[發(fā)明專利]宇航級(jí)VMOS管功能性完好的測(cè)試方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510819911.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-11-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105467290A | 公開(公告)日: | 2016-04-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝永權(quán);柳金生 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海衛(wèi)星裝備研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26;G01R27/02 |
| 代理公司: | 上海漢聲知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭國(guó)中 |
| 地址: | 200240 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 宇航 vmos 功能 完好 測(cè)試 方法 | ||
1.一種宇航級(jí)VMOS管功能性完好的測(cè)試方法,其特征在于,測(cè)試設(shè)備采用MF500型指針式萬用表,具體地,用調(diào)至R×1K檔位的MF500型指針式萬用表歐姆檔,測(cè)量VMOS管的源極和漏極之間、柵極和源極之間、柵極和漏極之間的電阻值;MF500型指針式萬用表采用內(nèi)部1.5V電池供電,該電池電壓值低于VMOS管的閾值電壓VGS(th)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的宇航級(jí)VMOS管功能性完好的測(cè)試方法,其特征在于,測(cè)試條件包括:
-整個(gè)測(cè)試在防靜電工作區(qū)內(nèi)進(jìn)行;
-整個(gè)測(cè)試在離子風(fēng)狀態(tài)下進(jìn)行;
-VMOS的阻抗特性參數(shù)的測(cè)量必須在環(huán)境溫度20±5℃、環(huán)境濕度30-75%的條件
下進(jìn)行;
-防靜電腕帶接地系統(tǒng)電阻的大小取1MΩ~10MΩ;
-防靜電工作區(qū)接地電阻小于4Ω。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的宇航級(jí)VMOS管功能性完好的測(cè)試方法,其特征在于,測(cè)試人員要求包括:
-測(cè)試前,測(cè)試人員穿戴防靜電工作衣、防靜電工作鞋、防靜電工作帽,并戴好防靜電腕帶和防靜電手套;
-測(cè)試人員在進(jìn)入防靜電工作區(qū)測(cè)試前將人體靜電釋放,觸摸靜電釋放棒直到靜電釋放完畢。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的宇航級(jí)VMOS管功能性完好的測(cè)試方法,其特征在于,測(cè)試技術(shù)要求包括:
-用MF500型指針式萬用表的表筆將VMOS管的源極S、漏極D、柵極G這三個(gè)電極同時(shí)短路,使柵極的電荷釋放;
-每次測(cè)量完畢,將柵極與源極間短路,以釋放極間電荷。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的宇航級(jí)VMOS管功能性完好的測(cè)試方法,其特征在于,測(cè)試方法為采用MF500型指針式萬用表測(cè)量VMOS管的源極和漏極之間、柵極和源極之間、柵極和漏極之間的電阻值,若這些電阻值與要求值相符,則認(rèn)為VMOS管功能完好,否則,則認(rèn)為VMOS管功能不完好。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的宇航級(jí)VMOS管功能性完好的測(cè)試方法,其特征在于,所述測(cè)試方法,包括如下步驟:
測(cè)試阻抗參數(shù)前,將MF500型指針式萬用表的紅表筆和黑表筆短接一次,測(cè)量柵極與漏極間阻值RGD的值,先將紅表筆連接至漏極,然后將黑表筆連接至柵極進(jìn)行測(cè)量,記錄RGD的值,RGD測(cè)量完畢,先將黑表筆從柵極移開,再將紅表筆從漏極移開;
將紅表筆與黑表筆短接一次,繼續(xù)測(cè)量漏極與柵極間阻值RDG的值,先將黑表筆連接至漏極,然后將紅表筆連接至柵極進(jìn)行測(cè)量,記錄RDG的值,RDG測(cè)量完畢,先將紅表筆從柵極移開,再將黑表筆從漏極移開;
將紅表筆與黑表筆短接一次,繼續(xù)測(cè)量RGS的值,先將萬用表紅表筆連接至源極,然后將黑表筆連接至柵極進(jìn)行測(cè)量,記錄RGS的阻值,RGS測(cè)量完畢,先將黑表筆從柵極移開,再將紅表筆從源極移開;
將紅表筆與黑表筆短接一次,繼續(xù)測(cè)量源極與柵極間阻值RSG的值,先將黑表筆連接至源極,然后將紅表筆連接至柵極進(jìn)行測(cè)量,記錄RSG的值,RSG測(cè)量完畢,先將紅表筆從柵極移開,再將黑表筆從源極移開;
將紅表筆與黑表筆短接一次,繼續(xù)測(cè)量漏極與源極間阻值RDS的值,先將紅表筆連接至源極,然后將黑表筆連接至漏極進(jìn)行測(cè)量,記錄RDS的值;
將紅表筆與黑表筆短接一次,繼續(xù)測(cè)量源極與漏極間阻值RSD的值,先將紅表筆連接至漏極,然后將黑表筆連接至源極進(jìn)行測(cè)量,記錄RSD的值。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的宇航級(jí)VMOS管功能性完好的測(cè)試方法,其特征在于,裸片測(cè)試時(shí),N型溝道VMOS管需滿足RGD、RDG、RGS、RSG、RDS阻抗∞,RSD幾千歐至十幾千歐;裸片測(cè)試時(shí),P型溝道VMOS管需滿足RGD、RDG、RGS、RSG、RSD阻抗∞,RDS幾千歐至十幾千歐。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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