[發(fā)明專利]一種TFT基板、TFT開關(guān)管及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510629335.4 | 申請(qǐng)日: | 2015-09-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105185715B | 公開(公告)日: | 2018-09-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 石龍強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/34 | 分類號(hào): | H01L21/34;H01L21/42;H01L21/44;H01L29/786;H01L29/417;H01L29/423;H01L29/45;H01L27/12 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
| 地址: | 518006 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 tft 基板 開關(guān) 及其 制造 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種TFT基板、TFT開關(guān)管及其制造方法,該方法包括:在基板上設(shè)置柵極層;對(duì)柵極層的側(cè)區(qū)域的至少一部分沿著柵極層的厚度方向進(jìn)行薄型化處理,以形成兩薄型化區(qū)域;在柵極層的上方設(shè)置半導(dǎo)體層;在半導(dǎo)體層上設(shè)置源極層和漏極層,其中源極層和漏極層分別與半導(dǎo)體層接觸的區(qū)域分別對(duì)應(yīng)兩薄型化區(qū)域。通過上述方式,本發(fā)明能夠省去摻雜步驟,并達(dá)到良好的歐姆接觸,從而解決Schottky接觸的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種TFT基板、TFT開關(guān)管及其制造方法。
背景技術(shù)
基于氧化物半導(dǎo)體的薄膜場(chǎng)效應(yīng)晶體管(TFT)是未來顯示領(lǐng)域的熱點(diǎn),近年來得到了廣泛的研究和發(fā)展。其中,作為有源溝道層的無定形銦鎵鋅氧化合物(a-IGZO)薄膜,遷移率可高達(dá)80cm2/Vs,而非晶硅(a-Si)的遷移率僅0.5~0.8cm2/Vs。并且a-IGZO可與a-Si大尺寸量產(chǎn)制程兼容。因此,IGZO在下一代液晶顯示(LCD)和有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)中具有很大的應(yīng)用前景。
但是,在金屬和IGZO相接觸時(shí)形成Schottky(肖特基)接觸,在接觸的界面處半導(dǎo)體能帶彎曲,形成勢(shì)壘。勢(shì)壘的存在會(huì)導(dǎo)致大的界面電阻,即Schottky(肖特基)電阻。Schottky電阻會(huì)導(dǎo)致TFT元件開態(tài)電流不足,亞閾值擺幅(Subthreshold Swing,SS)過大,元件穩(wěn)定性下降,從而會(huì)影響畫面顯示品質(zhì)。
所以,降低金屬和IGZO的接觸電阻,形成Ohmic(歐姆)接觸,是決定半導(dǎo)體元件性能好壞的一個(gè)重要因素。現(xiàn)有技術(shù)的歐姆接觸形成的方法之一是在與金屬接觸的半導(dǎo)體區(qū)域進(jìn)行重?fù)诫s(n+IGZO),使得界面的空乏區(qū)變窄,電子有更多的機(jī)會(huì)直穿隧(穿隧效應(yīng))。但是現(xiàn)有技術(shù)的歐姆接觸方式需要額外進(jìn)行摻雜步驟,從而增加了制作成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種TFT基板、TFT開關(guān)管及其制造方法,能夠省去摻雜步驟,并達(dá)到良好的歐姆接觸,從而解決Schottky接觸的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種TFT開關(guān)管的制造方法,該方法包括:提供一基板;在基板上設(shè)置柵極層,其中,柵極層包括中間區(qū)域和分別位于中間區(qū)域兩側(cè)的側(cè)區(qū)域;對(duì)側(cè)區(qū)域的至少一部分沿著柵極層的厚度方向進(jìn)行薄型化處理,以形成兩薄型化區(qū)域,薄型化區(qū)域的厚度小于中間區(qū)域的厚度;在柵極層的上方設(shè)置半導(dǎo)體層;半導(dǎo)體層的材質(zhì)為銦鎵鋅氧化合物,在半導(dǎo)體層上設(shè)置源極層和漏極層,其中源極層和漏極層分別與半導(dǎo)體層接觸的區(qū)域分別對(duì)應(yīng)兩薄型化區(qū)域,使得背光源的光能夠通過薄型化區(qū)域后照射到半導(dǎo)體層中,從而使半導(dǎo)體層與源極層和漏極層之間形成歐姆接觸。
其中,在柵極層的上方設(shè)置半導(dǎo)體層的步驟之前進(jìn)一步包括:在柵極層上設(shè)置柵極絕緣層。
其中,在基板上設(shè)置柵極層的步驟進(jìn)一步包括:通過物理氣相沉積的方法在基板上設(shè)置一金屬層;對(duì)金屬層進(jìn)行光刻、蝕刻以及脫膜工藝,以形成柵極層。
其中,對(duì)側(cè)區(qū)域的至少一部分沿著柵極層的厚度方向進(jìn)行薄型化處理的步驟進(jìn)一步包括:對(duì)側(cè)區(qū)域的至少一部分進(jìn)行光刻、蝕刻以及脫膜工藝,以形成薄型化區(qū)域。
其中,在柵極層的上方設(shè)置半導(dǎo)體層的步驟進(jìn)一步包括:通過物理氣相沉積的方法在柵極絕緣層上設(shè)置一銦鎵鋅氧化合物層;對(duì)銦鎵鋅氧化合物層進(jìn)行光刻、蝕刻以及脫膜工藝,以形成半導(dǎo)體層,半導(dǎo)體層對(duì)應(yīng)薄型化區(qū)域和中間區(qū)域設(shè)置。
其中,在半導(dǎo)體層上設(shè)置源極層和漏極層的步驟進(jìn)一步包括:通過物理氣相沉積的方法在半導(dǎo)體層上設(shè)置一金屬層;對(duì)金屬層進(jìn)行光刻、蝕刻以及脫膜工藝,以形成源極層和漏極層,并且源極層和漏極層與半導(dǎo)體層接觸的區(qū)域分別對(duì)應(yīng)兩薄型化區(qū)域。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





