[發明專利]一種測試編帶機的芯片探測裝置

有效

• 申請號: 201510526301.2
• 申請日: 2015-08-25
• 公開（公告）號: CN105182217B
• 公開（公告）日: 2017-11-07
• 發明（設計）人: 張萬功;尹梓偉
• 申請（專利權）人: 東莞中之光電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣東莞信律師事務所44332
• 代理人: 曾秋梅

1.一種測試編帶機的芯片探測裝置，用于連接芯片與測試設備進行檢測，其特征在于，包括探測頭夾具和驅動探測頭夾具活動的驅動機構，所述探測頭夾具包括兩個主干臂，兩個主干臂的中心位置鉸接于一轉軸，兩個主干臂的端頭與所述轉軸之間設有連接兩個主桿的一拉簧，所述主干臂的端頭延伸出兩個分枝臂，所述兩個主干臂共延伸出八個分枝臂，每個分枝臂設有與芯片觸腳對應的彈性電極探針，所述驅動機構包括一底座、固定至底座上減速電機以及與減速電機傳動相連的絲桿組件，所述絲桿組件的絲桿的兩端通過軸承座固定至底座上，所述絲桿的一端通過聯軸器與減速電機的動力輸出軸連接，所述探測頭夾具的兩主干臂的轉軸固連至絲桿組件的滑塊，所述兩主干臂之間設有一凸塊，所述凸塊固連至底座上，所述凸塊位于所述絲桿的軸心線的同一直線上。

2.根據權利要求1所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，所述彈性電極探針的一端為一彈性觸頭，另一端通過導線與測試設備連接，所述導線與彈性觸頭連接。

3.根據權利要求2所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，主干臂端頭延伸出的兩個分枝臂互相垂直，且每個分支臂和與該主干臂的夾角均為135度。

4.根據權利要求3所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，所述滑塊在轉軸的兩側分別設有一限位柱。

5.根據權利要求4所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，所述凸塊為圓柱體或橢圓柱體。

6.根據權利要求5所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，所述主干臂端頭延伸出的兩個分枝臂與主干臂一體成型。

7.根據權利要求6所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，還包括與探測頭夾具配合的真空吸嘴裝置，所述真空吸嘴裝置包括一個吸嘴架和固連至吸嘴架的四個真空吸嘴，所述四個真空吸嘴的位置與探測頭夾具中固定待測芯片的位置對應。