[發(fā)明專利]發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510673800.4
• 申請(qǐng)日: 2015-10-16
• 公開（公告）號(hào): CN106595851A
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳佳裕;曾俊龍;沈慶興;趙堂鐘;林盟凱;陳達(dá)享;曾培翔;王建偉;尤家鴻
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 晶元光電股份有限公司
• 主分類號(hào): G01J1/00
• 分類號(hào): G01J1/00;G01J1/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所11105
• 代理人: 陳小雯

1.一種發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，包含：

積分球；

探針，用以于測(cè)試該發(fā)光裝置時(shí)傳導(dǎo)一電流至該發(fā)光裝置；以及

連接部，與該積分球相接，該連接部具有開孔或缺口；其中，該探針穿過該開孔或缺口，且該連接部具有光輸入口，用以接收該發(fā)光裝置所發(fā)出的光。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其中該測(cè)試設(shè)備對(duì)該發(fā)光裝置的一收光角度大于130°，或該發(fā)光裝置測(cè)試時(shí)與該光輸入口的垂直距離小于或等于約3mm。

3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，還包含孔徑調(diào)整裝置，設(shè)于該光輸入口，該孔徑調(diào)整裝置具有一開口，小于該光輸入口，且該孔徑調(diào)整裝置包含反射層，位于該孔徑調(diào)整裝置面向該積分球的表面，該反射層對(duì)于該發(fā)光裝置所發(fā)出的光的反射率大于70％。

4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，還包含頂針裝置，用以控制該發(fā)光裝置與該光輸入口的距離或一影像裝置穿過該連接部。

5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其中該連接部與該積分球?yàn)橐惑w。

6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其中該連接部包含一可分離部分，可分離于該積分球，且于測(cè)試該發(fā)光裝置時(shí)與該積分球相接合。

7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試設(shè)備，其中該連接部包含反射層，位于該連接部的該可分離部分的面向該積分球的表面，該反射層對(duì)于該發(fā)光裝置所發(fā)出的光的反射率大于70％。

8.一種發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，包含：

積分球，包含一光輸入口，用以接收該發(fā)光裝置所發(fā)出的光；

透明承載體，位于該光輸入口之上，用以承載該發(fā)光裝置；以及

反射裝置，鄰近該發(fā)光裝置，用以反射該發(fā)光裝置所發(fā)出的光。

9.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試設(shè)備，其中該反射裝置位于該透明承載體之上，包含反射層，位于該反射裝置的面向該透明承載體的表面，該反射層對(duì)于該發(fā)光裝置所發(fā)出的光的反射率大于70％。

10.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試設(shè)備，還包括探針，用以在測(cè)試該發(fā)光裝置 時(shí)傳導(dǎo)一電流至該發(fā)光裝置，以及固定裝置，用以固定該探針，其中該固定裝置包含一反射層位于該固定裝置面向該透明承載體的表面，該反射層對(duì)于該發(fā)光裝置所發(fā)出的光的反射率大于70％。

11.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試設(shè)備，其中該反射裝置環(huán)繞該發(fā)光裝置且大致與該透明承載體的一承載面平行，該反射裝置包含反射層，對(duì)于該發(fā)光裝置所發(fā)出的光的反射率大于70％，且該反射層位于該反射裝置的一面向該光輸入口的表面，以將該發(fā)光裝置所發(fā)出的光反射進(jìn)入該光輸入口。

12.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試設(shè)備，還包含環(huán)狀體，位于該透明承載體之上且環(huán)繞該透明承載體；以及薄膜，設(shè)于該環(huán)狀體中以供該發(fā)光裝置附置，其中該反射裝置位于該薄膜上或接附于該環(huán)狀體內(nèi)側(cè)。

13.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試設(shè)備，其中該反射裝置包含反射層，位于該反射裝置的一面向該光輸入口的表面，該反射層對(duì)于該發(fā)光裝置所發(fā)出的光的反射率大于70％，并將該發(fā)光裝置所發(fā)出的光的反射進(jìn)入該光輸入口。