[實用新型]集成電路IC測試與視覺檢測一體機

有效

• 申請號: 201520289748.8
• 申請日: 2015-05-07
• 公開（公告）號: CN204892396U
• 公開（公告）日: 2015-12-23
• 發明（設計）人: 梁大明
• 申請（專利權）人: 上海中藝自動化系統有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/38
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.集成電路IC測試與視覺檢測一體機，包括：料管操作臺、料管翻斗、輸入長導軌、上緩存導軌、測試位、下緩存導軌、測試分料梭、輸出reject、2D、3D視覺檢測位、視覺檢測分料梭、輸出長導軌、視覺輸出reject、自動輸出操作臺，其特證在于：所述的料管操作臺置于頂部，料管翻斗旋轉135°與輸入長導軌接軌，導軌基準面為同一平面，上緩存導軌直接連接在其下端，測試位與下緩存導軌緊密連接在下端，測試分料梭連接在下緩存導軌下端，輸出reject連接在測試分料梭右下方，2D、3D視覺檢測位緊跟測試分料梭下方，視覺檢測分料梭、輸出長導軌依次連接在2D、3D視覺檢測位下端，視覺輸出reject在視覺檢測分料梭左下方，自動輸出操作臺直接連接輸出長導軌。

2.根據權利要求1所述的集成電路IC測試與視覺檢測一體機，其特證在于：所述的集成電路IC在測試位測試完成后，經下緩存導軌由測試分料梭將IC分入2D、3D視覺檢測位，在此位置對IC進行字符、方向、引腳兩維三維的視覺檢測，即先測試后視覺檢測，待測IC在料管操作臺中整齊疊放，由料管翻斗旋轉135°將IC逐顆倒入輸入長導軌，由上緩存導軌將IC分入測試位進行測試。