[發明專利]一種非接觸智能卡測試裝置有效
| 申請號： | 201510967077.0 | 申請日： | 2015-12-21 |
| 公開（公告）號： | CN105629099B | 公開（公告）日： | 2019-06-07 |
| 發明（設計）人： | 劉碩;雷黎麗 | 申請（專利權）人： | 大唐微電子技術有限公司;大唐半導體設計有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262 | 代理人： | 胡艷華;栗若木 |
| 地址： | 100094*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 接觸 智能卡 測試 裝置 | ||
1.一種非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，包括：成品臺、速度調節裝置、角度調節裝置、高度調節裝置和讀卡器組合，其中，
所述成品臺，用于通過更換臺面支持非接觸智能卡產品的模塊形態及卡片形態的產品測試，成品臺下方放置各型號或各類非接觸讀卡器；
所述高度調節裝置、角度調節裝置、速度調節裝置，分別用于對所述成品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調節；
所述讀卡器組合，包括純非接讀卡器、雙界面讀卡器和支持非接觸智能卡讀取的機具，用于讀取模塊形態或卡片形態的非接觸智能卡；
通過組合控制所述高度調節裝置、角度調節裝置和速度調節裝置，實現對所述成品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調節。
2.根據權利要求1所述的非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，
測試模塊類非接觸智能卡時，將卷帶狀的IC卡模塊放置在測試裝置上，支持32個模塊同測頭，測試頭的另一端連接標準天線板，天線板放置在成品臺上；
測試卡片類非接觸智能卡時，將卡片類非接觸產品放置在成品臺上。
3.根據權利要求1所述的非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，非接讀卡器包括單面非接讀卡器或雙面非接讀卡器。
4.根據權利要求1～3中任一項所述的非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，所述非接觸智能卡測試裝置采用絲杠傳動、齒輪齒條傳動，通過多軸聯動以及程控裝置，實現可編程控制的自動測試。
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