[發明專利]多頻分光光度計的修正值的獲取方法

有效

• 申請號: 201510470556.1
• 申請日: 2015-08-04
• 公開（公告）號: CN105092039B
• 公開（公告）日: 2017-04-12
• 發明（設計）人: 王俐;張維維;敖雪麗
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01J3/50
• 分類號: G01J3/50
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙)44280
• 代理人: 何青瓦

技術領域

本發明涉及液晶技術領域，特別是涉及一種多頻分光光度計的修正值的獲取方法。

背景技術

液晶顯示器的色彩品質很大部分取決于其CF(彩色濾光陣列基板)側色阻的色度表現，因此在產品開發及生產階段，對色阻的色度的準確測量與控制顯得尤為重要。多頻分光光度計(MultiChannelPhotoDetector，MCPD)作為量測色阻的色度的重要設備，其測量的準確性對于色阻的色度評估與控制有著重要的作用。由于設備成本的原因，很多廠家在選擇MCPD時往往會選擇價格相對便宜的設備進行購買使用，但是這樣的設備往往配置較為低端，多采用單光束的分光光度計，而單光束的分光光度計測試結果相較于雙光束的分光光度計的測量值有一定的偏差。為使測量結果更準確，測量人員在使用單光束的分光光度計進行測量時，需要對測量的頻譜進行修正。

目前對單光束的分光光度計進行色度測量的頻譜進行修正主要按照以下方法進行：制作與待測色片的膜厚一致的純色片，用雙光束的紫外可見分光光度計進行測量并得到頻譜，將該頻譜作為修正值存儲到單光束的分光光度計。但是這樣的修正值往往會存在以下問題：制作與待測色片的色阻膜厚一致的純色片時，因制作工藝的影響，使得制作的純色片的膜厚與待測色片的膜厚不能完全一致，膜厚的差異性使得修正值會有一定的偏差；另外，如果彩色濾光陣列基板的制程條件改變時，使得待測色片的膜厚發生變更，則作為修正值的純色片也需要重新制作，增加測試成本。

綜上所述，有必要提供一種多頻分光光度計的修正值的獲取方法以解決上述問題。

發明內容

本發明主要解決的技術問題是提供一種多頻分光光度計的修正值的獲取方法，能夠降低多頻分光光度計的修正值的偏差，降低測試成本。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種多頻分光光度計的修正值的獲取方法，該方法包括：建立目標色阻在不同膜厚下與其對應的頻譜的映射關系的數據庫；準確測量目標色阻的待測色片的膜厚D_X；從數據庫中選取與待測色片的膜厚D_X相近的第一膜厚D₁、第二膜厚D₂及其對應的頻譜T₁、T₂作為參考頻譜；利用公式T₁＝Ae^at1和T₂＝Ae^at2得到一定波長下目標色阻的第一常數A和第二常數a，其中：t1的取值為第一膜厚D₁，T₁為第一膜厚D₁對應的頻譜；t2的取值為第二膜厚D₂，T₂為第二膜厚D₂對應的頻譜，e為自然對數的底數；根據第一常數A和第二常數a，利用公式T＝Ae^at計算出待測色片的膜厚D_X對應的參考頻譜T，其中，t的取值為待測色片的膜厚D_X，并將待測色片的膜厚D_X對應的參考頻譜T作為多頻分光光度計的修正值。

其中，多頻分光光度計為單光束的紫外可見分光光度計。

其中，待測色片的膜厚D_X處于第一膜厚D₁和第二膜厚D₂之間。

其中，建立目標色阻在不同膜厚下與其對應的頻譜的映射關系的數據庫的步驟包括：制作不同膜厚的目標色阻的純色片；利用雙光束的紫外可見分光光度計分別測量不同膜厚的目標色阻的純色片以得到每一膜厚對應的參考頻譜；建立并儲存目標色阻的純色片的膜厚與參考頻譜的映射關系，以通過映射關系查找不同膜厚的目標色阻的純色片對應的參考頻譜。

其中，不同膜厚的目標色阻的純色片的膜厚的差值范圍為0.5-1微米。

其中，不同膜厚的目標色阻的純色片的面積為n*n平方厘米，其中，n大于雙光束的紫外可見分光光度計測量光斑的直徑。

其中，n的范圍為5-10厘米。

其中，目標色阻包括紅色阻、藍色阻和綠色阻。