[發明專利]一種分柵式雙位存儲單元閃存的數據讀取方法有效
| 申請號： | 201510939651.1 | 申請日： | 2015-12-15 |
| 公開（公告）號： | CN105575432B | 公開（公告）日： | 2019-08-23 |
| 發明（設計）人： | 高超 | 申請（專利權）人： | 上海華虹宏力半導體制造有限公司 |
| 主分類號： | G11C16/26 | 分類號： | G11C16/26 |
| 代理公司： | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅 |
| 地址： | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 分柵式雙位 存儲 單元 閃存 數據 讀取 方法 | ||
1.一種分柵式雙位存儲單元閃存的數據讀取方法，其特征在于，包括：
在所述分柵式雙位存儲單元閃存的每一行上選取多個分柵式雙位存儲單元作為每一行的參考單元，并將每個參考單元的狀態統一設置為“10”，而每一行上剩余的分柵式雙位存儲單元作為數據單元，并已存儲有數據；
對所讀取的數據單元和與其同一行的參考單元施加一相同的讀取電壓；
將所述同一行上的每個參考單元在所述讀取電壓下產生的電流乘以固定比例作為參考電流；
將所讀取的數據單元在所述讀取電壓下產生的電流與其同一行上的多個參考單元的參考電流的平均值進行比較；
根據所述比較的結果判斷出所讀取的數據單元中存儲的數據。
2.如權利要求1所述的數據讀取方法，其特征在于，在所述分柵式雙位存儲單元閃存的每一行上選取若干個固定的分柵式雙位存儲單元作為每一行上的參考單元。
3.如權利要求1所述的數據讀取方法，其特征在于，每一行上的參考單元均勻分布。
4.如權利要求1或3所述的數據讀取方法，其特征在于，進行所述比較之前，為每個數據單元選取的用于計算所述平均值的參考單元的數量大于等于4。
5.如權利要求1所述的數據讀取方法，其特征在于，所述固定比例為10％～60％。
6.如權利要求1或5所述的數據讀取方法，其特征在于，所述分柵式雙位存儲單元閃存在出廠前的測試期間時，基于所述讀取的數據單元的狀態不同，所述固定比例為10％～60％；所述分柵式雙位存儲單元閃存在出廠后的使用階段，所述固定比例為20％～40％。
7.如權利要求1所述的數據讀取方法，其特征在于，還包括：在每次分柵式雙位存儲單元閃存按塊擦除或者編程清除數據或者重新寫入新的數據之后，均對每個所述參考單元進行重新編程，將其重新置為10狀態。
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