[實用新型]一種用高溫測試晶體管異常的裝置有效

申請號：	201520196036.1	申請日：	2015-04-02
公開（公告）號：	CN204558425U	公開（公告）日：	2015-08-12
發明（設計）人：	陳長貴	申請（專利權）人：	泰州海天半導體有限公司
主分類號：	H01L21/66	分類號：	H01L21/66
代理公司：	北京風雅頌專利代理有限公司 11403	代理人：	田欣欣;李雪花
地址：	225300 江蘇省泰***	國省代碼：	江蘇;32
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種高溫測試晶體管異常裝置
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【權利要求書】：

1.一種用高溫測試晶體管異常的裝置，是由震盤、測試導軌、加熱棒、溫控儀、連接導線、斜管、組合箱、傳動箱、轉動軸、工作臺、底座和支架組成，其特征在于：所述的支架連接底座的兩端，工作臺連接支架上方，組合箱連接底座上方，轉動軸連接組合箱與工作臺，斜管連接轉動軸，溫控儀連接工作臺右邊，震盤連接溫控儀上方，測試導軌的一端連接震盤，另一端連接加熱棒，加熱棒的右側連接傳動箱，加熱棒通過連接導線與溫控儀連接。

2.根據權利要求1所述的一種用高溫測試晶體管異常的裝置，其特征在于：所述的斜管與轉動軸的夾角為30度。

3.根據權利要求1所述的一種用高溫測試晶體管異常的裝置，其特征在于：所述的加熱棒采用恒定功率600W。

4.根據權利要求1所述的一種用高溫測試晶體管異常的裝置，其特征在于：所述的組合箱內部劃分了多個與晶體管大小相匹配的放置格，每個放置格內部均設置有海綿墊。

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