[實用新型]交流電參量監測老化測試系統及成品燈具老化測試系統有效
| 申請號: | 201520077887.4 | 申請日: | 2015-02-02 |
| 公開(公告)號: | CN204439749U | 公開(公告)日: | 2015-07-01 |
| 發明(設計)人: | 石利軍;吳濤;黃明雄;張軍;龐成;龐國環 | 申請(專利權)人: | 深圳市中科源電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00;G01R31/44 |
| 代理公司: | 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411 | 代理人: | 曾少麗 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市光明新區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 交流電 參量 監測 老化 測試 系統 成品 燈具 | ||
技術領域
本實用新型涉及老化測試領域,特別涉及一種交流電參量監測老化測試系統及成品燈具老化測試系統。
背景技術
目前市場上常見的電源老化測試系統都是監控被測產品的輸出參數,如電壓、電流等,卻無法監測被測產品的交流輸入參數,也無法測算被測產品的轉換效率,因此對產品老化狀態的監測并不全面。隨著生產企業對產品品質要求的不斷提升,對生產測試工藝的要求也會隨之越來越高,希望老化測試系統的檢測手段更全面,不良品檢出率更高,以防止不良品或有品質隱患的產品流入市場。
目前的老化測試系統主要問題如下:無法監測被測產品的輸入功率,含輸入電壓和電流值;無法監測被測產品的功率因數(即PF值);無法測算被測產品的轉換效率。
實用新型內容
本實用新型要解決的技術問題在于,針對現有技術的上述無法監測被測產品的交流輸入參數的缺陷,提供一種能同時監測被測產品的交流輸入參數和輸出參數的交流電參量監測老化測試系統及成品燈具老化測試系統。
本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是:構造一種交流電參量監測老化測試系統,包括交流電源、電參量采集模塊、多個電子負載模塊、光電隔離器和上位機,所述交流電源經過所述電參量采集模塊后分別向多個被測產品進行供電,所述電參量采集模塊通過所述光電隔離器與所述上位機進行通信,將所述多個被測產品的交流輸入參數傳送到所述上位機,所述多個電子負載模塊根據所述上位機下達的指令對所述多個被測產品進行拉載、并將所述多個被測產品的輸出參數傳送到所述上位機,所述上位機結合所述輸入參數和輸出參數進行分析并將分析結果進行顯示;所述電參量采集模塊設有多個通道。
在本實用新型所述的交流電參量監測老化測試系統中,所述光電隔離器包括用于將RS485串行通信接口轉換成RS232串行通信接口的接口轉換模塊。
在本實用新型所述的交流電參量監測老化測試系統中,所述電參量采集模塊和電子負載模塊均設有RS485接口,所述RS485接口與所述接口轉換模塊連接。
在本實用新型所述的交流電參量監測老化測試系統中,所述交流電參量監測老化測試系統還包括電源適配器,所述電源適配器的輸入端與所述交流電源連接,所述電參量采集模塊和電子負載模塊均設有供電接口,所述電源適配器的輸出端分別與所述電參量采集模塊的供電接口和電子負載模塊的供電接口連接。
在本實用新型所述的交流電參量監測老化測試系統中,所述電參量采集模塊包括多個計量單元和MCU,所述計量單元對每個對應通道的交流電壓、電流、相位及相頻率進行測量并通過SPI與所述MCU進行通信,所述MCU對每個通道的數據進行處理后通過所述接口轉換模塊上傳到所述上位機進行分析處理。
在本實用新型所述的交流電參量監測老化測試系統中,所述電參量采集模塊還包括地址撥碼開關,所述地址撥碼開關與所述MCU連接。
本實用新型還涉及一種成品燈具老化測試系統,包括電網供電單元、電源控制單元、電參量采集模塊、光電隔離器、電源適配器、交流電源、上位機和多個被測產品,所述電網供電單元經過所述電源控制單元的控制后輸出指定的電壓到所述電參量采集模塊,再分別輸出供給所述多個被測產品,所述電源控制單元還通過所述光電隔離器與所述上位機通信并接受所述上位機的控制,所述電參量采集模塊還通過所述光電隔離器與所述上位機通信、將每個所述被測產品的交流輸入參數上傳給所述上位機,所述上位機根據設定的參數對所述被測產品)的老化狀態進行分析并生成相應的報表與曲線圖;所述電源適配器的輸入端與所述交流電源連接,所述電源適配器的輸出端與所述電參量采集模塊連接,所述交流電源還與所述上位機連接;所述電參量采集模塊為上述電參量采集模塊中的任意一種。
實施本實用新型的交流電參量監測老化測試系統及成品燈具老化測試系統,具有以下有益效果:由于交流電源經過電參量采集模塊后分別向多個被測產品進行供電,電參量采集模塊通過光電隔離器與上位機進行通信,將多個被測產品的交流輸入參數傳送到上位機,多個電子負載模塊根據上位機下達的指令對多個被測產品進行拉載、并將多個被測產品的輸出參數傳送到上位機,上位機結合輸入參數和輸出參數進行分析并將分析結果進行顯示,所以其能同時監測被測產品的交流輸入參數和輸出參數。
附圖說明
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