[發(fā)明專(zhuān)利]基于多類(lèi)型光譜特征參數(shù)協(xié)同的礦物類(lèi)型遙感識(shí)別方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510547254.X | 申請(qǐng)日: | 2015-08-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105606537A | 公開(kāi)(公告)日: | 2016-05-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 明艷芳;韋晶;賈臣;米雪婷;田信鵬 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 山東科技大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/25 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/25 |
| 代理公司: | 濟(jì)南舜源專(zhuān)利事務(wù)所有限公司 37205 | 代理人: | 朱玉建 |
| 地址: | 266590 山東省青*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 類(lèi)型 光譜 特征 參數(shù) 協(xié)同 礦物 遙感 識(shí)別 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種基于多類(lèi)型光譜特征參數(shù)協(xié)同的礦物類(lèi)型遙感識(shí)別方法,適用于多種高 光譜數(shù)據(jù)的區(qū)域礦物填圖領(lǐng)域。
背景技術(shù)
由于高光譜遙感數(shù)據(jù)具有波段連續(xù)、波譜分辨率高的特點(diǎn),可以在礦物類(lèi)型識(shí)別中發(fā)揮 重要作用,且已經(jīng)在局部區(qū)域礦物填圖等工作中得到逐步廣泛的應(yīng)用。利用遙感手段可以從 廣域空間、多時(shí)相尺度下實(shí)現(xiàn)礦物信息的快速識(shí)別和提取,縮短礦物填圖時(shí)間,提高效率。 然而由于地表結(jié)構(gòu)復(fù)雜、混合像元及大氣環(huán)境背景影響等因素的限制,致使利用遙感技術(shù)進(jìn) 行礦物識(shí)別的精度不高。因此,研究高精度的礦物信息識(shí)別方法具有重要的意義。
當(dāng)前的高光譜遙感數(shù)據(jù)識(shí)別礦物類(lèi)型的方法主要分為兩類(lèi):
一類(lèi)是基于光譜匹配的方法,使用連續(xù)的高光譜遙感數(shù)據(jù)與地表測(cè)量的具體類(lèi)型的礦物 光譜數(shù)據(jù)匹配,依據(jù)二者匹配的相似性或距離差異確定礦物類(lèi)型。該方法的限制性主要有兩 個(gè)方面:(1)由于受當(dāng)前技術(shù)條件及環(huán)境背景、大氣參數(shù)等因素的影響,即使對(duì)高光譜遙感 數(shù)據(jù)進(jìn)行地表反射率的恢復(fù)重建等處理,仍然不能完全消除大氣對(duì)地表真實(shí)光譜的影響;(2) 混合像元對(duì)光譜有明顯的影響,地表的礦物光譜是測(cè)量的純凈礦物光譜信息,而遙感測(cè)量的 是礦物及周?chē)尘耙鼐C合作用的光譜,二者匹配有較大困難。以上因素使得直接用光譜匹 配技術(shù)識(shí)別礦物類(lèi)型存在明顯的不確定性。
另一類(lèi)是基于特定礦物光譜特征參數(shù)的識(shí)別方法,不同的礦物類(lèi)型,在不同的光譜波段 體現(xiàn)出獨(dú)特的光譜特征,依據(jù)特定類(lèi)型礦物的光譜特征參數(shù)可以識(shí)別出該類(lèi)型的礦物。在礦 物類(lèi)型單一的區(qū)域,該方法能體現(xiàn)出較高的精度,而在礦物類(lèi)型復(fù)雜的區(qū)域,由于礦物的光 譜特征主要集中在短波紅外這一非常窄的波長(zhǎng)區(qū)域,單一的光譜特征參數(shù)很難區(qū)分出不同類(lèi) 型的礦物。因此,當(dāng)前技術(shù)方法的局限,限制了高光譜遙感技術(shù)在礦物類(lèi)型識(shí)別中的應(yīng)用。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提出一種基于多類(lèi)型光譜特征參數(shù)協(xié)同的 礦物類(lèi)型遙感識(shí)別方法,能夠有效提高區(qū)域的礦物填圖精度。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
基于多類(lèi)型光譜特征參數(shù)協(xié)同的礦物類(lèi)型遙感識(shí)別方法,包括如下步驟:
a高光譜數(shù)據(jù)預(yù)處理
對(duì)高光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行光譜重建;
光譜重建包括壞線修復(fù)、絕對(duì)輻亮度值轉(zhuǎn)換、大氣校正、條紋去除及光譜平滑處理;
b典型礦物波譜處理
針對(duì)不同的高光譜數(shù)據(jù),按照不同的采樣間隔對(duì)典型礦物波譜數(shù)據(jù)進(jìn)行波譜重采樣;
c多類(lèi)型光譜特征參數(shù)解算
首先對(duì)高光譜數(shù)據(jù)和典型礦物波譜進(jìn)行包絡(luò)線去除處理,然后再分別提取其多類(lèi)型光譜 特征參數(shù);
其中,光譜特征參數(shù)包括吸收波谷位置、吸收反射率、吸收深度、吸收寬度、吸收斜率、 吸收對(duì)稱度、吸收面積、光譜吸收指數(shù)、吸收左肩位置及吸收右肩位置;
d監(jiān)督分類(lèi)法礦物填圖實(shí)驗(yàn)
通過(guò)最佳指數(shù)因子計(jì)算不同類(lèi)型光譜特征參數(shù)組合的信息量,確定最佳光譜特征參數(shù)組 合,基于模式識(shí)別方法進(jìn)行礦物填圖實(shí)驗(yàn);
e決策樹(shù)分類(lèi)法礦物填圖實(shí)驗(yàn)
首先對(duì)典型礦物波譜的多類(lèi)型光譜特征參數(shù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析,然后參照高光譜數(shù)據(jù)中礦物 端元對(duì)應(yīng)的光譜特征參數(shù)值,構(gòu)建研究區(qū)礦物類(lèi)型識(shí)別決策樹(shù)模型,進(jìn)行礦物填圖實(shí)驗(yàn)。
本發(fā)明具有如下優(yōu)點(diǎn):
本發(fā)明中的礦物類(lèi)型遙感識(shí)別方法是基于多類(lèi)型光譜特征參數(shù)的協(xié)同,能夠有效降低或 減弱混合光譜、光譜畸變、大氣及復(fù)雜環(huán)境背景等因素的影響,保持較高的穩(wěn)定性,具有較 高的整體礦物識(shí)別精度。本發(fā)明為高光譜礦物識(shí)別提供了一種新思路,可為以后使用高光譜 遙感手段進(jìn)行礦物類(lèi)型識(shí)別中不同信息的綜合應(yīng)用提供借鑒。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明實(shí)施例中基于多類(lèi)型光譜特征參數(shù)協(xié)同的礦物類(lèi)型遙感識(shí)別流程框圖;
圖2為本發(fā)明實(shí)施例中光譜特征參數(shù)計(jì)算示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖以及具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明:
如圖1所示,基于多類(lèi)型光譜特征參數(shù)協(xié)同的礦物類(lèi)型遙感識(shí)別方法,包括如下步驟:
a高光譜數(shù)據(jù)預(yù)處理
為準(zhǔn)確獲取地物的真實(shí)地表反射率信息,需要對(duì)高光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行光譜重建。光譜重建包 括壞線修復(fù)、絕對(duì)輻亮度值轉(zhuǎn)換、大氣校正、條紋去除及光譜平滑處理。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





