[發明專利]板級射頻電流的時域測量、測量校準及校準驗證系統

在審

• 申請號: 201510867967.4
• 申請日: 2015-11-30
• 公開（公告）號: CN105425014A
• 公開（公告）日: 2016-03-23
• 發明（設計）人: 方文嘯;丘海迷;陳義強;劉遠;陳立輝;黃云;恩云飛
• 申請（專利權）人: 工業和信息化部電子第五研究所
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王程

1.一種板級射頻電流的時域測量校準系統，其特征在于，包括磁場探頭、網絡分析儀、負載、處理器；

所述磁場探頭的輸出端連接所述網絡分析儀的端口一，微帶線測試板的微帶線的一端連接所述網絡分析儀的端口二，所述微帶線的另一端連接所述負載，所述處理器用于根據所述網絡分析儀測量的數據得到校準因子，所述負載的阻值與所述微帶線特征阻抗匹配。

2.根據權利要求1所述的板級射頻電流的時域測量校準系統，其特征在于，所述處理器根據公式K(ω)＝S₁₂*Z₀得到校準因子K(ω)，其中S₁₂為所述網絡分析儀上測量得到的傳輸系數，Z₀為所述微帶線特征阻抗。

3.根據權利要求1或2所述的板級射頻電流的時域測量校準系統，其特征在于，還包括夾具、支架和樣品臺，所述磁場探頭固定在所述夾具上，所述夾具固定在所述支架上，所述微帶線測試板固定在所述樣品臺上。

4.一種板級射頻電流的時域測量校準驗證系統，其特征在于，包括磁場探頭、任意波形發生器、示波器、處理器；

所述磁場探頭的輸出端連接所述示波器的通道一，微帶線測試板的微帶線的一端連接所述示波器的通道二，所述微帶線的另一端連接所述任意波形發生器的輸出端，所述處理器用于根據所述示波器測量的數據驗證校準因子的正確性，所述示波器的內部阻抗和所述任意波形發生器的內部阻抗與所述微帶線特征阻抗匹配。

5.根據權利要求4所述的板級射頻電流的時域測量校準驗證系統，其特征在于，所述處理器根據所述示波器測量的數據得到：F_S(ω)＝FFT[V_S(t)]，F_SK(ω)＝F_S(ω)K(ω)，V_SK(t)＝IFFT[F_SK(ω)]，其中V_S(t)為所述示波器的通道二輸出的數據，K(ω)為校準因子，FFT表示傅立葉變換，IFFT表示反傅立葉變換；

將得到的V_SK(t)與V_P(t)進行比較，根據比較結果驗證所述校準因子K(ω)的正確性，其中V_P(t)為所述示波器的通道一輸出的數據。

6.根據權利要求4或5所述的板級射頻電流的時域測量校準驗證系統，其特征在于，還包括夾具、支架和樣品臺，所述磁場探頭固定在所述夾具上，所述夾具固定在所述支架上，所述微帶線測試板固定在所述樣品臺上。

7.一種板級射頻電流的時域測量系統，其特征在于，包括磁場探頭、示波器、處理器；

所述磁場探頭的輸出端連接所述示波器的通道一，待測板級射頻電流設置在微帶線測試板的微帶線處，所述處理器用于根據所述示波器測量的數據得到待測板級射頻電流值，所述示波器的內部阻抗與所述微帶線特征阻抗匹配。

8.根據權利要求7所述的板級射頻電流的時域測量系統，其特征在于，所述處理器根據所述示波器測量的數據得到：F_Me(ω)＝FFT[V_Me(t)]，F_MeK(ω)＝F_Me(ω)·K(ω)，V_MeK(t)＝IFFT[F_MeK(ω)]，I(t)＝V_MeK(t)/R，其中V_Me(t)為所述示波器的通道一輸出的數據，K(ω)為校準因子，I(t)為待測板級射頻電流，R為所述示波器的內部阻抗，FFT表示傅立葉變換，IFFT表示反傅立葉變換。

9.根據權利要求7或8所述的板級射頻電流的時域測量系統，其特征在于，還包括夾具、支架和樣品臺，所述磁場探頭固定在所述夾具上，所述夾具固定在所述支架上，所述微帶線測試板固定在所述樣品臺上。