[實(shí)用新型]一種IC卡封裝裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201520147052.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-03-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN204391065U | 公開(公告)日: | 2015-06-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 羅長(zhǎng)兵;陳晉杰;高強(qiáng);劉源海 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鴻博股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67 |
| 代理公司: | 福州市景弘專利代理事務(wù)所(普通合伙) 35219 | 代理人: | 林祥翔;呂元輝 |
| 地址: | 350002 福建*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 ic 封裝 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及IC卡生產(chǎn)加工領(lǐng)域,尤其涉及一種IC卡封裝裝置。
背景技術(shù)
IC卡自推廣以來就得到了迅速普及,截至目前IC卡的發(fā)卡量已經(jīng)突破10億張,占新增銀行卡發(fā)行總量的八成以上。為了進(jìn)一步提高金融IC卡芯片的使用率,降低偽卡風(fēng)險(xiǎn),根據(jù)央行部署,自2015年1月1日起IC卡將全面取代磁條卡。在此背景下,未來幾年里,IC卡的需求量將持續(xù)走高,對(duì)IC卡的生產(chǎn)加工具有廣闊的市場(chǎng)前景。
在IC生產(chǎn)加工過程中,對(duì)IC卡進(jìn)行封裝就是其中的一個(gè)重要環(huán)節(jié),現(xiàn)有的IC卡一般包括金融IC卡芯片以及塑料卡基,所謂封裝就是將金融IC卡芯片嵌合進(jìn)塑料卡基的卡體內(nèi),使之形成一個(gè)整體。對(duì)于IC卡的封裝,通常采用封裝機(jī)或手工來完成。采用手工封裝的方式,不僅生產(chǎn)效率低下,且封裝后的IC卡的質(zhì)量也無法得到保證,存在著諸多問題。而對(duì)于用封裝機(jī)進(jìn)行封裝IC卡,通常是先將IC卡的塑料卡基使用高溫軟化,而后在高壓條件下將IC卡芯片嵌合進(jìn)塑料卡基的卡體內(nèi),并在塑料卡基的卡體與IC卡芯片接觸部分使用軟化膠進(jìn)行粘接,從而完成對(duì)IC卡的封裝。由于封裝過程中使用了高溫和高壓,在將IC卡芯片嵌合進(jìn)塑料卡基的卡體內(nèi)過程中,由于塑料卡基已經(jīng)軟化,容易發(fā)生收縮變形,導(dǎo)致封裝后的IC卡的芯片背面出現(xiàn)明顯的收縮痕跡,嚴(yán)重影響了卡面的美觀程度,更有甚者,如果形變量較大,將導(dǎo)致封裝后的IC卡的芯片背面明顯凸起,影響IC卡的正常使用,產(chǎn)生廢卡。
因而,如何在將IC卡芯片嵌合進(jìn)塑料卡基的卡體內(nèi)過程中,使得塑料卡基的卡體不發(fā)生收縮形變,進(jìn)而使得封裝后的IC卡芯片背面一側(cè)保持光滑平整,從而不影響IC卡的整體感官程度是IC卡生產(chǎn)加工領(lǐng)域一個(gè)亟需解決的問題。
實(shí)用新型內(nèi)容
基于上述原因,需要提供一種IC卡封裝的技術(shù)方案,用以解決在將IC卡芯片嵌合進(jìn)塑料卡基的卡體內(nèi)過程中,塑料卡基由于軟化,發(fā)生收縮變形,導(dǎo)致封裝后的IC卡的芯片背面出現(xiàn)明顯的收縮痕跡,嚴(yán)重影響了卡面的美觀程度,進(jìn)而帶給用戶不良感官體驗(yàn)的問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,發(fā)明人提供一種IC卡封裝裝置,用于封裝IC卡芯片和塑料卡基,其特征在于,所述IC卡封裝裝置包括傳送裝置、動(dòng)力裝置、封裝平臺(tái)、熱壓裝置、冷壓裝置與負(fù)壓裝置;
所述封裝平臺(tái)上設(shè)置有與IC卡大小相適配的卡槽,卡槽底部設(shè)置有吸附孔隙,所述傳送裝置帶動(dòng)封裝平臺(tái)運(yùn)動(dòng),所述熱壓裝置與冷壓裝置沿封裝平臺(tái)運(yùn)動(dòng)方向順序設(shè)置;
所述熱壓裝置包括熱壓頭,熱壓頭位于封裝平臺(tái)的上方,熱壓頭中設(shè)置有加熱裝置,所述加熱裝置用于軟化IC卡的塑料卡基,所述熱壓頭與動(dòng)力裝置傳動(dòng)連接,并驅(qū)動(dòng)熱壓頭向封裝平臺(tái)方向往復(fù)運(yùn)動(dòng),以熱壓卡槽中的IC卡;
所述冷壓裝置包括冷壓頭,冷壓頭位于封裝平臺(tái)上方,所述冷壓頭與動(dòng)力裝置傳動(dòng)連接,并驅(qū)動(dòng)冷壓頭向封裝平臺(tái)方向往復(fù)運(yùn)動(dòng),以冷壓卡槽中的IC卡;
所述負(fù)壓裝置與吸附空隙連通,吸附空隙以負(fù)壓吸附位于冷壓頭下方的封裝平臺(tái)的卡槽上的IC卡的塑料卡基。
進(jìn)一步地,所述熱壓頭的數(shù)量為兩個(gè),包括第一熱壓頭和第二熱壓頭;所述冷壓頭的數(shù)量為兩個(gè),包括第一冷壓頭和第二冷壓頭;所述第一熱壓頭、第二熱壓頭、第一冷壓頭與第二冷壓頭沿封裝平臺(tái)運(yùn)動(dòng)方向設(shè)置。
進(jìn)一步地,所述吸附孔隙的數(shù)量為兩個(gè)以上,且均勻分布于卡槽的底面。
進(jìn)一步地,所述吸附孔隙的形狀為圓形,橢圓形或長(zhǎng)條形。
進(jìn)一步地,所述吸附孔隙的形狀為圓形,吸附孔隙的直徑為0到1毫米,相鄰的吸附孔隙之間圓心的距離為2.5到3毫米。
進(jìn)一步地,所述卡槽底部在IC卡的塑料卡基對(duì)應(yīng)IC卡芯片的位置設(shè)置有吸附孔隙。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





