[發明專利]TFT基板與CF基板的對位方法

有效

• 申請號: 201510459271.8
• 申請日: 2015-07-29
• 公開（公告）號: CN104950506B
• 公開（公告）日: 2018-03-06
• 發明（設計）人: 楊少甫
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/1333
• 分類號: G02F1/1333
• 代理公司: 深圳市德力知識產權代理事務所44265
• 代理人: 林才桂

技術領域

本發明涉及液晶顯示技術領域，尤其涉及一種TFT基板與CF基板的對位方法。

背景技術

薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor liquid crystal display，TFT-LCD)是利用液晶材料的特性來顯示圖像的一種平板顯示裝置，其相較于其它顯示裝置而言更具輕薄、低驅動電壓及低功耗等優點，已經成為目前整個消費市場上的主流產品。

TFT-LCD通常包括殼體、設于殼體內的面板及設于殼體內的背光模組(Backlight module)。

TFT-LCD面板的結構是由一彩色濾光片基板(Color Filter，CF)、一薄膜晶體管陣列基板(Thin Film Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)以及一配置于兩基板間的液晶層(Liquid Crystal Layer)所構成，其工作原理是通過在兩片玻璃基板上施加驅動電壓來控制液晶層的液晶分子的旋轉，將背光模組的光線折射出來產生畫面。現行TFT-LCD面板的制作過程大致可分為前段陣列(Array)工藝、中段成盒(Cell)工藝及后段模組組裝(Module)工藝。前段陣列工藝主要是形成TFT基板及CF基板；中段成盒工藝負責將TFT基板與CF基板對組，在兩者之間注入液晶并切割至合乎產品的尺寸；后段模組組裝工藝則負責將組合后的面板與背光模組、面板驅動電路、及外框等進行組裝。

目前，將TFT基板與CF基板對組均以對位標記(Mark)對位的方式進行，如圖1所示，通過讀取TFT基板20上的TFT側對位標記21與CF基板10上的CF側對位標記11并將相應的TFT側對位標記21與CF側對位標記11對位來進行勘合組立作業，TFT側對位標記21與CF側對位標記11對位完成后的情況如圖2所示。由此可見，影響TFT基板與CF基板勘合組立成功與否的因素在于TFT基板與CF基板的搭配狀況。目前業界使用的公知方法是采用全距測量法(Total Pitch)又稱長寸法勘合來進行對組最適化。所謂全距測量法，即在TFT基板制作完成后，測量TFT基板上的各個TFT側對位標記之間的間距值，確定規格并要求CF基板依據該規格相應制作相同間距值的CF側對位標記，確保兩基板能夠順利對組。

全距測量法勘合方式在TFT-LCD的新品生產中是必要項目之一，幾乎所有高世代LCD生產線都采用了該技術，以確保產品的組立狀況。但對于高分辨率、高解析度的TFT-LCD產品，由于高分辨率要求CF基板上的黑色矩陣(Black Matrix，BM)的線寬減小，而BM的線寬減小后對于勘合的精準度要求將會更加嚴苛，若仍舊采用傳統的全距測量法勘合方式將無法有效降低TFT-LCD產品混色的風險。

發明內容

本發明的目的在于提供一種TFT基板與CF基板的對位方法，具有更高的對位精度，能夠滿足高分辨率TFT-LCD產品的組立要求，并降低高分辨率TFT-LCD產品因BM線寬細化而產生混色的風險。

為實現上述目的，本發明提供一種TFT基板與CF基板的對位方法，包括如下步驟：

步驟1、基于傳統的全距測量法勘合方式以相同的全距標準值制作出多個TFT基板與多個CF基板，每一TFT基板上具有TFT側對位標記，每一CF基板上具有分別與TFT側對位標記對應的CF側對位標記；

步驟2、分別測量每一TFT基板上的TFT側對位標記的全距實際值、以及每一CF基板上的CF側對位標記的全距實際值，并分別計算每一TFT基板上的TFT側對位標記的全距實際值與全距標準值的X向偏差值與Y向偏差值、以及每一CF基板上的CF側對位標記的全距實際值與全距標準值的X向偏差值與Y向偏差值；

步驟3、設定同一參考偏差值范圍，并將所述參考偏差值范圍劃分為多個群組，將TFT側對位標記的全距實際值與全距標準值的X向偏差值與Y向偏差值落入不同群組的TFT基板做投入標示，將CF側對位標記的全距實際值與全距標準值的X向偏差值與Y向偏差值落入不同群組的CF基板做投入標示；

步驟4、根據TFT基板上所做的投入標示與CF基板上所做的投入標示，對TFT基板與CF基板進行投入配對；

步驟5、將配對的TFT基板與CF基板對位。

所述步驟3中設定的參考偏差值范圍介于-3um與3um之間。

所述參考偏差值范圍劃分為第一群組、第二群組、及第三群組，-3um≤第一群組＜-1um，-1um≤第二群組＜1um，1um≤第三群組≤3um。