[實用新型]芯片檢測用次品自動剔除裝置有效

申請號：	201520119741.1	申請日：	2015-02-28
公開（公告）號：	CN204424228U	公開（公告）日：	2015-06-24
發明（設計）人：	易申;錢寶龍	申請（專利權）人：	興化市華宇電子有限公司
主分類號：	H01L21/67	分類號：	H01L21/67
代理公司：	南京正聯知識產權代理有限公司 32243	代理人：	郭俊玲
地址：	225714 ***	國省代碼：	江蘇;32
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摘要：
搜索關鍵詞：	芯片檢測次品自動剔除裝置
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【權利要求書】：

1.芯片檢測用次品自動剔除裝置，連接在芯片檢測臺（1）上方的吸料管（2）周圍，其特征在于：包括固定在芯片檢測臺（1）上的支架（3），所述支架（3）包括左、右連接部（31，32），所述左連接部（31）和右連接部（32）分別延伸至吸料管（2）的兩側，并其上分別設置有左、右安裝孔（33,34）；所述左安裝孔（33）和右安裝孔（34）相對設置；所述芯片檢測臺（1）上還設有芯片放置臺（7），所述芯片放置臺（7）位于吸料管（2）的正下方位置，并沿吸料管（2）的方向突起；所述左安裝孔（33）和右安裝孔（34）的中心位置處正對芯片放置臺（7）的頂部位置，并且所述左安裝孔（33）內連接吹氣裝置（4），所述右安裝孔（34）內連接收集管（5）。

2.?根據權利要求1所述的芯片檢測用次品自動剔除裝置，其特征在于：所述收集管（5）底部位置處還連接有次品收集箱（6）。

3.根據權利要求1所述的芯片檢測用次品自動剔除裝置，其特征在于：所述芯片檢測臺（1）還包括微電腦控制裝置，而所述吹氣裝置（4）連接在微電腦控制裝置上，并有微電腦控制裝置控制其工作狀態。

4.根據權利要求1或3所述的芯片檢測用次品自動剔除裝置，其特征在于：所述吹氣裝置（4）的吹氣口（41）正對收集管（5）的中心位置，并所述吹氣口（41）的直徑小于收集管（5）的直徑。

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