[發明專利]一種高精度電壓校準方法

有效

• 申請號: 201510540285.2
• 申請日: 2015-08-31
• 公開（公告）號: CN105158715B
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: 余敏;徐文賦;朱立湘;李潤朝
• 申請（專利權）人: 惠州市藍微電子有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 陳衛;禹小明

本發明涉及一種高精度電壓校準方法，該方法步驟如下：S1、設置電壓值VREF為電壓采樣基準值；S2、修正電壓保護點比較閾值Value；S3、對外部電池電壓逐個進行AD采樣與校準，并修正總電壓采樣值value_AD；S4、比較電壓保護點比較閾值Value和總電壓采樣值value_AD的大小并依據一定的判決準則進行判決。與現有技術相比，本發明對電壓保護點比較閾值Value的修正，可以實現對電壓檢測保護點的靈活調整，自動化程度高，滿足不同客戶不同產品功能需求。其次，對外部電池電壓的逐個校準與對總電壓的修正，提高了采樣電壓的精確度。最后，MCU選型AD位數越多，校準后的結果精度越高。

技術領域

本發明涉及電壓校準領域，具體地說是一種高精度電壓校準方法。

背景技術

目前電動工具領域，產品方案分為硬件方案和軟件方案，硬件方案在做電壓檢測保護時，單節電池電壓在不進行生產校準的情況下，精度一般為±30mV，電壓精度取決于硬件芯片生產廠家。但是由于硬件方案在產品設計應用上，使用不夠靈活，存在局限性，不能完全滿足不同客戶不同產品功能需求?，F有方法中，電壓檢測保護點唯一，且是在設計之初就是固定不變的，這不利于對不同產品的流通應用，也不利于電壓的動態保護。另一方面，在不進行校準的情況下,電池電壓的AD采樣誤差都較大，批量生產超過±50mV，現有方法較難實現±30mV精度的要求。

發明內容

針對上述現有技術，本發明要解決的技術問題是提供一種高精度電壓校準方法，有效解決產品不夠靈活及精度較低的問題。

為了解決上述問題，本發明的高精度電壓校準方法, 步驟如下：

S1、設置電壓值VREF為電壓采樣基準值；

S2、修正電壓保護點比較閾值Value；

S3、對外部電池電壓逐個進行AD采樣與校準，并修正總電壓采樣值value_AD。

S4、比較電壓保護點比較閾值Value和總電壓采樣值value_AD的大小并依據一定的判決準則進行判決。

優選的，所述步驟S2還包括如下分步驟：

S21、讀取外部參考基準電壓值VCCREF并判斷是否讀取成功，若否，循環執行本步驟，若是，執行下一步操作；

S22、對電壓采樣基準電壓值VREF進行校準；

S23、依據以下公式進行電壓保護點比較閾值Value的修正，

Value =Vcom/VREF*ADbit

其中，Value為電壓保護比較閾值變量，Vcom為修正前的電壓保護值，VREF為電壓采樣基準值，ADbit為MCU的AD位值。

優選的，所述步驟S3還包括如下分步驟：

S31、對外部電池電壓進行AD采樣得到B1_AD，B2_AD, B3_AD, B4_AD……B(N)_AD變量，其中Ｎ≧２；

S32、計算上一步驟中各個外部電池電壓B(n)_AD的采樣誤差并校準；

S33、依據以下公式進行總電壓AD采樣值value_AD的修正，

Value_AD=∑[B(n)_AD ± error(n)_AD]

其中， value_AD為校準后的總電壓AD采樣值，B(n)_AD為電池B(n)的AD采樣值，error(n)_AD為電池B(n)的AD誤差值。

優選的，所述±符號的取舍準則為：當校準前的采樣值小于理論值時，采用加法運算；當校準前的采樣值大于理論值時，采用減法運算。

優選的，所述步驟S4的判斷準則可以為過壓保護準則或欠壓保護準則。