使用過程中常會遭受摔落、受壓等破壞性活動，因而很可能導致電子產品中的集成電路發生損壞，特別是元件與介質基片發生脫離的現象，故而元件在介質基片上的附著力大小很大程度上影響到電子產品的品質。

目前，常見的測試集成電路的附著力大小的方法是：購買專用的自動測試機臺、夾具、推刀，首先將待測試產品固定夾具上，再通過推刀推晶體管、電阻、電容和電感等元件，使之與介質基片發生脫離，并通過自動測試機臺測試待測試產品的附著力的大小。然而現有的測試方式存在以下缺陷：

1）使用專用的測試機臺，無法做到小型及機動的測試產品；

2）自動測試機臺的購置費用較高，增加了企業的生產成本；

3）夾具只能適應用于一種規格的產品，當更換測試產品時，需購置另一種夾具，因而夾具的共用性差，如此，不僅延長了工時，同時也增加了企業的生產成本。

實用新型內容

為了解決上述技術問題，本實用新型的目的在于提供一種結構簡單的IC附著力測試機構，其不僅制作成本低廉，且共用性高。

為了實現上述目的，本實用新型的技術方案如下：

一種IC附著力測試機構，包括一底座，所述底座上開設有產品放置槽，所述產品放置槽的兩側分別設置有一用于固定產品的活動壓塊，所述產品放置槽的一端設置有用于抵推產品的可移動推塊組件，所述可移動推塊組件與一推拉計相適配，并在所述推拉計的推動下作直線運動。

優選的，所述可移動推塊組件包括移動橫桿、推塊以及軌道支架，一對所述軌道支架分別固設于所述底座的兩側，所述移動橫桿的兩端分別與所述軌道支架的內側面上的軌道滑動配合，所述推塊固設于所述移動橫桿的下方。

進一步的，至少所述推塊的底端部伸出兩根筋條而形成與產品的邊緣相匹配的半封閉結構。

進一步的，所述推塊通過調節塊固定于所述移動橫桿上,所述調節塊上開設有腰型孔一，所述推塊與所述調節塊通過穿設于所述腰型孔一中的螺釘固定連接。

進一步的，所述推拉計的推桿固定一推板，所述推板的一端伸出兩凸塊，所述移動橫桿通過搭置于所述凸塊上而實現與所述推拉計的配合。

優選的，所述活動壓塊上設置有一腰型孔二，所述活動壓塊與所述底座通過穿設于所述腰型孔二中的螺釘固定連接。

與現有技術相比，本實用新型提供的IC附著力測試機構至少具有以下優點：

1）本實用新型結構簡單，制作成本低廉；

2）通過活動壓塊固定產品，能夠適應不同規格的產品，因而共有性強，且降低了生產成本；

3）機動性強，隨時可投入使用。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型結構特征和技術要點，下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型進行詳細說明。

圖1為集成電路的結構示意圖；

圖2為本實用新型實施例所公開的IC附著力測試機構的結構示意圖；

圖3為圖2在A處的局部放大圖；

圖4為本實用新型實施例所公開的IC附著力測試機構的工作狀態示意圖；

圖5為本實用新型實施例所公開的IC附著力測試機構的又一結構示意圖；

圖6為本實用新型實施例所公開的推拉計與推板組裝的結構示意圖。

附圖標記說明：10-可移動推塊組，11-底座，111-產品放置槽，12-活動壓塊，121-腰型孔二，122-螺釘,?13-推拉計，131-推桿,?14-移動橫桿，15-推塊，151-筋條，16-軌道支架，161-軌道，17-調節塊，171-腰型孔一，172-螺釘，18-推板，100-集成電路，1001-元件，1002-介質基片。

具體實施方式

下面將結合本實施例中的附圖，對實施例中的技術方案進行具體、清楚、完整地描述。