[發(fā)明專利]一種測試編帶機(jī)的芯片探測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510526301.2 | 申請日: | 2015-08-25 |
| 公開(公告)號: | CN105182217B | 公開(公告)日: | 2017-11-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張萬功;尹梓偉 | 申請(專利權(quán))人: | 東莞中之光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 廣東莞信律師事務(wù)所44332 | 代理人: | 曾秋梅 |
| 地址: | 523000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測試 編帶機(jī) 芯片 探測 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及LED測試編帶機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一測試編帶機(jī)的芯片探測裝置。
背景技術(shù)
為了適應(yīng)LED的SOD系列的芯片通過SMT技術(shù)貼裝至電路板的要求,SOD系列的芯片一般情況下需要進(jìn)行編帶封裝,于是測試編帶機(jī)因此而存在。為了配合編帶機(jī)整機(jī)的自動化生產(chǎn),編帶機(jī)中的SOD系列的芯片必須是方向一致的編帶產(chǎn)品。
現(xiàn)有技術(shù)中的SOD芯片的測試一般使用高速光學(xué)光譜儀、電參量測量儀和機(jī)械傳送系統(tǒng)。具體的,其機(jī)械傳送系統(tǒng)主要包括振動入料、吸料移送、芯片定位、芯片測試、芯片轉(zhuǎn)向、分料機(jī)構(gòu)、芯片測試是測試編帶機(jī)的核心機(jī)構(gòu),中國專利201110242970.9公開了一種SMDLED貼片分光機(jī)用芯片探測裝置,該專利的驅(qū)動源驅(qū)動同步驅(qū)動機(jī)構(gòu),彈性探針組件在同步驅(qū)動機(jī)構(gòu)的作用下可同時(shí)接觸或者遠(yuǎn)離待測試芯片,這種結(jié)構(gòu)在探測時(shí)一次只能進(jìn)行一個(gè)芯片的測試,效率較低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了克服現(xiàn)有技術(shù)中一次只能探測一個(gè)芯片之效率較低的不足,提供了一次可探測多個(gè)芯片的高效率的測試編帶機(jī)的芯片探測裝置。
本發(fā)明是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題的:
一種測試編帶機(jī)的芯片探測裝置,用于連接芯片與測試設(shè)備進(jìn)行檢測,包括探測頭夾具和驅(qū)動探測頭夾具活動的驅(qū)動機(jī)構(gòu),所述探測頭夾具包括兩個(gè)主干臂,兩個(gè)主干臂的中心位置鉸接于一轉(zhuǎn)軸,兩個(gè)主干臂的端頭與所述轉(zhuǎn)軸之間設(shè)有連接兩個(gè)主桿的一拉簧,所述主干臂的端頭延伸出兩個(gè)分枝臂,所述兩個(gè)主干臂共延伸出八個(gè)分枝臂,每個(gè)分枝臂設(shè)有與芯片觸腳對應(yīng)的彈性電極探針,所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)包括一底座、固定至底座上減速電機(jī)以及與減速電機(jī)傳動相連的絲桿組件,所述絲桿組件的絲桿的兩端通過軸承座固定至底座上,所述絲桿的一端通過聯(lián)軸器與減速電機(jī)的動力輸出軸連接,所述探測頭夾具的兩主干臂的轉(zhuǎn)軸固連至絲桿組件的滑塊,所述兩主干臂之間設(shè)有一凸塊,所述凸塊固連至底座上,所述凸塊位于所述絲桿的軸心線的同一直線上。
更具體的,所述彈性電極探針的一端為一彈性觸頭,另一端通過導(dǎo)線與測試設(shè)備連接,所述導(dǎo)線與彈性觸頭連接。
更具體的,主干臂端頭延伸出的兩個(gè)分枝臂互相垂直,且每個(gè)分支臂和與該主干臂的夾角均為135度。
更具體的,所述滑塊在轉(zhuǎn)軸的兩側(cè)分別設(shè)有一限位柱。
更具體的,所述凸塊為橢圓柱體或圓柱體。
更具體的,所述主干臂端頭延伸出的兩個(gè)分枝臂與主干臂一體成型。
更具體的,還包括與探測頭夾具配合的真空吸嘴裝置,所述真空吸嘴裝置包括一個(gè)吸嘴架和固連至吸嘴架的四個(gè)真空吸嘴,所述四個(gè)真空吸嘴的位置與探測頭夾具中固定待測芯片的位置對應(yīng)。
本發(fā)明的有益效果在于,本發(fā)明通過一對鉸接的十字架狀的主干臂結(jié)構(gòu),固定有四組彈性探測電極,相對的兩組彈性探測電極為對稱狀態(tài),一次可同時(shí)探測一對芯片,位置精確,通過輕微的角度調(diào)整,可以使另一方向的對稱彈性探測電極探測另一對芯片,測試速度大大提升。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的俯視圖。
圖2為本發(fā)明的真空吸嘴裝置的俯視圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖給出本發(fā)明較佳實(shí)施例,以詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)方案。
如圖1,實(shí)施例包括探測頭夾具和驅(qū)動探測頭夾具活動的驅(qū)動機(jī)構(gòu),所述探測頭夾具包括兩個(gè)主干臂1,兩個(gè)主干臂1的中心位置鉸接于一轉(zhuǎn)軸2,兩個(gè)主干臂1的端頭與所述轉(zhuǎn)軸2之間設(shè)有連接兩個(gè)主桿1的一拉簧11,所述主干臂1的端頭延伸出兩個(gè)一體成型的分枝臂3,所述兩個(gè)主干臂1共延伸出八個(gè)分枝臂3,每個(gè)分枝臂3設(shè)有與芯片觸腳對應(yīng)的彈性電極探針4。
所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)包括一底座6、固定至底座6上減速電機(jī)5以及與減速電機(jī)5傳動相連的絲桿組件80,所述絲桿組件80的絲桿的兩端通過軸承座7固定至底座6上,所述絲桿的一端通過聯(lián)軸器51與減速電機(jī)5的動力輸出軸連接,所述探測頭夾具的兩主干臂1的轉(zhuǎn)軸2固連至絲桿組件80的滑塊81,所述兩主干臂1之間設(shè)有一凸塊84,所述凸塊84固連至底座6上,所述凸塊84位于所述絲桿的軸心線的同一直線上。
所述彈性電極探針4的一端為一彈性觸頭40,另一端通過導(dǎo)線41與測試設(shè)備連接,所述導(dǎo)線41與彈性觸頭40連接。
所述一個(gè)主干臂1端頭延伸出的兩個(gè)分枝臂3互相垂直,且每個(gè)分支臂3和與該主干臂1的夾角均為135度。
所述滑塊81在轉(zhuǎn)軸2的兩側(cè)分別設(shè)有一個(gè)限位柱83。
所述凸塊84為橢圓柱體。
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