[發(fā)明專利]一種視圖合成校正方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510548614.8
• 申請日: 2015-08-31
• 公開（公告）號: CN105204173A
• 公開（公告）日: 2015-12-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陸小松;張濤;李春
• 申請（專利權(quán)）人: 重慶卓美華視光電有限公司
• 主分類號: G02B27/22
• 分類號: G02B27/22;H04N13/04
• 代理公司: 北京超凡志成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371
• 代理人: 王術(shù)蘭

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及三維顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種視圖合成校正方法及裝置。

背景技術(shù)

目前，在3D(Three-Dimensional，三維)模組的生產(chǎn)制造中的光柵貼合環(huán)節(jié)，光柵與屏幕相對位置的不確定性，導(dǎo)致最佳觀看位置偏移以及3D模組進行視圖顯示的質(zhì)量差等問題，限制了立體顯示的應(yīng)用。因此如何根據(jù)光柵貼合的偏移情況進行視圖合成校正成為急需解決的問題。

當(dāng)前現(xiàn)有技術(shù)并沒有對3D模組進行視圖合成校正，而是在生產(chǎn)3D模組的過程中對光柵貼合進行校正。具體地，在生產(chǎn)3D模組時，在光柵及屏幕上分別設(shè)置對位標(biāo)記，通過數(shù)字成像設(shè)備實時監(jiān)測將光柵上的對位標(biāo)記的位置以及屏幕上的對位標(biāo)記的位置，多次計算這兩個位置之間的偏移距離，根據(jù)計算的偏移距離反復(fù)校正光柵與屏幕之間的相對位置，最終將光柵與屏幕對準(zhǔn)，然后將對準(zhǔn)后的光柵貼合在屏幕上。

但是反復(fù)計算偏移距離，進行多次校正，實現(xiàn)起來非常復(fù)雜，且仍無法避免光柵貼合誤差，這樣后續(xù)存在光柵貼合誤差的3D模組進行視圖顯示時顯示圖像的質(zhì)量很差。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明實施例的目的在于提供一種視圖合成校正方法及裝置，獲取待校正模組對應(yīng)的位相補償量，在后續(xù)待校正模組顯示圖像時根據(jù)該位相補償量來對進行視圖合成校正，從而彌補光柵貼合不準(zhǔn)確造成的誤差，提高待校正模組顯示圖像的質(zhì)量。

本發(fā)明實施例提供了一種視圖合成校正方法，所述方法包括：

根據(jù)預(yù)設(shè)的光柵傾角、預(yù)設(shè)光柵節(jié)距、次像素寬度和次像素偏移量，獲取測試圖樣；

將所述測試圖樣加載到標(biāo)準(zhǔn)模組和待校正模組上，當(dāng)所述標(biāo)準(zhǔn)模組和所述待校正模組滿足預(yù)設(shè)條件時，獲取所述標(biāo)準(zhǔn)模組對應(yīng)的次像素偏移量及所述待校正模組對應(yīng)的次像素偏移量；

計算所述標(biāo)準(zhǔn)模組對應(yīng)的次像素偏移量與所述待校正模組對應(yīng)的次像素偏移量之間的差值，將所述差值確定為所述待校正模組對應(yīng)的位相補償量；

根據(jù)所述位相補償量，對所述待校正模組進行視圖合成校正。

優(yōu)選地，所述根據(jù)預(yù)設(shè)的光柵傾角、預(yù)設(shè)光柵節(jié)距、次像素寬度和次像素偏移量，獲取測試圖樣，包括：

根據(jù)預(yù)設(shè)的光柵傾角、預(yù)設(shè)光柵節(jié)距、次像素寬度和次像素偏移量，通過如下公式(1)為測試圖樣中的每個次像素進行灰階賦值，得到8位顏色深度的二進制黑白交替的測試圖樣；

G(i,j,k)=0,0≤V1<0.5255,0.5≤V1<1...(1)]]>

或者，根據(jù)預(yù)設(shè)的光柵傾角、預(yù)設(shè)光柵節(jié)距、次像素寬度和次像素偏移量，通過如下公式(2)為測試圖樣中的每個次像素進行灰階賦值，得到8位顏色深度的線性交織的紅綠測試圖樣；