[實(shí)用新型]交流電參量監(jiān)測(cè)老化測(cè)試系統(tǒng)及成品燈具老化測(cè)試系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201520077887.4 | 申請(qǐng)日: | 2015-02-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN204439749U | 公開(公告)日: | 2015-07-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 石利軍;吳濤;黃明雄;張軍;龐成;龐國環(huán) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市中科源電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R31/44 |
| 代理公司: | 北京聯(lián)瑞聯(lián)豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11411 | 代理人: | 曾少麗 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市光明新區(qū)*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 交流電 參量 監(jiān)測(cè) 老化 測(cè)試 系統(tǒng) 成品 燈具 | ||
1.一種交流電參量監(jiān)測(cè)老化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括交流電源、電參量采集模塊、多個(gè)電子負(fù)載模塊、光電隔離器和上位機(jī),所述交流電源經(jīng)過所述電參量采集模塊后分別向多個(gè)被測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行供電,所述電參量采集模塊通過所述光電隔離器與所述上位機(jī)進(jìn)行通信,將所述多個(gè)被測(cè)產(chǎn)品的交流輸入?yún)?shù)傳送到所述上位機(jī),所述多個(gè)電子負(fù)載模塊根據(jù)所述上位機(jī)下達(dá)的指令對(duì)所述多個(gè)被測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行拉載、并將所述多個(gè)被測(cè)產(chǎn)品的輸出參數(shù)傳送到所述上位機(jī),所述上位機(jī)結(jié)合所述輸入?yún)?shù)和輸出參數(shù)進(jìn)行分析并將分析結(jié)果進(jìn)行顯示;所述電參量采集模塊設(shè)有多個(gè)通道。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的交流電參量監(jiān)測(cè)老化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述光電隔離器包括用于將RS485串行通信接口轉(zhuǎn)換成RS232串行通信接口的接口轉(zhuǎn)換模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的交流電參量監(jiān)測(cè)老化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述電參量采集模塊和電子負(fù)載模塊均設(shè)有RS485接口,所述RS485接口與所述接口轉(zhuǎn)換模塊連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的交流電參量監(jiān)測(cè)老化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述交流電參量監(jiān)測(cè)老化測(cè)試系統(tǒng)還包括電源適配器,所述電源適配器的輸入端與所述交流電源連接,所述電參量采集模塊和電子負(fù)載模塊均設(shè)有供電接口,所述電源適配器的輸出端分別與所述電參量采集模塊的供電接口和電子負(fù)載模塊的供電接口連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的交流電參量監(jiān)測(cè)老化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述電參量采集模塊包括多個(gè)計(jì)量單元和MCU,所述計(jì)量單元對(duì)每個(gè)對(duì)應(yīng)通道的交流電壓、電流、相位及相頻率進(jìn)行測(cè)量并通過SPI與所述MCU進(jìn)行通信,所述MCU對(duì)每個(gè)通道的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后通過所述接口轉(zhuǎn)換模塊上傳到所述上位機(jī)進(jìn)行分析處理。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的交流電參量監(jiān)測(cè)老化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述電參量采集模塊還包括地址撥碼開關(guān),所述地址撥碼開關(guān)與所述MCU連接。
7.一種成品燈具老化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括電網(wǎng)供電單元、電源控制單元、電參量采集模塊、光電隔離器、電源適配器、交流電源、上位機(jī)和多個(gè)被測(cè)產(chǎn)品,所述電網(wǎng)供電單元經(jīng)過所述電源控制單元的控制后輸出指定的電壓到所述電參量采集模塊,再分別輸出供給所述多個(gè)被測(cè)產(chǎn)品,所述電源控制單元還通過所述光電隔離器與所述上位機(jī)通信并接受所述上位機(jī)的控制,所述電參量采集模塊還通過所述光電隔離器與所述上位機(jī)通信、將每個(gè)所述被測(cè)產(chǎn)品的交流輸入?yún)?shù)上傳給所述上位機(jī),所述上位機(jī)根據(jù)設(shè)定的參數(shù)對(duì)所述被測(cè)產(chǎn)品的老化狀態(tài)進(jìn)行分析并生成相應(yīng)的報(bào)表與曲線圖;所述電源適配器的輸入端與所述交流電源連接,所述電源適配器的輸出端與所述電參量采集模塊連接,所述交流電源還與所述上位機(jī)連接;所述電參量采集模塊為上述權(quán)利要求1至權(quán)利要求6中任意一項(xiàng)所述的電參量采集模塊。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
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G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
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