[發明專利]一種計算機斷層成像金屬偽影校正方法及裝置

在審

• 申請號: 201510660920.0
• 申請日: 2015-10-14
• 公開（公告）號: CN105225208A
• 公開（公告）日: 2016-01-06
• 發明（設計）人: 王毅;曹文靜
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技有限公司
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00;G06T7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種計算機斷層成像金屬偽影校正方法，其特征在于，包括：

輸入待校正圖像；

獲取所述待校正圖像的第一投影數據；

對所述待校正圖像進行第一校正，根據第一校正結果獲取第二投影數據；

對所述第一及第二投影數據進行加權處理，獲取第三投影數據；

根據第三投影數據獲得校正后圖像。

2.根據權利要求1所述的金屬偽影校正方法，其特征在于，所述進行第一校正包括：對所述待校正圖像進行分割，獲得金屬圖像；

對所述待校正圖像及金屬圖像進行投影，并根據投影數據進行插值校正。

3.根據權利要求1所述的金屬偽影校正方法，其特征在于，在所述加權處理中，根據金屬圖像的投影值確定所述第一及第二投影數據的權重。

4.根據權利要求1所述的金屬偽影校正方法，其特征在于，還包括：對所述第三投影數據進行第二校正，根據第二校正結果獲得校正圖像。

5.根據權利要求4所述的金屬偽影校正方法，所述第二校正包括：根據所述第三投影數據對所述第一投影數據進行平滑化處理及插值處理以獲得第四投影數據；

所述根據第二校正結果獲得校正圖像包括：

對第一投影數據與所述第四投影數據進行加權處理，獲得第五投影數據；

對第五投影數據進行反投影，獲得所述校正后圖像。

6.根據權利要求1所述的金屬偽影校正方法，其特征在于，根據金屬圖像形態確定所述加權處理的強度。

7.根據權利要求6所述的金屬偽影校正方法，其特征在于，所述金屬圖像形態，由所述金屬圖像在投影域的投影值所確定的形態指數表征。

8.根據權利要求7所述的金屬偽影校正方法，其特征在于，所述形態指數與所述加權處理強度的對應關系為：當所述形態指數不大于第一閾值時，加權處理的強度為第一強度；

當所述形態指數大于第一閾值且不大于第二閾值時，加權處理的強度為第二強度；

當所述形態指數大于第二閾值時，加權處理的強度為第三強度。

9.根據權利要求1所述的金屬偽影校正方法，其特征在于，還包括對校正后圖像進行信息補償處理。

10.一種計算機斷層成像金屬偽影校正裝置，包括：

圖像輸入單元，用于輸入待校正圖像；

第一圖像投影單元，用于獲取第一投影數據；

第二圖像投影單元，用于對所述待校正圖像進行校正，并根據校正結果生成第二投影數據；

加權單元，用于將第一及第二投影數據進行加權處理，生成第三投影數據；

圖像生成單元，用于對第三投影數據進行處理，以生成校正后圖像。