[發明專利]TFT基板結構的制作方法有效
| 申請號: | 201510581903.8 | 申請日: | 2015-09-11 |
| 公開(公告)號: | CN105068373B | 公開(公告)日: | 2019-05-31 |
| 發明(設計)人: | 史雷婷;張占東 | 申請(專利權)人: | 武漢華星光電技術有限公司 |
| 主分類號: | G03F1/32 | 分類號: | G03F1/32;G03F7/20;G02F1/1339 |
| 代理公司: | 深圳市德力知識產權代理事務所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
| 地址: | 430070 湖北省武漢市*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | tft 板結 制作方法 | ||
1.一種TFT基板結構的制作方法,包括:
步驟1、提供一基板(10),所述基板(10)上設有薄膜晶體管;所述基板(10)包括有效顯示區(11)和圍繞所述有效顯示區(11)的周邊線路區(12),所述周邊線路區(12)包括扇出區(121)和非扇出區;在所述基板(10)上涂布形成平坦層(20);
其特征在于,包括:
步驟2、提供第一光罩(50),所述第一光罩(50)上具有對應于所述有效顯示區(11)的第一圖案(51)、對應于所述周邊線路區(12)的非扇出區的第二圖案(52)、及對應于所述扇出區(121)的第三圖案(53);所述第二圖案(52)、第三圖案(53)用于在所述周邊線路區(12)的平坦層(20)上形成溝槽;所述第一光罩(50)為半色調光罩,所述第一圖案(51)、第二圖案(52)為全透光,所述第三圖案(53)為半透光;
利用所述第一光罩(50)對所述平坦層(20)進行曝光、顯影,通過第一光罩(50)上的第一圖案(51)實現全曝光從而在有效顯示區(11)上方形成過孔;通過第一光罩(50)上的第二圖案(52)實現全曝光從而在非扇出區的平坦層(20)上形成第一溝槽(21);通過第一光罩(50)上的第三圖案(53)實現半曝光從而在扇出區(121)的平坦層(20)上形成第二溝槽(22);
步驟3、在所述平坦層(20)上形成透明導電層;
步驟4、在所述透明導電層上涂覆光阻;提供第二光罩,利用第二光罩對所述光阻進行曝光、顯影,去除位于所述第一溝槽(21)、第二溝槽(22)上的光阻;
步驟5、以剩余的光阻為遮擋,對所述透明導電層進行蝕刻,并剝離剩余的光阻,得到電極。
2.如權利要求1所述的TFT基板結構的制作方法,其特征在于,所述第二溝槽(22)的深度小于所述第一溝槽(21)的深度。
3.如權利要求1所述的TFT基板結構的制作方法,其特征在于,所述薄膜晶體管為低溫多晶硅薄膜晶體管。
4.如權利要求1所述的TFT基板結構的制作方法,其特征在于,所述步驟1中形成的平坦層(20)的材料為有機光阻。
5.如權利要求1所述的TFT基板結構的制作方法,其特征在于,所述步驟1中形成的平坦層(20)的厚度為2.5μm。
6.如權利要求1所述的TFT基板結構的制作方法,其特征在于,所制作的TFT基板用于形成液晶顯示面板,所述液晶顯示面板內的封框膠粘附于所述第一溝槽(21)、第二溝槽(22)內。
7.如權利要求6所述的TFT基板結構的制作方法,其特征在于,所述第二溝槽(22)的寬度大于所述第一溝槽(21)的寬度。
8.如權利要求1所述的TFT基板結構的制作方法,其特征在于,所述步驟5中形成的電極為液晶顯示面板的共通電極。
9.如權利要求1所述的TFT基板結構的制作方法,其特征在于,所述步驟3中形成的透明導電層的材料為ITO,所述透明導電層通過物理氣相沉積法形成。
10.如權利要求1所述的TFT基板結構的制作方法,其特征在于,所述步驟5采用濕法蝕刻制程對所述透明導電層進行蝕刻。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學臨近校正(OPC)設計工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準或測試的特殊涂層或標記;其制備





