[發(fā)明專利]二級(jí)馬爾科夫模型開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)可靠性定量評(píng)估方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510580356.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-09-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105203952A | 公開(公告)日: | 2015-12-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳昊;徐帥;董金龍;王星 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)礦業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/34 | 分類號(hào): | G01R31/34 |
| 代理公司: | 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 32200 | 代理人: | 唐惠芬 |
| 地址: | 221116 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 二級(jí) 馬爾科夫 模型 開關(guān) 磁阻 電機(jī) 系統(tǒng) 可靠性 定量 評(píng)估 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種定量評(píng)估方法,尤其適用于各種類型、各種相數(shù)的開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)可靠性的二級(jí)馬爾科夫模型定量分析開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)可靠性評(píng)估方法。
背景技術(shù)
開關(guān)磁阻電機(jī)結(jié)構(gòu)堅(jiān)固,轉(zhuǎn)子上無(wú)繞組,相間耦合小,容錯(cuò)性能優(yōu)良。良好的容錯(cuò)性能確保了開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)具有較高的可靠性。但是現(xiàn)有可靠性定量評(píng)估方法無(wú)法有效表征系統(tǒng)容錯(cuò)能力,無(wú)法滿足工業(yè)應(yīng)用的要求。可靠性框圖建模和故障樹建模,忽略了開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)容錯(cuò)能力,無(wú)法表示處于正常和失效狀態(tài)之間的開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)帶故障有效運(yùn)行狀態(tài),基于馬爾科夫的可靠性建模雖然能夠?qū)φ:褪еg的中間狀態(tài)進(jìn)行表征,但是常規(guī)的馬爾科夫建模方法只考慮將開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)多種故障等效為一種馬爾科夫狀態(tài),沒有考慮一種故障可以進(jìn)入不同的馬爾科夫狀態(tài),會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤的可靠性定量評(píng)估結(jié)果。開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)良好的容錯(cuò)能力使系統(tǒng)在二級(jí)故障的情況下,也有可能處于有效運(yùn)行狀態(tài),因此,需對(duì)開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)在二級(jí)故障下運(yùn)行能力進(jìn)行有效的表示,實(shí)現(xiàn)開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)可靠性的二級(jí)馬爾科夫模型定量評(píng)估。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服已有技術(shù)的不足之處,提供一種估精度和準(zhǔn)確性高,步驟簡(jiǎn)單,評(píng)估速度快,使用范圍廣的二級(jí)馬爾科夫模型定量分析開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)可靠性評(píng)估方法
為實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的,本發(fā)明的二級(jí)馬爾科夫模型定量分析開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)可靠性評(píng)估方法,其步驟如下:
將開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)正常狀態(tài)下可能發(fā)生的17種一級(jí)故障等效為一級(jí)故障下馬爾科夫空間的4個(gè)有效狀態(tài)和1個(gè)失效狀態(tài),以4個(gè)有效狀態(tài)為基礎(chǔ)將第二級(jí)故障下系統(tǒng)表現(xiàn)形式等效為14個(gè)有效狀態(tài)和4個(gè)失效狀態(tài),同時(shí)考慮初始正常狀態(tài)和最終失效狀態(tài)得到系統(tǒng)二級(jí)故障下共有19個(gè)有效狀態(tài)和6個(gè)失效狀態(tài),利用19個(gè)有效狀態(tài)和6個(gè)失效狀態(tài)建立系統(tǒng)在二級(jí)故障下的狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖,得到二級(jí)故障下的有效狀態(tài)轉(zhuǎn)移矩陣A:
狀態(tài)轉(zhuǎn)移矩陣A為19行19列的方陣,狀態(tài)轉(zhuǎn)移矩陣A的行是所處有效狀態(tài),狀態(tài)轉(zhuǎn)移矩陣A的列是要轉(zhuǎn)移的下一狀態(tài),對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)移率為狀態(tài)轉(zhuǎn)移矩陣A中對(duì)應(yīng)的元素,自身狀態(tài)的轉(zhuǎn)移率是該狀態(tài)向所有狀態(tài)轉(zhuǎn)移的轉(zhuǎn)移概率和的相反數(shù);
式(1)中,A1,A11,A12,A13,A2,A3,A4為非零矩陣,O表示零矩陣,七個(gè)非零矩陣中A11,A12,A13除了第一個(gè)元素非零外,其余均為0元素,七個(gè)子矩陣分別是:
式中,λA1、λA2、λA3、λA4、λA5、λB1、λB2、λB3、λB4、λB5、λB6、λB7、λB8、λB9、λB10、λB11、λB12、λB13、λB14、λB15、λB16、λB17、λB18、λF1、λF2、λF3、λF4、λF5、λF6、λF7、λF8、λF9、λF10、λF11、λF12、λF13、λF14是二級(jí)馬爾科夫模型狀態(tài)轉(zhuǎn)移率。
利用公式:
計(jì)算得開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)處于有效狀態(tài)的概率矩陣P(t):
式中,exp表示指數(shù)函數(shù),t表示時(shí)間,A代表狀態(tài)轉(zhuǎn)移矩陣;
利用公式(10)計(jì)算有效狀態(tài)概率矩陣P(t)各元素之和,得到開關(guān)磁阻電機(jī)系統(tǒng)的可靠度函數(shù)R(t):
R(t)=0.649exp(-0.476t)-0.0379exp(-3.86t)+0.684exp(-3.75t)-0.0857exp(-3.68t)
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)礦業(yè)大學(xué),未經(jīng)中國(guó)礦業(yè)大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510580356.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 一種基于馬爾科夫模型的進(jìn)程時(shí)間片長(zhǎng)度確定方法
- 一種利用時(shí)空馬爾科夫隨機(jī)場(chǎng)模型的視頻超分辨方法
- 基于馬爾科夫鏈的數(shù)控現(xiàn)場(chǎng)總線時(shí)鐘同步抖動(dòng)修正方法
- 一種基于多實(shí)例馬爾科夫模型的行為識(shí)別方法
- 一種再入動(dòng)態(tài)等離子鞘套馬爾科夫信道建模方法
- 一種對(duì)冗余系統(tǒng)進(jìn)行可靠性分析的方法
- 一種用可逆單分子反應(yīng)實(shí)現(xiàn)馬爾科夫鏈的設(shè)計(jì)方法
- 一種基于大數(shù)據(jù)的三維素材推薦方法
- 基于安卓系統(tǒng)的移動(dòng)設(shè)備老化重生方法
- 一種基于馬爾科夫決策過程的自適應(yīng)系統(tǒng)更新與修復(fù)方法





