[發明專利]一種1D位場異常曲線構建2D位場異常剖面的方法

在審

• 申請號: 201510870525.5
• 申請日: 2015-12-01
• 公開（公告）號: CN105425307A
• 公開（公告）日: 2016-03-23
• 發明（設計）人: 沈鴻雁;嚴月英
• 申請（專利權）人: 西安石油大學
• 主分類號: G01V3/38
• 分類號: G01V3/38;G01V1/30
• 代理公司: 西安西達專利代理有限責任公司 61202
• 代理人: 第五思軍

1.一種1D位場異常曲線構建2D位場異常剖面的方法，其特征在于，包括如下步驟：

第一步，將含有m個采樣點，點距為△x的一維位場異常數據讀取到一維數組f中；

第二步，對一維數組f進行一維離散小波多尺度分解，一維離散小波多尺度分解正變換為：

W(a,b)=1|a|Σi=0m-1ψ*(i·Δx-ba)f(i·Δx)a≠0]]>

式中，ψ稱為基本小波；ψ^*為ψ的共軛函數；a表示伸縮系數，反映特定基函數的寬度；b表示平移系數，指定沿x軸平移的位置，且并令a₀＝2，b₀＝1，j∈Z，k∈Z；△x為點距；i＝0，1，…，m-1，為采樣序號；

第三步，分別提取每一尺度小波細節的高頻分量，并進行一維離散小波反變換，一維離散小波多尺度分解反變換為：

f(x)=Σj=-∞+∞Σk=-∞+∞W(j,k)ψ(2-jx-k)]]>

式中，ψ稱為基本小波；j∈Z，k∈Z；x＝i·△x，為數據采樣點坐標；△x為點距；i＝0，1，…，m-1，為采樣序號；

第四步，將尺度維等效為擬深度維，并按由小尺度到大尺度的順序組建多尺度高頻分量的位場異常數據，形成二維數據F；

第五步，對二維數據F進行網格化及插值處理，然后將其繪制成二維位場異常剖面圖，便實現了一維位場異常曲線構建二維位場異常剖面。

2.根據權利要求1所述的一種1D位場異常曲線構建2D位場異常剖面的方法，其特征在于，包括如下步驟：

第一步，將含有155個采樣點，點距為2km的一維布格重力異常數據讀取到一維數組f中；

第二步，對一維數組f進行一維離散小波13尺度分解，一維離散小波13尺度分解正變換為：

W(a,b)=1|a|Σi=0154ψ*(i·Δx-ba)f(i·Δx)a≠0]]>

式中，ψ稱為基本小波；ψ^*為ψ的共軛函數；a表示伸縮系數，反映特定基函數的寬度；b表示平移系數，指定沿x軸平移的位置，且并令a₀＝2，b₀＝1，j＝0，1，…，12，k∈Z；△x＝2km，為點距；i＝0，1，…，154，為采樣序號；

第三步，分別提取每一尺度小波細節的高頻分量，并進行一維離散小波反變換，一維離散小波多尺度分解反變換為：

f(x)=Σj=012Σk=-∞+∞W(j,k)ψ(2-jx-k)]]>

式中，ψ稱為基本小波；j＝0，1，…，12，k∈Z；x＝i·△x，為數據采樣點坐標；△x＝2km，為點距；i＝0，1，…，154，為采樣序號；

第四步，將尺度維等效為擬深度維，并按由小尺度到大尺度的順序組建13尺度高頻分量的布格重力異常數據，形成二維數據F；

第五步，對二維數據F進行網格化及插值處理，然后將其繪制成二維布格重力異常剖面圖，便實現了一維布格重力異常曲線構建二維布格重力異常剖面。