[發(fā)明專(zhuān)利]一種無(wú)刷直流電機(jī)中霍爾板的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510809665.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-11-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106771692A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-05-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陶慶斌;宋賀倫;茹占強(qiáng);張耀輝 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 深圳市銘粵知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司44304 | 代理人: | 孫偉峰 |
| 地址: | 215123 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 直流電機(jī) 霍爾 自動(dòng)化 測(cè)試 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種無(wú)刷直流電機(jī)中霍爾板的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括:
基座(10),所述基座(10)上形成有測(cè)試磁場(chǎng),具有霍爾傳感器(1a)的霍爾板(1)放置于所述測(cè)試磁場(chǎng)內(nèi);
機(jī)械模塊(20),所述機(jī)械模塊(20)上設(shè)置有測(cè)試探針(21);
主控單元(30),與所述機(jī)械模塊(20)電連接,用于控制所述測(cè)試探針(21)與相應(yīng)的所述霍爾傳感器(1a)的導(dǎo)通或斷開(kāi),并根據(jù)所述霍爾傳感器(1a)的輸出信號(hào)判斷所述霍爾板(1)的正常與否;
人機(jī)交互模塊(40),連接所述主控單元(30),用于與所述主控單元(30)通信并控制所述主控單元(30)完成測(cè)試指令并記錄測(cè)試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的無(wú)刷直流電機(jī)中霍爾板的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述機(jī)械模塊(20)還包括機(jī)械手(22),所述測(cè)試探針(21)固定在所述機(jī)械手(22)的端部,所述機(jī)械手(22)與所述基座(10)間隔設(shè)置,并可在所述主控單元(30)的控制下靠近或遠(yuǎn)離所述基座(10),以相應(yīng)實(shí)現(xiàn)所述測(cè)試探針(21)與相應(yīng)的所述霍爾傳感器(1a)的電性接觸或斷開(kāi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的無(wú)刷直流電機(jī)中霍爾板的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述基座(10)上開(kāi)設(shè)有與多個(gè)供所述霍爾板(1)插入的插槽。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的無(wú)刷直流電機(jī)中霍爾板的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述人機(jī)交互模塊(40)包括用于顯示測(cè)試結(jié)果的顯示裝置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的無(wú)刷直流電機(jī)中霍爾板的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述基座(10)上間隔地固定有兩個(gè)電磁鐵(11),兩個(gè)所述電磁鐵(11)分別與所述主控單元(30)電連接,用以在所述主控單元(30)的控制下產(chǎn)生所述測(cè)試磁場(chǎng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一所述的無(wú)刷直流電機(jī)中霍爾板的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述主控單元(30)包括片選模塊(31)、單片機(jī)(32)和通信模塊(33),所述片選模塊(31)為多通道芯片,每個(gè)所述片選模塊(31)與相應(yīng)的多個(gè)所述測(cè)試探針(21)電連接;所述單片機(jī)(32)用于判斷所述霍爾板(1)的正常與否;所述通信模塊(33)與所述人機(jī)交互模塊(40)連接,用于傳遞測(cè)試命令和測(cè)試結(jié)果。
7.一種無(wú)刷直流電機(jī)中霍爾板的自動(dòng)化測(cè)試方法,其特征在于,包括:
S1、人機(jī)交互模塊(40)發(fā)送啟動(dòng)測(cè)試的測(cè)試命令到主控單元(30);
S2、所述主控單元(30)控制機(jī)械模塊(20)下降,使測(cè)試探針(21)與霍爾板(1)上的霍爾傳感器(1a)一一電接觸;
S3、激發(fā)所述霍爾傳感器(1a)周?chē)臏y(cè)試磁場(chǎng);
S4、開(kāi)啟連接所述測(cè)試探針(21)的電源,記錄所述霍爾傳感器(1a)的輸出信號(hào)后,關(guān)閉連接所述測(cè)試探針(21)的電源;
S5、改變測(cè)試磁場(chǎng)方向,并再次開(kāi)啟連接所述測(cè)試探針(21)的電源,記錄所述霍爾傳感器(1a)的輸出信號(hào)后,關(guān)閉連接所述測(cè)試探針(21)的電源;
S6、對(duì)比所述霍爾傳感器(1a)兩次的輸出信號(hào),判斷所述霍爾傳感器(1a)正常與否形成測(cè)試結(jié)果。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的無(wú)刷直流電機(jī)中霍爾板的自動(dòng)化測(cè)試方法,其特征在于,所述步驟S6后,還包括將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送給人機(jī)交互模塊(40)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的無(wú)刷直流電機(jī)中霍爾板的自動(dòng)化測(cè)試方法,其特征在于,所述霍爾板(1)為多個(gè),所述霍爾板(1)上的霍爾傳感器(1a)與所述測(cè)試探針(21)數(shù)量相同。
10.根據(jù)權(quán)利要求7-9任一所述的無(wú)刷直流電機(jī)中霍爾板的自動(dòng)化測(cè)試方法,其特征在于,每個(gè)所述霍爾傳感器(1a)旁設(shè)有一個(gè)與所述霍爾傳感器(1a)電連接的焊點(diǎn)(1b),用于與所述測(cè)試探針(21)電連接。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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