[發明專利]發光裝置的測試設備

在審

• 申請號: 201510673800.4
• 申請日: 2015-10-16
• 公開（公告）號: CN106595851A
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發明（設計）人: 吳佳裕;曾俊龍;沈慶興;趙堂鐘;林盟凱;陳達享;曾培翔;王建偉;尤家鴻
• 申請（專利權）人: 晶元光電股份有限公司
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J1/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所11105
• 代理人: 陳小雯

技術領域

本發明涉及一種發光裝置的測試設備，特別是涉及可增加收光的發光裝置的測試設備。

背景技術

圖1所示為現有的發光裝置的測試設備。此測試設備包含一承載體102，一電流源104及一積分球103。承載體102可供待測物101置于其上，并且由電流源104通過探針(probe)105a與105b與待測物101的電極接觸而提供一電流至待測物101，待測物101因而放射出光線，其中探針固定裝置106a與106b分別用以固定探針105a與105b。積分球103為一中空球體，包含一光輸入口103i及一光輸出口103e。待測物101置于積分球103的光輸入口103i附近，且待測物101放射出的光線通過光輸入口103i進入積分球103并為其所收集，光輸入口103i具有一開口內直徑W。待測物101發射出的光線在積分球103的內表面多次散射、反射后會均勻分布到積分球103的內表面上，由此特性，一偵測器108連接到積分球103的光輸出口103e以量測待測物101的光學特性。偵測器108可通過一光纖107與積分球103的光輸出口103e連接。偵測器108可為一光度計(photometer)、一輻射計(radiometer)、一分光輻射計(spectroradiometer)或一色度計colorimeter)。

如圖2所示為圖1的測試設備在收集光線時，待測物與積分球光輸入口的距離及收光角度限制的情形，此測試設備在收集光線時，即使盡量調整待測物101向積分球103的光輸入口103i靠近，但因受限于探針105a與105b的阻礙，待測物101與積分球103的光輸入口103i的距離H有其限制，一般大致最靠近時可調整至6mm～8mm，而以一光輸入口103i具有一開口內直徑W為14mm的情形，其收光角θ約當90°～100°，即存在收光角度較小的缺點，容易有光線漏未收集的情形，而影響測試的精準度。

雖然在圖1說明了現有的發光裝置的測試裝置，然而，此種現有的發光裝置的測試裝置并無法用于測試倒裝式(Flip-Chip type)發光裝置。如圖9A或 圖9B所示，為現有用以測試倒裝式發光裝置的測試設備，其中圖9A所示為測試位于邊緣的發光裝置901的情形；而圖9B所示則為測試位于非邊緣的發光裝置901的情形。此測試設備包含一透明的承載體902，一電流源(圖未示)通過分別以探針固定裝置906a與906b固定的探針905a與905b而提供一電流至待測的發光裝置901。如圖所示，多個發光裝置901以陣列排列粘著于一薄膜912上，薄膜912例如是一藍膜(blue tape)是架附固定于一環狀體911。此多個發光裝置901連同薄膜912都置于透明的承載體902上。由于發光裝置901是倒裝式的發光裝置，具有兩電極位于相對于其基板的同側，且出光面在基板的另一側。探針905a與905b由發光裝置901的上方與發光裝置901的電極接觸，而發光裝置901由下方出光，其中，承載體902為一透明的承載體，使位于承載體902下方的下積分球903L通過其光輸入口903i收集上述發光裝置901向下的出光。而為了使測試更精準，另一個積分球，即上積分球903U則被設置于發光裝置901之上，用以通過其光輸入口903i’收集發光裝置901向上的光線，此部分主要是反射或散射的光線。而最終的量測數據為加總下積分球903L與上積分球903U的量測結果。

如圖9B所示，測試位于非邊緣的發光裝置901時，待測的發光裝置901周圍會有其他發光裝置901，而如圖9A所示，測試位于邊緣的發光裝置901時，待測的發光裝置901的外側已沒有其他發光裝置901，故位于邊緣的發光裝置901，在測試時，其周圍的情形與位于非邊緣的發光裝置901測試時其周圍的情形不同。更詳細地說，位于邊緣的發光裝置901測試時，部分向上的光線因缺乏其他發光裝置901的反射作用而易漏失。

發明內容

為解決上述問題，本發明提供一種發光裝置的測試設備，包含一積分球、一探針用以于測試上述發光裝置時傳導一電流至上述發光裝置、以及一連接部與上述積分球相接；其中，上述連接部具有一開孔或缺口，上述探針穿過上述開孔或缺口，且上述連接部具有一光輸入口用以接收上述發光裝置所發出的光。

本發明還提供一種發光裝置的測試設備，包含一積分球包含一光輸入口用以接收上述發光裝置所發出的光、一透明承載體位于上述光輸入口之上，用以承載上述發光裝置、以及一反射裝置鄰近上述發光裝置用以反射上述發 光裝置所發出的光。

附圖說明

圖1為現有的發光裝置的測試設備的示意圖；