[發明專利]基于納米銀顆粒與碳化硅砂紙SERS基底的恩氟沙星檢測方法

有效

• 申請號: 201511026302.7
• 申請日: 2015-12-31
• 公開（公告）號: CN105606587B
• 公開（公告）日: 2018-09-28
• 發明（設計）人: 周駿;封昭;周露;陳棟
• 申請（專利權）人: 寧波大學
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65
• 代理公司: 寧波奧圣專利代理事務所(普通合伙) 33226
• 代理人: 周玨

1.一種基于納米銀顆粒與碳化硅砂紙SERS基底的恩氟沙星檢測方法，其特征在于結合納米銀顆粒與碳化硅砂紙SERS基底對恩氟沙星進行檢測，具體步驟如下：

步驟一：取銀納米粒子溶液注入離心管，然后對銀納米粒子溶液進行離心清洗，接著在離心清洗結束后去除上清液，保留沉淀在離心管底部的銀納米粒子，再將銀納米粒子沉積物懸浮于質量百分濃度為50％的乙醇溶液中，得到單分散的均勻銀納米粒子的懸浮溶液；

所述的步驟一中銀納米粒子溶液的制備過程為：a1、在室溫下取分析純的硝酸銀粉末，并溶解于去離子水中再攪拌均勻，得到質量百分濃度為0.009％～0.018％的硝酸銀溶液；然后對硝酸銀溶液進行攪拌的同時加熱至沸騰；a2、將分析純的檸檬酸鈉溶液逐滴加入到沸騰的硝酸銀溶液中，并持續攪拌得到檸檬酸鈉的質量百分比為0.03％～0.06％的混合溶液，直至沸騰的混合溶液的顏色變為灰綠色后，在室溫下冷卻，得到單分散的直徑為25～80納米的均勻銀納米粒子溶液；

步驟二：取步驟一中制備得到的單分散的均勻銀納米粒子的懸浮溶液，同時將純度大于或等于98％的恩氟沙星粉末配制成濃度為0.01～5毫克/升的恩氟沙星標準樣品溶液，然后將恩氟沙星標準樣品溶液加入到所取的單分散的均勻銀納米粒子的懸浮溶液中混合形成恩氟沙星與銀納米粒子的混合溶液，再對恩氟沙星與銀納米粒子的混合溶液進行超聲處理；

步驟三：取步驟二制備得到的恩氟沙星與銀納米粒子的混合溶液，并滴加到碳化硅砂紙SERS基底上，再在室溫下干燥，得到恩氟沙星的標準檢測基片；

步驟四：使激光器發射的激光經聚焦后垂直照射于恩氟沙星的標準檢測基片上，照射的激光經恩氟沙星的標準檢測基片反射后由拉曼光譜儀接收，拉曼光譜儀顯示出恩氟沙星的標準檢測基片的SERS光譜；

步驟五：實際檢測前，提取檢測物，并溶解檢測物得到待檢測樣品溶液；然后取步驟一中制備得到的單分散的均勻銀納米粒子的懸浮溶液；接著將制備的待檢測樣品溶液加入到所取的單分散的均勻銀納米粒子的懸浮溶液中混合形成恩氟沙星與銀納米粒子的混合溶液，再對恩氟沙星與銀納米粒子的混合溶液進行超聲處理；之后將經超聲處理后的恩氟沙星與銀納米粒子的混合溶液滴加到碳化硅砂紙SERS基底上，再在室溫下干燥，得到恩氟沙星的待檢測基片；

步驟六：實際檢測時，使激光器發射的激光經聚焦后垂直照射于恩氟沙星的待檢測基片上，照射的激光經恩氟沙星的待檢測基片反射后由拉曼光譜儀接收，拉曼光譜儀顯示出恩氟沙星的待檢測基片的SERS光譜；然后比對恩氟沙星的標準檢測基片的SERS光譜與恩氟沙星的待檢測基片的SERS光譜，如果恩氟沙星的待檢測基片的SERS光譜與恩氟沙星的標準檢測基片的SERS光譜相同，則表明恩氟沙星的待檢測基片中含有恩氟沙星，即表明檢測物中含有恩氟沙星；如果恩氟沙星的待檢測基片的SERS光譜與恩氟沙星的標準檢測基片的SERS光譜不相同，則表明恩氟沙星的待檢測基片中未含有恩氟沙星，即表明檢測物中未含有恩氟沙星；

所述的步驟三和所述的步驟五中碳化硅砂紙SERS基底的制備過程為：將形狀規則的碳化硅砂紙置于射頻磁控濺射系統中，并控制磁控濺射系統的工作壓力為0.1～1.4帕，濺射功率為50～150瓦，并在碳化硅砂紙上沉積厚度為的銀，得到以碳化硅砂紙為模板的碳化硅砂紙SERS基底，上述碳化硅砂紙的目數為240～5000目。

2.根據權利要求1所述的基于納米銀顆粒與碳化硅砂紙SERS基底的恩氟沙星檢測方法，其特征在于所述的步驟一中銀納米粒子溶液的所取量的范圍為100～500微升；所述的步驟一中乙醇溶液的所取量的范圍為25～500微升；所述的步驟二中恩氟沙星標準樣品溶液的所取量的范圍為25～150微升；所述的步驟三中恩氟沙星與銀納米粒子的混合溶液的所取量的范圍為25～50微升。

3.根據權利要求1或2所述的基于納米銀顆粒與碳化硅砂紙SERS基底的恩氟沙星檢測方法，其特征在于所述的步驟一中對銀納米粒子溶液進行離心清洗的轉速為5000～11000轉/分鐘、清洗時間為5～30分鐘。

4.根據權利要求3所述的基于納米銀顆粒與碳化硅砂紙SERS基底的恩氟沙星檢測方法，其特征在于所述的步驟二中對恩氟沙星與銀納米粒子的混合溶液進行超聲處理的處理時間為10～30分鐘。