[發(fā)明專利]陣列基板及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510487237.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-08-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105137672B | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-11-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉洋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02F1/1343 | 分類號(hào): | G02F1/1343;G02F1/1362;G02F1/1368;H01L21/77;H01L27/12 |
| 代理公司: | 北京聿宏知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11372 | 代理人: | 朱繪;徐彥圣 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陣列 及其 制造 方法 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種陣列基板及其制造方法,屬于顯示技術(shù)領(lǐng)域,解決了現(xiàn)有的陣列基板的制造過(guò)程過(guò)于復(fù)雜的技術(shù)問(wèn)題。該陣列基板包括形成于襯底基板上的多個(gè)子像素單元,每個(gè)所述子像素單元中包括薄膜晶體管和第二像素電極;所述薄膜晶體管的有源層和所述第二像素電極位于同一圖層;所述有源層的材料為氧化物半導(dǎo)體;所述第二像素電極的材料為經(jīng)等離子體處理的氧化物半導(dǎo)體。本發(fā)明可用于IPS型或FFS型液晶顯示器中。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,具體的說(shuō),涉及一種陣列基板及其制造方法。
背景技術(shù)
隨著顯示技術(shù)的發(fā)展,液晶顯示器已經(jīng)成為最為常見(jiàn)的顯示裝置。
平面轉(zhuǎn)換(In-Plane Switching,簡(jiǎn)稱IPS)技術(shù)及邊緣場(chǎng)開(kāi)關(guān)(Fringe FieldSwitching,簡(jiǎn)稱FFS)技術(shù)中,第一像素電極和第二像素電極均設(shè)置在陣列基板上,從而能夠以水平方向的電場(chǎng)驅(qū)動(dòng)液晶,因此具有寬視角,高亮度,高對(duì)比度,快速響應(yīng)等優(yōu)點(diǎn)。
現(xiàn)有的IPS型、FFS型液晶顯示器的陣列基板,需要依次利用掩膜版構(gòu)圖工藝形成柵極金屬層、有源層、源漏極金屬層、第一透明電極層、過(guò)孔圖案、第二透明電極層,共需要進(jìn)行六次掩膜版構(gòu)圖工藝,因此存在制造過(guò)程過(guò)于復(fù)雜的技術(shù)問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種陣列基板及其制造方法,以解決現(xiàn)有的陣列基板的制造過(guò)程過(guò)于復(fù)雜的技術(shù)問(wèn)題。
本發(fā)明提供一種陣列基板的制造方法,包括:
在襯底基板上形成掃描線、公共電極線、薄膜晶體管的柵極和第一像素電極;
覆蓋一層?xùn)艠O絕緣層;
在所述柵極絕緣層上形成氧化物半導(dǎo)體圖形、數(shù)據(jù)線和薄膜晶體管的源極,其中,所述氧化物半導(dǎo)體圖形包括薄膜晶體管的有源層和第二像素電極圖形;
覆蓋一層鈍化層;
對(duì)所述鈍化層進(jìn)行蝕刻,露出所述氧化物半導(dǎo)體圖形中的第二像素電極圖形;
對(duì)所述氧化物半導(dǎo)體圖形中的第二像素電極圖形進(jìn)行等離子體處理,形成第二像素電極。
進(jìn)一步的是,對(duì)所述氧化物半導(dǎo)體圖形中的第二像素電極圖形進(jìn)行等離子體處理,具體為:
利用SF6、N2、Ar或He,對(duì)所述氧化物半導(dǎo)體圖形中的第二像素電極圖形進(jìn)行等離子體處理。
優(yōu)選的是,在襯底基板上形成掃描線、公共電極線、薄膜晶體管的柵極和第一像素電極,具體為:
在襯底基板上依次形成透明電極層和第一金屬層;
在所述第一金屬層上覆蓋光刻膠,并利用半色調(diào)掩膜版、灰色調(diào)掩模版或單狹縫掩膜版進(jìn)行曝光、顯影;
對(duì)所述第一金屬層和所述透明電極層進(jìn)行蝕刻,形成掃描線、公共電極線和薄膜晶體管的柵極;
對(duì)光刻膠進(jìn)行灰化;
對(duì)所述第一金屬層進(jìn)行蝕刻,形成第一像素電極;
剝離剩余的光刻膠。
優(yōu)選的是,在所述柵極絕緣層上形成氧化物半導(dǎo)體圖形、數(shù)據(jù)線和薄膜晶體管的源極,具體為:
在柵極絕緣層上依次形成氧化物半導(dǎo)體層和第二金屬層;
在所述第二金屬層上覆蓋光刻膠,并利用半色調(diào)掩膜版、灰色調(diào)掩模版或單狹縫掩膜版進(jìn)行曝光、顯影;
對(duì)所述第二金屬層和所述氧化物半導(dǎo)體層進(jìn)行蝕刻,形成數(shù)據(jù)線和薄膜晶體管的源極;
對(duì)光刻膠進(jìn)行灰化;
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G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過(guò)改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來(lái)修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來(lái)自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對(duì)強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
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