[實用新型]一種IC附著力測試機構

有效

• 申請號: 201520334540.3
• 申請日: 2015-05-22
• 公開（公告）號: CN204575515U
• 公開（公告）日: 2015-08-19
• 發明（設計）人: 陳德鈞
• 申請（專利權）人: 京隆科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01N19/04
• 分類號: G01N19/04
• 代理公司: 北京華夏博通專利事務所(普通合伙) 11264
• 代理人: 劉俊

1.一種IC附著力測試機構，其特征在于，包括一底座，所述底座上開設有產品放置槽，所述產品放置槽的兩側分別設置有一用于固定產品的活動壓塊，所述產品放置槽的一端設置有用于抵推產品的可移動推塊組件，所述可移動推塊組件與一推拉計相適配，并在所述推拉計的推動下作直線運動。

2.根據權利要求1所述的一種IC附著力測試機構，其特征在于，所述可移動推塊組件包括移動橫桿、推塊以及軌道支架，一對所述軌道支架分別固設于所述底座的兩側，所述移動橫桿的兩端分別與所述軌道支架的內側面上的軌道滑動配合，所述推塊固設于所述移動橫桿的下方。

3.根據權利要求2所述的一種IC附著力測試機構，其特征在于，至少所述推塊的底端部伸出兩根筋條而形成與產品的邊緣相匹配的半封閉結構。

4.根據權利要求2或3所述的一種IC附著力測試機構，其特征在于，所述推塊通過調節塊固定于所述移動橫桿上,所述調節塊上開設有腰型孔一，所述推塊與所述調節塊通過穿設于所述腰型孔一中的螺釘固定連接。

5.根據權利要求2或3所述的一種IC附著力測試機構，其特征在于，所述推拉計的推桿固定一推板，所述推板的一端伸出兩凸塊，所述移動橫桿通過搭置于所述凸塊上而實現與所述推拉計的配合。

6.根據權利要求1-3中任一項所述的一種IC附著力測試機構，其特征在于，所述活動壓塊上設置有一腰型孔二，所述活動壓塊與所述底座通過穿設于所述腰型孔二中的螺釘固定連接。