[發(fā)明專利]TFT基板與CF基板的對位方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510459271.8 | 申請日: | 2015-07-29 |
| 公開(公告)號: | CN104950506B | 公開(公告)日: | 2018-03-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊少甫 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1333 | 分類號: | G02F1/1333 |
| 代理公司: | 深圳市德力知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所44265 | 代理人: | 林才桂 |
| 地址: | 430070 湖北省武漢市*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | tft cf 對位 方法 | ||
1.一種TFT基板與CF基板的對位方法,包括如下步驟:
步驟1、基于傳統(tǒng)的全距測量法勘合方式以相同的全距標(biāo)準(zhǔn)值制作出多個(gè)TFT基板與多個(gè)CF基板,每一TFT基板上具有TFT側(cè)對位標(biāo)記,每一CF基板上具有分別與TFT側(cè)對位標(biāo)記對應(yīng)的CF側(cè)對位標(biāo)記;
步驟2、分別測量每一TFT基板上的TFT側(cè)對位標(biāo)記的全距實(shí)際值、以及每一CF基板上的CF側(cè)對位標(biāo)記的全距實(shí)際值,并分別計(jì)算每一TFT基板上的TFT側(cè)對位標(biāo)記的全距實(shí)際值與全距標(biāo)準(zhǔn)值的X向偏差值(ΔTP1(X))與Y向偏差值(ΔTP1(Y))、以及每一CF基板上的CF側(cè)對位標(biāo)記的全距實(shí)際值與全距標(biāo)準(zhǔn)值的X向偏差值(ΔTP2(X))與Y向偏差值(ΔTP2(Y));
其特征在于,還包括:
步驟3、設(shè)定同一參考偏差值范圍,并將所述參考偏差值范圍劃分為多個(gè)群組,將TFT側(cè)對位標(biāo)記的全距實(shí)際值與全距標(biāo)準(zhǔn)值的X向偏差值(ΔTP1(X))與Y向偏差值(ΔTP1(Y))落入不同群組的TFT基板做投入標(biāo)示,將CF側(cè)對位標(biāo)記的全距實(shí)際值與全距標(biāo)準(zhǔn)值的X向偏差值(ΔTP2(X))與Y向偏差值(ΔTP2(Y))落入不同群組的CF基板做投入標(biāo)示;
步驟4、根據(jù)TFT基板上所做的投入標(biāo)示與CF基板上所做的投入標(biāo)示,對TFT基板與CF基板進(jìn)行投入配對;
步驟5、將配對的TFT基板與CF基板對位。
2.如權(quán)利要求1所述的TFT基板與CF基板的對位方法,其特征在于,所述步驟3中設(shè)定的參考偏差值范圍介于-3um與3um之間。
3.如權(quán)利要求2所述的TFT基板與CF基板的對位方法,其特征在于,所述參考偏差值范圍劃分為第一群組、第二群組、及第三群組,-3um≤第一群組<-1um,-1um≤第二群組<1um,1um≤第三群組≤3um。
4.如權(quán)利要求3所述的TFT基板與CF基板的對位方法,其特征在于,對TFT側(cè)對位標(biāo)記的全距實(shí)際值與全距標(biāo)準(zhǔn)值的X向偏差值(ΔTP1(X))與Y向偏差值(ΔTP1(Y))均落入第一群組的TFT基板所做的投入標(biāo)示為T1,對X向偏差值(ΔTP1(X))落入第一群組、Y向偏差值(ΔTP1(Y))落入第二群組的TFT基板所做的投入標(biāo)示為T2,對X向偏差值(ΔTP1(X))落入第一群組、Y向偏差值(ΔTP1(Y))落入第三群組的TFT基板所做的投入標(biāo)示為T3,對X向偏差值(ΔTP1(X))落入第二群組、Y向偏差值(ΔTP1(Y))落入第一群組的TFT基板所做的投入標(biāo)示為T4,對X向偏差值(ΔTP1(X))與Y向偏差值(ΔTP1(Y))均落入第二群組的TFT基板所做的投入標(biāo)示為T5,對X向偏差值(ΔTP1(X))落入第二群組、Y向偏差值(ΔTP1(Y))落入第三群組的TFT基板所做的投入標(biāo)示為T6,對X向偏差值(ΔTP1(X))落入第三群組、Y向偏差值(ΔTP1(Y))落入第一群組的TFT基板所做的投入標(biāo)示為T7,對X向偏差值(ΔTP1(X))落入第三群組、Y向偏差值(ΔTP1(Y))落入第二群組的TFT基板所做的投入標(biāo)示為T8,對X向偏差值(ΔTP1(X))與Y向偏差值(ΔTP1(Y))均落入第三群組的TFT基板所做的投入標(biāo)示為T9;
對CF側(cè)對位標(biāo)記的全距實(shí)際值與全距標(biāo)準(zhǔn)值的X向偏差值(ΔTP2(X))與Y向偏差值(ΔTP2(Y))均落入第一群組的CF基板所做的投入標(biāo)示為C1,對X向偏差值(ΔTP2(X))落入第一群組、Y向偏差值(ΔTP2(Y))落入第二群組的CF基板所做的投入標(biāo)示為C2,對X向偏差值(ΔTP2(X))落入第一群組、Y向偏差值(ΔTP2(Y))落入第三群組的CF基板所做的投入標(biāo)示為C3,對X向偏差值(ΔTP2(X))落入第二群組、Y向偏差值(ΔTP2(Y))落入第一群組的CF基板所做的投入標(biāo)示為C4,對X向偏差值(ΔTP2(X))與Y向偏差值(ΔTP2(Y))均落入第二群組的CF基板所做的投入標(biāo)示為C5,對X向偏差值(ΔTP2(X))落入第二群組、Y向偏差值(ΔTP2(Y))落入第三群組的CF基板所做的投入標(biāo)示為C6,對X向偏差值(ΔTP2(X))落入第三群組、Y向偏差值(ΔTP2(Y))落入第一群組的CF基板所做的投入標(biāo)示為C7,對X向偏差值(ΔTP2(X))落入第三群組、Y向偏差值(ΔTP2(Y))落入第二群組的CF基板所做的投入標(biāo)示為C8,對X向偏差值(ΔTP2(X))與Y向偏差值(ΔTP2(Y))均落入第三群組的CF基板所做的投入標(biāo)示為C9。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于武漢華星光電技術(shù)有限公司,未經(jīng)武漢華星光電技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510459271.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的
- 一種數(shù)據(jù)庫讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測試終端的測試方法
- 一種服裝用人體測量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





