[發明專利]一種高精度電壓校準方法

有效

• 申請號: 201510540285.2
• 申請日: 2015-08-31
• 公開（公告）號: CN105158715B
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: 余敏;徐文賦;朱立湘;李潤朝
• 申請（專利權）人: 惠州市藍微電子有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 陳衛;禹小明

1.一種高精度電壓校準方法,其特征在于：該方法步驟如下：

S1、設置電壓值VREF為電壓采樣基準值；

S2、修正電壓保護點比較閾值Value；

S3、對外部電池電壓逐個進行AD采樣與校準，并修正總電壓采樣值value_AD；

S4、比較電壓保護點比較閾值Value和總電壓采樣值value_AD的大小并依據一定的判決準則進行判決；

所述步驟S2還包括如下分步驟：

S21、讀取外部參考基準電壓值VCCREF并判斷是否讀取成功，若否，循環執行本步驟，若是，執行下一步操作；

S22、對電壓采樣基準電壓值VREF進行校準；

S23、依據以下公式進行電壓保護點比較閾值Value的修正，

Value =Vcom/VREF*ADbit

其中，Value為電壓保護比較閾值變量，Vcom為修正前的電壓保護值，VREF為電壓采樣基準值，ADbit為MCU的AD位值；

所述步驟S3還包括如下分步驟：

S31、對外部電池電壓進行AD采樣得到B1_AD，B2_AD, B3_AD, B4_AD……B(N)_AD變量，其中Ｎ≧２；

S32、計算上一步驟中各個外部電池電壓B(n)_AD的采樣誤差并校準；

S33、依據以下公式進行總電壓AD采樣值value_AD的修正，

Value_AD=∑[B(n)_AD ± error(n)_AD]

其中， value_AD為校準后的總電壓AD采樣值，B(n)_AD為電池B(n)的AD采樣值， error(n)_AD為電池B(n)的AD誤差值。

2.根據權利要求1所述的高精度電壓校準方法，其特征在于，所述±符號的取舍準則為：當校準前的采樣值小于理論值時，采用加法運算；當校準前的采樣值大于理論值時，采用減法運算。

3.根據權利要求1-2中任一所述的高精度電壓校準方法，其特征在于，所述步驟S4的判斷準則可以為過壓保護準則或欠壓保護準則。

4.根據權利要求3所述的高精度電壓校準方法，其特征在于，所述步驟S4的判斷準則過壓保護準則時，判斷如下：

當Value_AD<Value時，返回步驟S2；當Value_AD>value時,電路進入過壓保護模式。

5.根據權利要求3所述的高精度電壓校準方法，其特征在于，所述步驟S4的判斷準則欠壓保護準則時，判斷如下：

當Value_AD>Value時，返回步驟S2；當Value_AD<value時,電路進入欠壓保護模式。