[發(fā)明專利]一種新型柵結(jié)構(gòu)及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510969720.3 | 申請日: | 2015-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN105448967A | 公開(公告)日: | 2016-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊霏;鄭柳;王方方;朱韞暉;吳昊;王嘉銘 | 申請(專利權(quán))人: | 國網(wǎng)智能電網(wǎng)研究院;國家電網(wǎng)公司 |
| 主分類號: | H01L29/423 | 分類號: | H01L29/423;H01L21/28 |
| 代理公司: | 北京安博達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐國文 |
| 地址: | 102211 北京市昌平區(qū)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 新型 結(jié)構(gòu) 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導體技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種新型柵結(jié)構(gòu)及其制造方法。
背景技術(shù)
目前,半導體功率器件中的柵結(jié)構(gòu)通常采用單pad環(huán)周邊匯流條的設(shè)計,此結(jié)構(gòu)設(shè)計具有以下缺點:在器件開啟時柵電壓首先施加于柵pad上,再傳導到直接與柵pad相連的周邊元胞柵和匯流條上,柵電壓傳導到距離柵pad較遠的元胞柵上時通常產(chǎn)生較大的延遲,這種延遲會導致器件的開啟延遲,性能不穩(wěn)定,甚至會導致器件損壞。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種新型柵結(jié)構(gòu)及其制造方法,所述柵結(jié)構(gòu)的網(wǎng)狀匯流條有助于柵電壓的擴展,大大緩解由于柵電壓擴展延遲造成的距柵pad較遠的元胞開啟延遲的問題,有助于提高器件性能的穩(wěn)定性。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采取以下技術(shù)方案:
一種新型柵結(jié)構(gòu),所述柵結(jié)構(gòu)包括同平面設(shè)置的至少一個具有電極引線的柵pad區(qū)域(11),以柵pad區(qū)域(11)為中心的發(fā)射狀匯流條(12)和環(huán)狀匯流條(13),所述發(fā)射狀匯流條(12)和所述環(huán)狀匯流條(13)與周圍元胞柵相連。
所述的柵結(jié)構(gòu)的第一優(yōu)選技術(shù)方案,所述發(fā)射狀匯流條(12)和所述環(huán)狀匯流條(13)的交點處與周圍元胞柵相連。
所述的柵結(jié)構(gòu)的第二優(yōu)選技術(shù)方案,所述發(fā)射狀匯流條(12)的寬度為1~1000μm,數(shù)量為2~1000個。
所述的柵結(jié)構(gòu)的第三優(yōu)選技術(shù)方案,所述環(huán)狀匯流條(13)的寬度為1~1000μm,數(shù)量為2~1000個,所述環(huán)的直徑為1~100000μm。
所述的柵結(jié)構(gòu)的第四優(yōu)選技術(shù)方案,所述柵pad區(qū)域(11)為多晶硅、單金屬層或復合金屬層。
所述的柵結(jié)構(gòu)的第五優(yōu)選技術(shù)方案,所述發(fā)射狀匯流條(12)由多晶硅、單金屬層或復合金屬層制備而成。
所述的柵結(jié)構(gòu)的第六優(yōu)選技術(shù)方案,所述環(huán)狀匯流條(13)由多晶硅、單金屬層或復合金屬層制備而成。
所述的柵結(jié)構(gòu)的第七優(yōu)選技術(shù)方案,所述多晶硅為p型或n型的簡并摻雜多晶硅,所述金屬為選自Al、Ag、Cu、Ni、Ti和W中的一種或幾種組份的金屬。
一種所述柵結(jié)構(gòu)的制造方法包括如下步驟:
1)在同一圖層上繪制所述柵pad區(qū)域(11)、所述發(fā)射狀匯流條(12)和所述環(huán)狀匯流條(13)的版圖;
2)制備所述柵pad區(qū)域(11)、所述發(fā)射狀匯流條(12)和所述環(huán)狀匯流條(13)的多晶硅層,并對其進行p型或n型的簡并摻雜;
3)于所述柵pad區(qū)域(11)上制備電極引線,隔離所述發(fā)射狀匯流條(12)和所述環(huán)狀匯流條(13)與源電極或其他通流電極。
所述柵結(jié)構(gòu)的制造方法的第一優(yōu)選技術(shù)方案,所述步驟2)為沉積制備所述柵pad區(qū)域(11)、所述發(fā)射狀匯流條(12)和所述環(huán)狀匯流條(13)的單金屬或復合金屬層。
附圖說明
圖1:本發(fā)明的柵結(jié)構(gòu)示意圖;其中:11柵pad區(qū)域;12發(fā)射狀匯流條;13環(huán)狀匯流條。
具體實施方式
以下結(jié)合具體實施例及附圖,對本發(fā)明進一步詳細說明,為了清楚和簡要起見,實際的實施例并不局限于說明書中所描述的這些技術(shù)特征。然而,應(yīng)該理解的是,在改進任何一個所述實際實施例的過程中,多個具體實施例的決定必須是能夠?qū)崿F(xiàn)改進人員的特定目標,例如,遵從行業(yè)相關(guān)和商業(yè)相關(guān)的限制,所述限制隨著實施例的不同而變化。而且,應(yīng)該理解的是,前述改進的效果即使是非常復雜和耗時的,但是這對于知曉本發(fā)明益處的本領(lǐng)域技術(shù)人員來說仍然是常規(guī)技術(shù)手段。
實施例1
一種新型柵結(jié)構(gòu)包括一個柵pad區(qū)域11、由柵pad區(qū)域11發(fā)出的發(fā)射狀匯流條12、環(huán)繞柵pad區(qū)域11的環(huán)狀匯流條13,在發(fā)射狀匯流條12和環(huán)狀匯流條13的交點處與周圍元胞柵相連;所述發(fā)射狀匯流條的數(shù)量為8個,寬度為20μm;所述環(huán)狀匯流條的個數(shù)為2個,匯流條的寬度為20μm,距柵pad較近的環(huán)的直徑為800μm,距柵pad較遠的環(huán)的直徑為2000μm;結(jié)構(gòu)如示意圖1所示;所述柵pad區(qū)域11、發(fā)射狀匯流條12、環(huán)狀匯流條13由n型簡并摻雜多晶硅制備而成。
新型柵結(jié)構(gòu)的具體制造方法如下:
1)在同一圖層上繪制所述柵pad區(qū)域11、所述發(fā)射狀匯流條12和所述環(huán)狀匯流條13的版圖;
2)制備所述柵pad區(qū)域11、所述發(fā)射狀匯流條12和所述環(huán)狀匯流條13的多晶硅層,并對其進行n型的簡并摻雜;
3)于所述柵pad區(qū)域11上制備電極引線,隔離所述發(fā)射狀匯流條12和所述環(huán)狀匯流條13與源電極或其他通流電極。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的
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