[發明專利]一種數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統及調試方法

有效

• 申請號: 201510905770.5
• 申請日: 2015-12-09
• 公開（公告）號: CN105467242B
• 公開（公告）日: 2018-10-02
• 發明（設計）人: 張宇恒
• 申請（專利權）人: 王喜立
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R23/02
• 代理公司: 石家莊科誠專利事務所(普通合伙) 13113
• 代理人: 張紅衛

本發明公開了一種數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統及調試方法，其中生產調測系統包括高低溫試驗箱、至少一組用于待測晶體振蕩器放置并引出每個待測晶體振蕩器的相關信號的待測產品載板、用于測量待測晶體振蕩器輸出頻率并作為系統控制中心的測頻及主控模塊、外部控制中心；所述待測產品載板設于高低溫試驗箱內，包括至少一個用于放置待測晶體振蕩器的放置板，以及一個用于選通放置有待測晶體振蕩器放置板的選通模塊，所述選通模塊接收測頻及主控模塊的控制信號選通每組待測產品載板中對應的放置板，所述測頻及主控模塊與外部控制中心相通信。本發明用于數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測，系統結構簡單、成本低，且測試效率較高，測試結果精準。本發明適用于對任意晶體振蕩器進行測試。

技術領域

本發明屬于晶體振蕩器測試領域，涉及一種晶體振蕩器的生產調試系統，具體地說是一種數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統，本發明還提供了上述生產調測系統的調試方法。

背景技術

數字溫度補償晶體振蕩器是一種高精度、高穩定度的頻率信號產生器件，由于溫度補償過程數字化，在生產過程需要進行頻繁的頻率測量和大量的數據操作。目前的生產設備主要采用輪流調測的生產方式，使用頻率計數器完成頻率測量，每次只能對一個或幾個產品同時進行調測，這種調測生產方式嚴重制約了生產效率。為了解決目前晶體振蕩器調測生產效率較低的問題，需要開發更高效的生產調測設備。例如，公開號為CN101609126B，名稱為“溫度補償晶體振蕩器的自動測試系統”的中國專利就提供了一種溫度補償晶體振蕩器的自動測試系統，但該系統具有以下的缺陷：

（1）晶振選通模塊由多個解碼器和多路選擇開關構成，工作時計算機只能依靠晶振選通模塊選擇一個待測晶體振蕩器依靠頻率計數器對其完成頻率測試，這種使用選通模塊輪流選中產品進行測試的方法，生產效率低下，嚴重制約著產量的提高；

（2）晶振選通模塊放置在溫箱內，在實際生產過程中，溫箱內的溫度在高低溫間不斷循環，大大增加了選通模塊的損壞率，會對系統的使用周期及生產過程產生影響；

（3）以頻標為基準，使用頻率計數器對輸出信號進行頻率測量，頻率計數器只能實時的對一路輸入信號進行頻率測量，這種頻率的測量方法成本較大、效率較低，也是限制生產效率提高的一個重要因素；

（4）數據傳輸模塊將數字信號轉換成模擬電平信號，模擬電平信號容易受到周圍各種電平信號、磁場等干擾，會對補償效果產生影響，且不適合數字溫度補償晶體振蕩器的調測生產；

（5）溫度控制單元為單片機，在工作時采用PID算法控制溫度的變化及穩定，在實際使用中，需根據溫箱的實際情況，不斷進行試驗校準才能找到最合適的PID算法值，加大了系統的使用難度。

發明內容

為解決現有技術中存在的以上不足，本發明提供了一種數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統，能夠同時對多個數字溫度補償晶體振蕩器進行頻率測量及數據采集，極大提高了調測效率。

本發明還提供了一種上述調測系統的調試方法，此調試方法適用于數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測，與上述調測系統相結合，調測過程更為簡單、快捷，檢測結果更為精準。

為實現上述目的，本發明所采用的技術方案如下：

一種數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統， 它包括：

包括高低溫試驗箱、至少一組用于待測晶體振蕩器放置并引出每個待測晶體振蕩器信號的待測產品載板、用于測量待測晶體振蕩器輸出頻率并作為系統控制中心的測頻及主控模塊 、外部控制中心；所述待測產品載板設于高低溫試驗箱內，包括至少一個用于放置待測晶體振蕩器的放置板，以及一個用于選通放置有待測晶體振蕩器放置板的選通模塊，所述選通模塊接收測頻及主控模塊的控制信號選通每組待測產品載板中對應的放置板，所述測頻及主控模塊與外部控制中心相通信。