[發明專利]一種基于過零間隔點聲紋識別方法有效
| 申請號: | 201510586504.0 | 申請日: | 2015-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN105304087B | 公開(公告)日: | 2017-03-22 |
| 發明(設計)人: | 鄧方;關勝盤;陳杰;竇麗華;呂建耀;代鳳馳;陳文頡;白永強;李佳洪;樊欣宇;顧曉丹;張樂樂 | 申請(專利權)人: | 北京理工大學 |
| 主分類號: | G10L17/02 | 分類號: | G10L17/02;G10L17/16;G10L25/24 |
| 代理公司: | 北京理工大學專利中心11120 | 代理人: | 劉芳,仇蕾安 |
| 地址: | 100081 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 間隔 聲紋 識別 方法 | ||
技術領域
本發明屬于計算機及信息服務技術領域,具體涉及一種基于過零間隔點的聲紋識別方法。
背景技術
聲紋識別技術是在20世紀中期在美國提出的,最早進行此項技術研究的是美國貝爾實驗室的勞倫斯·克斯特,他對一百多名健康人的上萬個聲紋圖進行了分析鑒定,準確率達到99.65%。中國的聲紋識別技術起步較晚,在20世紀90年代才開始進行正式的研究,目前進行相關研究的有北京大學、清華大學、中國科學院聲學研究所以及一些政法部門。隨著各個研究領域(如材料、通信、計算機、生命科學等)的不斷發展,聲紋識別技術也在飛速發展,其可靠性和準確性將不斷提高。關于聲紋識別的算法主要包括:Mel倒譜系數(MFCC)法、基于隱馬爾科夫模型(HMM)的方法、基于過零間隔點的方法等等。
MFCC和HMM方法識別精度高,但是他們的計算量太大,對硬件要求高。基于過零間隔點的方法計算量小,只需要較低的采樣率和較少的采樣點就可以完成聲紋的識別功能,但是識別精度低。
發明內容
有鑒于此,本發明提供了一種基于過零間隔點的聲紋識別方法,該方法將原有的單維過零間隔點識別方法擴展為多維識別,提高了識別精度。
實現本發明的技術方案如下:
一種基于過零間隔點的聲紋識別方法,具體過程為:
S00、采集聲音信號:
設定采樣率為n,對一段聲音信號進行采樣,采樣點個數為k;
S01、確定過零點:
設當沒有聲音信號時的采樣值為X,有聲音信號時各個采樣點的值為X(1)、X(2)…X(k),當滿足公式(1)時:
(X(i)-X)(X(i+1)-X)≤0(i≤k-1)(1)
則記X(i)為過零點,以此類推,記錄所有過零點;
將所有過零點的采樣值記為y(1)、y(2)…y(ε),其中ε為所有過零點的總數;
S02、統計過零間隔點:
首先,統計所有相鄰過零點之間的采樣點的個數,即統計y(i+1)與y(i)之間采樣點的個數,并將其存儲到矩陣z1中,其中i=1,2,...ε-1;統計矩陣z1中各元素出現的次數,并將統計的結果存儲到矩陣w1中,將w1作為第一維特征向量;
其次,統計所有間隔一個過零點的過零點之間的采樣點的個數,即統計y(i+2)與y(i)之間采樣點的個數,并將其存儲到矩陣z2中,其中i=1,2,...ε-2;統計矩陣z2中各元素出現的次數,并將統計的結果存儲到矩陣w2中,將w2作為第二維特征向量;
以此類推,依次求出相隔兩個、三個、…、N-1個過零點的過零點之間的采樣點的個數,得到w3、w4、…、wN;
S03、建立多維特征矩陣:
將w1、w2、…、wN中長度短的特征向量后續補零,得到一個N維的特征向量;
S04、建立模板庫:
按照步驟S00至S03的方式,針對多種不同的聲音信號分別獲取其對應的N維特征向量,構建模板庫;
S05、求出匹配結果:
按照步驟S00至S03的方式,提取被檢測聲音信號的N維特征向量,并將其與模板庫中聲音信號的特征向量進行匹配,實現聲紋的識別。
進一步地,本發明所述進行匹配的過程為:將被檢測聲音信號的N維特征向量與模板庫中特征向量分別求取歐氏距離,若最小的歐式距離小于設定的閾值,將最小歐式距離所對應的聲音信號作為相匹配的聲音信號,否則,將被檢測的信號視為未知信號。
有益效果:
本發明所提供的方法依次求出相隔一個、兩個、三個、…、N-1個過零點的過零點之間的采樣點的個數,建立多維特征矩陣來進行匹配,與Mel倒譜系數(MFCC)法、基于隱馬爾科夫模型(HMM)的方法相比計算量小,與傳統的聲紋識別算法相比實時性好、精度高。
附圖說明
圖1為本發明所提供的方法的流程圖。
具體實施方式
下面結合附圖,對本發明進行詳細描述。
本發明提供了一種聲紋識別的方法,如圖1所示,該方法的具體步驟為:
S00、采集聲音信號:
設定采樣率為3000HZ,對一段聲音信號進行采樣,采樣點個數為200。
S01、確定過零點:
設當沒有聲音信號時的采樣值為X,有聲音信號時各個采樣點的值為X(1)、X(2)…X(k)。當滿足下面公式時:
(X(i)-X)(X(i+1)-X)≤0(i≤k-1)(1)
則記X(i)為過零點,以此類推,記錄所有過零點。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京理工大學,未經北京理工大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510586504.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





