[發(fā)明專利]一種雙工位液晶面板離線檢測系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510814780.8
• 申請日: 2015-11-20
• 公開（公告）號: CN105259684B
• 公開（公告）日: 2018-10-19
• 發(fā)明（設計）人: 呂東東
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 黃行軍

本發(fā)明涉及自動光學液晶面板檢測技術領域，具體涉及一種雙工位液晶面板離線檢測系統(tǒng)及方法，包括圖像采集模塊、缺陷檢測模塊和主控模塊，以及第一運動單元和第二運動單元，第一運動單元包括第一活動機構、第一圖像信號發(fā)生器和電機，第二運動單元包括第二活動機構、第二圖像信號發(fā)生器和電機，第一活動機構和第二活動機構分別設置于兩個平行導軌上，電機固定于導軌兩端，第一活動機構和第二活動機構在電機的控制下可沿導軌作水平往復運動，且當一個運動單元處于檢測工位時，另一個運動單元處于等待工位。采用離線雙工位，一個運動單元等待操作員上屏，另一個運動單元進行自動檢測處理、顯示，合理統(tǒng)籌規(guī)劃時間，提高設備生產率。

技術領域

本發(fā)明涉及自動光學液晶面板檢測技術領域，具體涉及一種雙工位液晶面板離線檢測系統(tǒng)及方法。

背景技術

現(xiàn)今，液晶面板廣泛應用于電子產品顯示領域，其產品的出廠良率，是液晶顯示器生產商在如今激烈的競爭環(huán)境中賴以生存的基礎。在其生產制作的所有環(huán)節(jié)中，質量檢測是保證液晶面板產品質量的重要環(huán)節(jié)，傳統(tǒng)產線上手工點屏切圖，肉眼查找缺陷的檢測方式，過于依賴工人的主觀性，具有誤檢、漏檢率高特點，隨著自動光學技術的不斷發(fā)展應用，基于圖像處理的自動光學檢測系統(tǒng)應運而生。它使得液晶面板的檢測不用再依靠人力，提高了檢測效率和檢測速度。但由于一般的自動光學檢測系統(tǒng)屬于單線程工作，其效率仍然低下。

發(fā)明內容

為解決上述技術問題，本發(fā)明提供了一種效率高的雙工位液晶面板離線檢測系統(tǒng)及方法。

本發(fā)明一種雙工位液晶面板離線檢測系統(tǒng)，其技術方案是：包括圖像采集模塊、缺陷檢測模塊和主控模塊，還包括第一運動單元和第二運動單元，所述第一運動單元包括第一活動機構、第一圖像信號發(fā)生器和電機，所述第二運動單元包括第二活動機構、第二圖像信號發(fā)生器和電機，所述第一活動機構和第二活動機構分別設置于兩個平行導軌上，所述電機固定于導軌兩端，所述第一活動機構和第二活動機構在電機的控制下可沿導軌作水平往復運動，且當一個運動單元處于檢測工位時，另一個運動單元處于等待工位。

進一步的，所述圖像采集模塊包括相機，所述相機用于拍攝待檢測液晶面板圖像，并將所拍攝的圖像發(fā)送給缺陷檢測模塊進行處理；

所述缺陷檢測模塊用于接收圖像采集模塊發(fā)送的圖片，對圖片進行圖像預處理、缺陷檢測、缺陷識別操作，并將處理完的結果發(fā)送給客戶終端顯示輸出；

所述主控模塊用于控制第一運動單元、第二運動單元、圖像采集模塊、缺陷檢測模塊的運行，以及實現(xiàn)第一運動單元、第二運動單元、圖像采集模塊、缺陷檢測模塊與上層軟件的通信。

進一步的，還包括客戶終端，所述客戶終端用于接收缺陷檢測模塊處理完的結果，并將檢測出來的缺陷坐標、缺陷類型及相關信息標出。

進一步的，所述第一運動單元包括第一活動機構、第一圖像信號發(fā)生器和電機，所述第二運動單元包括第二活動機構、第二圖像信號發(fā)生器和電機，所述第一活動機構和第二活動機構分別設置于兩個平行導軌上，所述電機固定于導軌兩端，所述第一活動機構和第二活動機構在電機的控制下可沿導軌作水平往復運動，且當一個運動單元處于檢測工位時，另一個運動單元處于等待工位。

進一步的，所述第一運動單元還包括氣缸，所述氣缸位于第一活動機構底部，可將第一活動機構頂起至待檢測液晶面板進行檢測時所處的檢測高度，供相機拍攝待檢測液晶面板圖片。

進一步的，所述第二活動機構的高度為待檢測液晶面板進行檢測時所處的檢測高度。

本發(fā)明一種雙工位離線液晶面板檢測方法，其技術方案是：主控模塊控制第一運動單元與第二運動單元循環(huán)切換工位，利用相機對處于檢測工位的待檢測液晶面板進行拍攝，將拍攝所得圖片發(fā)送至缺陷檢測模塊進行圖像預處理、缺陷檢測、缺陷識別操作，并將處理完的結果發(fā)送給客戶終端顯示輸出，實現(xiàn)雙工位實時循環(huán)檢測。

進一步的，所述第一運動單元與第二運動單元循環(huán)切換工位過程如下：