[實用新型]芯片自動檢測及封裝生產線有效
| 申請號: | 201520119838.2 | 申請日: | 2015-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN204424220U | 公開(公告)日: | 2015-06-24 |
| 發明(設計)人: | 易申;錢寶龍 | 申請(專利權)人: | 興化市華宇電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L21/683;H01L21/677 |
| 代理公司: | 南京正聯知識產權代理有限公司 32243 | 代理人: | 郭俊玲 |
| 地址: | 225714 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 芯片 自動檢測 封裝 生產線 | ||
技術領域
本實用新型涉及芯片制造技術領域,特別是涉及芯片自動檢測及封裝生產線。?
背景技術
芯片制作完整過程包括芯片設計、晶片制作、封裝制作、成本測試等幾個環節,其中晶片片制作過程尤為的復雜。
首先是芯片設計,根據設計的需求,生成的“圖樣”,其次是晶片的制作:選取芯片的原料晶圓,接著是將些純硅制成硅晶棒,成為制造集成電路的石英半導體的材料,將其切片就是芯片制作具體需要的晶圓。晶圓越薄,成產的成本越低,但對工藝就要求的越高,之后便是晶圓涂膜,以提高其抵抗氧化以及耐溫能力,其材料為光阻的一種,晶圓光刻顯影、蝕刻、攙加雜質、晶圓測試。最后是封裝、測試和包裝。
也就是說芯片在制造快完成時,需要進行其電特性測試,并進行封裝,現有的芯片在進行該工藝步驟時,生產廠家一般采用流水線式檢測裝置對芯片進行電特性檢測,首先是使用紅外檢測器對其進行外觀檢測,之后才是電流、頻率、電容等電氣特性的檢測,檢測完成后進行封裝,得到芯片成品。現有的芯片檢測未對芯片進行整理,直接進行檢測,由于芯片的放置方位不一樣,會造成芯片紅外檢測出現誤差,需要二次返工進行檢測。并且需要人工確認,自動化程度不高,人力成本較大。
實用新型內容
為了克服上述現有技術的不足,本實用新型提供了芯片自動檢測及封裝生產線,其目的在于實現芯片制造完成之后的流水線生產的自動檢測,以及檢測完成之后的自動封裝,并其高其自動檢測的精準程度及芯片質量,避免二次返工,節省人工成本。?
本實用新型所采用的技術方案是:芯片自動檢測及封裝生產線,包括芯片傳動裝置,芯片傳動裝置包括連接在中心部位的柱狀的抽氣泵,抽氣泵外還套有轉盤,轉盤繞抽氣泵的豎直軸向做圓周運動,抽氣泵上與轉盤連接部位上還設置有環形槽口,轉盤上位于環形槽口位置處還連接有若干個抽氣裝置;每一個抽氣裝置上設置有一個吸嘴,每一個吸嘴在抽氣泵的驅動下吸氣或者放下一個芯片;而轉盤還連接有動力源,動力源驅動轉盤帶動抽氣裝置轉動,從而自動移動一個芯片;芯片傳動裝置的周圍分別依次連接有自動上料工位、結構尺寸檢測工位、電流檢測工位、電容檢測工位、封裝工位,并上述工位和傳動裝置均連接微電腦控制裝置。?本實用新型的自動檢測及封裝生產線,采用一個柱狀抽氣泵為連接在其上的若干個抽氣裝置提供負壓,從而使得抽氣裝置能夠成功地自動吸取或者放下芯片,另外,本申請還在其上連接了轉盤,以帶動抽氣裝置轉動,從帶動吸附在吸嘴上的芯片轉動至不同的工位進行檢測,實現芯片的逐一檢測,從而提高芯片的檢測精度和芯片質量,并且同時實現了其自動化移動,提高了檢測效率,降低了人工成本,具有較好的市場應用前景。
進一步地,結構尺寸檢測工位、電流檢測工位、電容檢測工位上分別設有一個廢品剔除裝置,對不符合上述檢測工位的芯片進行自動剔除,進一步提高其自動化程度。廢品剔除裝置也連接在微電腦控制裝置,自動化程度進一步得到提升。
更進一步地,結構尺寸檢測工位為紅外檢測或者三維檢測,以便對芯片進行彎角或者變形等的結構尺寸上的自動檢測,提高檢測效率。
再進一步地,動力源為氣缸、電機或者液壓泵,為傳動裝置提供轉盤轉動提供足夠的動力。?
與現有技術相比,本實用新型的有益效果是:本實用新型的自動檢測及封裝生產線,采用一個柱狀抽氣泵為連接在其上的若干個抽氣裝置提供負壓,從而使得抽氣裝置能夠成功地自動吸取或者放下芯片,另外,本申請還在其上連接了轉盤,以帶動抽氣裝置轉動,從帶動吸附在吸嘴上的芯片轉動至不同的工位進行檢測,實現芯片的逐一檢測,從而提高芯片的檢測精度和芯片質量,并且同時實現了其自動化移動,提高了檢測效率,降低了人工成本,具有較好的市場應用前景。
本實用新型實現了芯片制造完成之后的流水線生產的自動檢測,以及檢測完成之后的自動封裝,并其高了其自動檢測的精準程度及芯片質量,避免了二次返工,節省了?人工成本。
附圖說明
圖1為芯片自動檢測及封裝生產線的結構示意圖;
圖2為該生產線的封裝裝置結構示意圖;
圖3為圖2中A處的詳細結構示意圖;
圖4為圖2中B處的詳細結構示意圖。
具體實施方式
為了加深對本實用新型的理解,下面結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明,該實施例僅用于解釋本實用新型,并不對本實用新型的保護范圍構成限定。?
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





