[發明專利]一種硅控整流器在審
| 申請號: | 201510984780.2 | 申請日: | 2015-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN105448908A | 公開(公告)日: | 2016-03-30 |
| 發明(設計)人: | 王源;張立忠;何燕冬;張興 | 申請(專利權)人: | 北京大學 |
| 主分類號: | H01L27/02 | 分類號: | H01L27/02 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
| 地址: | 100871*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 整流器 | ||
1.一種硅控整流器,其特征在于,包括:P型襯底,所述P型襯底上從左到右依次設有第一N阱區、第二N阱區、第三N阱區、第四N阱區以及第五N阱區;
所述第一N阱區、所述第二N阱區、所述第三N阱區、所述第四N阱區以及所述第五N阱區依次連接;
其中,
在五個N阱區中有兩個相鄰的N阱區之間的導電區的長度可調。
2.根據權利要求1所述的硅控整流器,其特征在于,所述長度可調的導電區為任意兩個相鄰N阱區之間的導電區。
3.根據權利要求1所述的硅控整流器,其特征在于,所述第一N阱區的左右分別設有第一P+摻雜區和第一N+摻雜區;
所述第二N阱區的左右分別設有第二P+摻雜區和第二N+摻雜區;
所述第三N阱區的左右分別設有第三P+摻雜區和第三N+摻雜區;
所述第四N阱區的左右分別設有第四P+摻雜區和第四N+摻雜區;
所述第五N阱區的左右分別設有第五P+摻雜區和第五N+摻雜區;
其中,所述第一P+摻雜區設有漏電極,所述第五N+摻雜區設有第一源電極,所述第一源電極接地,所述漏電極為靜電輸入端VESD。
4.根據權利要求3所述的硅控整流器,其特征在于,還包括:第六P+摻雜區和第六N+摻雜區;
所述第六P+摻雜區和所述第六N+摻雜區分別設有第二源電極和第三源電極;
其中,所述第二源電極和所述第三源電極均接地。
5.根據權利要求3所述的硅控整流器,其特征在于,所述N+摻雜區用于注入N+摻雜。
6.根據權利要求3所述的硅控整流器,其特征在于,所述P+摻雜區用于注入P+摻雜。
7.根據權利要求4所述的硅控整流器,其特征在于,還包括:位于所述P型襯底表面的導電區;
所述導電區包括第一導電區、第二導電區、第三導電區和第四導電區;
所述第一導電區分別與所述第一N+摻雜區與所述第二P+摻雜區連接;
所述第二導電區分別與所述第二N+摻雜區與所述第三P+摻雜區連接;
所述第三導電區分別與所述第三N+摻雜區與所述第四P+摻雜區連接;
所述第四導電區分別與所述第四N+摻雜區與所述第五P+摻雜區連接。
8.根據權利要求7所述的硅控整流器,其特征在于,所述導電區為金屬導電區。
9.根據權利要求6所述的硅控整流器,其特征在于,所述金屬導電區的導電材料為銅。
10.根據權利要求1~9任一項所述的硅控整流器,其特征在于,所述N阱區用于注入N型摻雜。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





