[發明專利]單晶硅太陽能電池的制備方法有效
| 申請號: | 201510515015.6 | 申請日: | 2015-08-21 |
| 公開(公告)號: | CN105154983B | 公開(公告)日: | 2017-09-12 |
| 發明(設計)人: | 何云海 | 申請(專利權)人: | 浙江啟鑫新能源科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0236 | 分類號: | H01L31/0236 |
| 代理公司: | 寧波市鄞州甬致專利代理事務所(普通合伙)33228 | 代理人: | 代忠炯 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 單晶硅 太陽能電池 制備 方法 | ||
技術領域
本發明涉及太陽能電池制備方法技術領域,具體涉及一種單晶硅太陽能電池的制備方法。
背景技術
單晶硅具有基本完整的點陣結構的晶體。不同的方向具有不同的性質,是一種良好的半導材料。純度要求達到99.9999%,甚至達到99.9999999%以上。用于制造半導體器件、太陽能電池等。用高純度的單晶硅在單晶爐內拉制而成。隨著節能減排和環保意識的逐漸增強,單晶硅電池作為一種清潔、無污染、節能的新能源,應用的越來越廣泛。
目前,單晶硅電池的制備流程一般包括制絨、擴散、刻蝕、清洗和鍍膜工序。上述工序較為關鍵的是制絨、擴散和鍍膜工序,比如其中的制絨工序,絨面的均勻度直接影響電池的性能,如果不均勻會導致電池反射率提高,減反射效果差;另鍍膜過程膜的膜色、厚度等對電池的反射率均有很大程度的影響。現有技術在絨面制作過程采用較多的是單一的廉價的堿性腐蝕,如采用氫氧化鈉等,但往往存在絨面不均勻、反射率高等不足;而在鍍膜等工序控制過程,也會造成膜厚等參數的差異化導致反射率提高的不足。
發明內容
本發明針對現有技術的上述不足,提供一種絨面均勻、膜色和膜厚均勻、反射率低的單晶硅太陽能電池的制備方法。
為了解決上述技術問題,本發明采用的技術方案為:一種單晶硅太陽能電池的制備方法,處理步驟包括:
(1)首先在制絨槽內配置制絨水溶液,其中氫氧化鈉的質量百分比為1.5-2.5%,磷酸鈉的質量百分比為2-5%,硅酸鈉的質量百分比為3-5%,異丙醇的質量百分比為2-4.5%,乳酸200-600ppm;將所述的制絨水溶液的溫度控制在80-90℃,然后將單晶硅片加入到上述的制絨水溶液中,停留1000-1200S;
(2)然后將步驟(1)制絨后的單晶硅片取出、清洗干凈然后置于擴散爐內的石英舟內,采用三氯氧磷液態源作為擴散源,在800-950℃下通過氮氣帶動三氯氧磷進入石英周中與硅片反應,制備PN結;
(3)將步驟(2)制備PN結的硅片進行邊緣刻蝕,具體為將硅片置于氫氟酸與硝酸的混合溶液中進行刻蝕,其中氫氟酸與硝酸的體積比為:5-20:1;
(4)刻蝕完成后,將硅片取出并清洗干凈,然后鍍反射膜,具體為:將硅片裝入石墨舟中,放入抽真空的沉積腔室中,然后進行第一層氮化硅的沉積:第一層氮化硅沉積溫度為450℃~500℃,第一層氮化硅沉積功率為6000W~6500W,第一層氮化硅沉積氣體比例為氨氣與硅烷的流量比4~6:1,第一層氮化硅沉積時間為100~250s;將沉積第一層氮化硅之后的硅片進行第二層的氮化硅沉積:第二層氮化硅沉積溫度為450℃~500℃,第二層氮化硅沉積功率為6000W~6500W,第二層氮化硅沉積氣體比例為氨氣與硅烷的流量比8~12:1,第二層氮化硅沉積時間為600~720s;
(5)刻蝕完成后進行絲網印刷制備成單晶硅太陽能電池。
作為優選,步驟(1)所述的制絨水溶液,其中氫氧化鈉的質量百分比為1.5-2%,磷酸鈉的質量百分比為2-3%,硅酸鈉的質量百分比為3-4%,異丙醇的質量百分比為2-3%,乳酸的質量百分比為401-450ppm;采用上述配比,制備出的絨面更加均勻,硅片上的金字塔形狀更加規則、覆蓋率高,間隙少,有效提高減反射率。
作為優選,步驟(4)鍍反射膜,具體為:將硅片裝入石墨舟中,放入抽真空的沉積腔室中,然后進行第一層氮化硅的沉積:第一層氮化硅沉積溫度為450℃~480℃,第一層氮化硅沉積功率為6200W~6500W,第一層氮化硅沉積氣體比例為氨氣與硅烷的流量比4~4.5:1,第一層氮化硅沉積時間為110~150s;將沉積第一層氮化硅之后的硅片進行第二層的氮化硅沉積:第二層氮化硅沉積溫度為450℃~480℃,第二層氮化硅沉積功率為6200W~6500W,第二層氮化硅沉積氣體比例為氨氣與硅烷的流量比8~10:1,第二層氮化硅沉積時間為600~650s;采用上述鍍膜工藝,膜色和膜厚更加均勻,進一步降低了硅片的反射率。
本發明的優點和優異效果:
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