[發明專利]一種視圖合成校正方法及裝置

在審

• 申請號: 201510548614.8
• 申請日: 2015-08-31
• 公開（公告）號: CN105204173A
• 公開（公告）日: 2015-12-30
• 發明（設計）人: 陸小松;張濤;李春
• 申請（專利權）人: 重慶卓美華視光電有限公司
• 主分類號: G02B27/22
• 分類號: G02B27/22;H04N13/04
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 王術蘭

1.一種視圖合成校正方法，其特征在于，所述方法包括：

根據預設的光柵傾角、預設光柵節距、次像素寬度和次像素偏移量，獲取測試圖樣；

將所述測試圖樣加載到標準模組和待校正模組上，當所述標準模組和所述待校正模組滿足預設條件時，獲取所述標準模組對應的次像素偏移量及所述待校正模組對應的次像素偏移量；

計算所述標準模組對應的次像素偏移量與所述待校正模組對應的次像素偏移量之間的差值，將所述差值確定為所述待校正模組對應的位相補償量；

根據所述位相補償量，對所述待校正模組進行視圖合成校正。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據預設的光柵傾角、預設光柵節距、次像素寬度和次像素偏移量，獲取測試圖樣，包括：

根據預設的光柵傾角、預設光柵節距、次像素寬度和次像素偏移量，通過如下公式(1)為測試圖樣中的每個次像素進行灰階賦值，得到8位顏色深度的二進制黑白交替的測試圖樣；

G(i,j,k)=0,0≤V1<0.5255,0.5≤V1<1...(1)]]>

或者，根據預設的光柵傾角、預設光柵節距、次像素寬度和次像素偏移量，通過如下公式(2)為測試圖樣中的每個次像素進行灰階賦值，得到8位顏色深度的線性交織的紅綠測試圖樣；

G(i,j,k)=255*|2V1-1|,k=0255*(1-|2V1-1|),k=10,k=2...(2)]]>

其中，在公式(1)和(2)中，i為次像素所在的行的序號，j為次像素所在的列的序號，k為次像素在第i行第j列的次像素序數，G_(i,j,k)為第i行第j列第k個次像素的顏色灰階，V1=frac[3i+k-3j*tan(alpha)+δpitch],]]>alpha為預設的光柵傾角，δ為次像素偏移量，pitch為預設光柵節距與次像素寬度之間的比值。