[發明專利]一種數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統及調試方法

有效

• 申請號: 201510905770.5
• 申請日: 2015-12-09
• 公開（公告）號: CN105467242B
• 公開（公告）日: 2018-10-02
• 發明（設計）人: 張宇恒
• 申請（專利權）人: 王喜立
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R23/02
• 代理公司: 石家莊科誠專利事務所(普通合伙) 13113
• 代理人: 張紅衛

1.一種數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統的調試方法，基于一種數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統完成調試，所述數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統包括高低溫試驗箱、至少一組用于待測晶體振蕩器放置并引出每個待測晶體振蕩器信號的待測產品載板、用于測量待測晶體振蕩器輸出頻率并作為系統控制中心的測頻及主控模塊 、外部控制中心；所述待測產品載板設于高低溫試驗箱內，包括至少一個用于放置待測晶體振蕩器的放置板，以及一個用于選通放置有待測晶體振蕩器放置板的選通模塊，所述選通模塊接收測頻及主控模塊的控制信號選通每組待測產品載板中對應的放置板，所述測頻及主控模塊與外部控制中心相通信；

其特征在于：所述數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統的調試方法包括依次進行的以下步驟：

一、待測晶體振蕩器放置：將所有待測晶體振蕩器放置于高低溫試驗箱內的待測產品載板上；

二、系統功能檢測：外部控制中心檢查系統的頻率測量功能，將所有待測晶體振蕩器設置進入調試模式，并檢查能否與所有待測晶體振蕩器建立通信；

三、待測晶體振蕩器調測：外部控制中心直接控制所述的一種數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統進入調測工作，對所有放置好的待測晶體振蕩器進行頻率調測，并將調測后的數據進行擬合、轉化，然后將轉化后生成的數據分別寫入對應的待測晶體振蕩器；

本步驟包括以下步驟：

31）中心電容校準：根據待測晶體振蕩器的輸出頻率對其中心電容進行調整，使用折半查找法遍歷中心電容值的整個范圍，找到每個待測晶體振蕩器最合適的中心電容值，使其輸出頻率達到要求的頻率范圍；

32）為高低溫試驗箱設置調試運行程式：設置高低溫試驗箱在調試工作時的運行程式，運行程式分為恒溫段和變溫段，其中恒溫段的溫度為調測溫度點，在整個溫度范圍內按照固定的溫度間隔設置調測溫度點，完成程式設置后將運行程式寫入并啟動高低溫試驗箱；

33）調測溫度點溫度保持：外部控制中心不斷采集高低溫試驗箱的當前狀態信息，判斷高低溫試驗箱是否進入恒溫段，一旦高低溫試驗箱進入調測溫度點恒溫段，外部控制中心控制高低溫試驗箱進入保持狀態，高低溫試驗箱將會一直保持在恒溫狀態，之后持續采集高低溫試驗箱的狀態信息，判斷高低溫試驗箱內溫度是否穩定在調測溫度點溫度上，如果高低溫試驗箱穩定在調測溫度點溫度上，外部控制中心控制一種數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統開始在當前調測溫度點上進行調測；

34）待測晶體振蕩器頻率調測：根據待測晶體振蕩器的頻率補償極性，使用折半查找法找出在當前調測溫度點上每個待測晶體振蕩器的最優頻率補償值，并從每個待測晶體振蕩器上讀出與外部環境溫度對應的溫度轉換數值；所述使用折半查找法找出在當前調測溫度點上每個待測晶體振蕩器的最優頻率補償值的具體過程包括：設置所有被選通的待測晶體振蕩器的頻率補償值為中值，測量所有被選通的待測晶體振蕩器的輸出頻率，找出每個待測晶體振蕩器歷次調整過程中輸出頻率最接近標稱頻率的那個頻率補償數值；

35）循環測試：外部控制中心控制高低溫試驗箱解除保持狀態，并向下一調測溫度點運行；36）不斷循環步驟33）、34）、35），直至完成所有調測溫度點下的調試；

37）調測數據處理：對調測后的每個待測晶體振蕩器在所有調測溫度點下記錄的最優頻率補償值和溫度轉換數值分別進行曲線擬合、轉化，并將擬合轉化后的數據燒寫入對應的待測晶體振蕩器；

四、待測晶體振蕩器檢測：完成步驟一、步驟二、步驟三后，外部控制中心直接控制所述一種數字溫度補償晶體振蕩器的生產調測系統進入檢測工作，對所有放置好的待測晶體振蕩器進行頻率檢測，并根據頻率檢測結果篩選出不合格的晶體振蕩器。