[實用新型]集成電路IC測試與視覺檢測一體機有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201520289748.8 | 申請日: | 2015-05-07 |
| 公開(公告)號: | CN204892396U | 公開(公告)日: | 2015-12-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 梁大明 | 申請(專利權(quán))人: | 上海中藝自動化系統(tǒng)有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/34 | 分類號: | B07C5/34;B07C5/38 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 200233 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成電路 ic 測試 視覺 檢測 一體機 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及集成電路IC的成品測試和視覺系統(tǒng)檢測,尤其涉及將集成電路測試分選元素中加入了視覺檢測模塊,實現(xiàn)了測試與視覺檢測合二為一的一體機。
背景技術(shù)
目前集成電路封裝測試行業(yè)中所使用的集成電路IC分選機,主要有測試分選和視覺檢測分選兩種不同的形式來實現(xiàn)的。
集成電路IC測試分選機(如附圖1),待測IC在料管操作臺中整齊疊放,由料管翻斗旋轉(zhuǎn)一定的角度將IC逐顆倒入輸入長導(dǎo)軌,由上緩存導(dǎo)軌將IC分入測試位進行測試,測試好的IC經(jīng)下緩存導(dǎo)軌由分料梭軌道將有缺陷IC分入輸出reject,而測試完好的IC繼續(xù)向下滑,經(jīng)過輸出長導(dǎo)軌將IC自動輸出到料管內(nèi)。
集成電路IC視覺檢測分選機(如附圖2),是待測IC在料管操作臺中整齊疊放,由料管翻斗旋轉(zhuǎn)一定的角度將IC逐顆倒入輸入長導(dǎo)軌,從而進入2D、3D視覺檢測位檢測字符、方向和引腳等,視覺檢測好的IC由分料梭軌道將有缺陷IC分入輸出reject,而測試完好的IC繼續(xù)向下滑,經(jīng)過輸出長導(dǎo)軌將IC自動輸出到料管內(nèi)。
以上這兩種形式的分選機雖然能夠?qū)崿F(xiàn)測試和視覺檢查功能,但是兩臺設(shè)備的成本比較高,操作兩種設(shè)備要求的人力成本及時間成本都相應(yīng)的較高。
發(fā)明內(nèi)容
針對以上所述技術(shù)的不足,本實用新型的目的在于提供將集成電路IC測試分選機與視覺檢查系統(tǒng)相結(jié)合的一體機。
實現(xiàn)本實用新型的技術(shù)方案如下:
集成電路IC測試與視覺檢測一體機,包括:料管操作臺、料管翻斗、輸入長導(dǎo)軌、上緩存導(dǎo)軌、測試位、下緩存導(dǎo)軌、測試分料梭、輸出reject、2D、3D視覺檢測位、視覺檢測分料梭、輸出長導(dǎo)軌、視覺輸出reject、自動輸出操作臺。所述的料管操作臺置于頂部,料管翻斗旋轉(zhuǎn)135°與輸入長導(dǎo)軌接軌,導(dǎo)軌基準面為同一平面,上緩存導(dǎo)軌直接連接在其下端,測試位與下緩存導(dǎo)軌緊密連接在下端,測試分料梭連接在下緩存導(dǎo)軌下端,輸出reject連接在測試分料梭右下方,2D、3D視覺檢測位緊跟測試分料梭下方,視覺檢測分料梭、輸出長導(dǎo)軌依次連接在2D、3D視覺檢測位下端,視覺輸出reject在視覺檢測分料梭左下方,自動輸出操作臺直接連接輸出長導(dǎo)軌;集成電路IC在測試位測試完成后,經(jīng)下緩存導(dǎo)軌由測試分料梭將IC分入2D、3D視覺檢測位,在此位置對IC進行字符、方向、引腳等兩維三維的視覺檢測,即先測試后視覺檢測;待測IC在料管操作臺中整齊疊放,由料管翻斗旋轉(zhuǎn)135°將IC逐顆倒入輸入長導(dǎo)軌,由上緩存導(dǎo)軌將IC分入測試位進行測試,測試好的IC經(jīng)下緩存導(dǎo)軌由測試分料梭將有缺陷IC分入輸出reject,而測試完好的IC繼續(xù)向下滑,進入2D、3D視覺檢測位,由2D、3D相機對IC進行視覺檢查,視覺檢查完成后,再由視覺檢測分料梭將字符或引腳有缺陷IC分入視覺輸出reject,而視覺檢測完好的IC繼續(xù)向下滑,經(jīng)過輸出長導(dǎo)軌,由自動輸出操作臺將測試及視覺檢測都完好的IC自動輸出到料管中。
本實用新型實現(xiàn)了集成電路IC測試和視覺檢測合二為一,從而結(jié)束了過去IC必須先經(jīng)過測試再做視覺檢測的分選方式,對封裝測試工廠來說,采購成本節(jié)省了40-50%,人工成本節(jié)省了50%,同樣也節(jié)省了時間。
附圖說明
圖1是已有技術(shù)集成電路IC測試分選機結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是已有技術(shù)集成電路IC視覺檢測分選機結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是本實用新型結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4是本實用新型視覺檢測局部結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中標號說明:
1—料管操作臺2—料管翻斗3—輸入長導(dǎo)軌4—上緩存導(dǎo)軌5—測試位6—下緩存導(dǎo)軌7—測試分料梭8—輸出reject
9—2D、3D視覺檢測10—視覺檢測分料梭11—輸出長導(dǎo)軌
12—視覺輸出reject13—自動輸出操作臺。
具體實施方式
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