[發(fā)明專利]Mura區(qū)域的亮度補(bǔ)償方法及Mura像素點(diǎn)亮度的設(shè)計(jì)方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510557218.1 | 申請日: | 2015-09-02 |
| 公開(公告)號: | CN105070273B | 公開(公告)日: | 2017-07-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄧宇帆 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G09G5/10 | 分類號: | G09G5/10 |
| 代理公司: | 深圳市德力知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所44265 | 代理人: | 林才桂 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | mura 區(qū)域 亮度 補(bǔ)償 方法 像素 設(shè)計(jì) | ||
1.一種Mura區(qū)域的亮度補(bǔ)償方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1、提供一顯示面板,所述顯示面板包括數(shù)個(gè)呈陣列排布的像素點(diǎn),所述顯示面板內(nèi)具有Mura區(qū)域及正常區(qū)域;
步驟2、獲取該顯示面板的亮度矩陣,并標(biāo)記出Mura區(qū)域,尋找并選定Mura區(qū)域中的第一個(gè)Mura像素點(diǎn);
步驟3、尋找位于選定的Mura像素點(diǎn)右方、和下方的與該Mura像素點(diǎn)的歐式距離最近的右方正常像素點(diǎn)和下方正常像素點(diǎn),分別記錄右方、和下方正常像素點(diǎn)的亮度及右方、和下方正常像素點(diǎn)與選定的Mura像素點(diǎn)之間的距離;
步驟4、尋找鄰近選定的Mura像素點(diǎn)左方、和上方的左方正常像素點(diǎn)和上方正常像素點(diǎn),分別記錄左方、和上方正常像素點(diǎn)的亮度;
步驟5、依據(jù)右方、和下方正常像素點(diǎn)的亮度、右方、和下方正常像素點(diǎn)與選定的Mura像素點(diǎn)之間的距離、及左方、和上方正常像素點(diǎn)的亮度,以距離作為權(quán)重,對位于選定的Mura像素點(diǎn)右方、下方、左方和上方的正常像素點(diǎn)的亮度做加權(quán)運(yùn)算,獲得選定的Mura像素點(diǎn)的理想亮度,并用獲得的理想亮度替換該選定的Mura像素點(diǎn)的原始亮度;
步驟6、尋找并選定Mura區(qū)域中的下一個(gè)Mura像素點(diǎn),重復(fù)步驟3至步驟5,直至處理完Mura區(qū)域內(nèi)的所有Mura像素點(diǎn),完成對該顯示面板的Mura區(qū)域的亮度補(bǔ)償。
2.如權(quán)利要求1所述的Mura區(qū)域的亮度補(bǔ)償方法,其特征在于,按照從左至右,從上至下的順序依次尋找并選定Mura區(qū)域中的Mura像素點(diǎn)。
3.如權(quán)利要求1所述的Mura區(qū)域的亮度補(bǔ)償方法,其特征在于,所述步驟5中的加權(quán)運(yùn)算公式為:
其中,Li為選定的Mura像素點(diǎn)的理想亮度,L1為所述右方正常像素點(diǎn)的亮度,L2為所述下方正常像素點(diǎn)的亮度,L3為所述左方正常像素點(diǎn)的亮度,L4為所述上方正常像素點(diǎn)的亮度,D1為所述右方正常像素點(diǎn)與選定的Mura像素點(diǎn)之間的距離,D2為所述下方正常像素點(diǎn)與選定的Mura像素點(diǎn)之間的距離;F1為所述右方正常像素點(diǎn)的存在系數(shù),若存在右方正常像素點(diǎn),則F1=1,若不存在右方正常像素點(diǎn),則F1=0;F2為所述下方正常像素點(diǎn)的存在系數(shù),若存在下方正常像素點(diǎn),則F2=1,若不存在下方正常像素點(diǎn),則F2=0;F3為所述左方正常像素點(diǎn)的存在系數(shù),若存在左方正常像素點(diǎn),則F3=1,若不存在左方正常像素點(diǎn),則F3=0;F4為所述上方正常像素點(diǎn)的存在系數(shù),若存在上方正常像素點(diǎn),則F4=1,若不存在上方正常像素點(diǎn),則F4=0。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市華星光電技術(shù)有限公司,未經(jīng)深圳市華星光電技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510557218.1/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 掩模版彎曲補(bǔ)償裝置、檢測補(bǔ)償系統(tǒng)及補(bǔ)償方法
- 半主動(dòng)升沉補(bǔ)償裝置控制系統(tǒng)
- 像素補(bǔ)償方法、裝置及電視
- 顯示面板的補(bǔ)償方法、補(bǔ)償裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 光學(xué)補(bǔ)償方法、光學(xué)補(bǔ)償系統(tǒng)、顯示方法和顯示裝置
- 一種光瞳補(bǔ)償裝置和光刻機(jī)
- 改善低壓差線性穩(wěn)壓器全負(fù)載穩(wěn)定性的補(bǔ)償方法及其電路
- 一種油量傳感器油位補(bǔ)償裝置
- 適用于長線傳輸?shù)母咝阅茈妷貉a(bǔ)償器
- 一種多抽頭補(bǔ)償電抗器智能投切控制裝置實(shí)現(xiàn)方法





