[發明專利]數字集成電路直流參數標準復現方法及標準裝置有效

申請號：	201510458064.0	申請日：	2015-07-30
公開（公告）號：	CN104991214B	公開（公告）日：	2017-12-29
發明（設計）人：	胡勇;孫崇鈞;劉倩	申請（專利權）人：	中國船舶重工集團公司第七0九研究所
主分類號：	G01R35/00	分類號：	G01R35/00
代理公司：	武漢河山金堂專利事務所(普通合伙)42212	代理人：	胡清堂
地址：	430205 湖北省武漢市***	國省代碼：	湖北;42
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摘要：
搜索關鍵詞：	數字集成電路直流參數標準復現方法裝置
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【說明書】：

技術領域

本發明涉及微電子計量技術領域，特別涉及一種數字集成電路直流參數標準復現方法及標準裝置。

背景技術

集成電路參數的性能指標直接影響了各種軍民用系統、設備的技術指標，目前這些集成電路參數的量值溯源途徑主要通過“集成電路測試系統校準裝置——集成電路測試系統——集成電路參數”的方式進行，這種方式解決了集成電路測試系統的量值溯源問題，然而卻無法保障“集成電路測試系統——集成電路參數”之間的量值傳遞的可靠性。原因是集成電路測試系統的參數和集成電路參數存在本質的差異，集成電路測試系統的量值溯源是針對單個部件(如驅動器、比較器、精密測量單元、電源等)在靜態條件下的主要參數的量值溯源，而集成電路參數的量值溯源則是實際測試過程中測試系統多個部件綜合作用的結果，可能會存在經過量值溯源的測試系統所測試的集成電路參數量值不準的情況，無法真正保障各種軍民用系統、設備的性能指標。

目前，業界一般采用金器件的方式進行測試系統的量值比對、核查，通常的做法是選取某種金器件特定的參數在不同測試系統上測試，以此來進行測試系統性能比對。此類金器件參數量值單一、準確度不高，并不能用于集成電路參數標準來對集成電路測試系統進行校準。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種數字集成電路直流參數標準均可以在最小值到最大值之間進行無極調節，且測量不確定度優于0.1％的數字集成電路直流參數標準復現方法及標準裝置。

一種數字集成電路直流參數標準復現方法，包括以下步驟：

S1：數字集成電路直流參數標準裝置1中的控制器12設置數字集成電路直流參數標準值；

S2：數字集成電路直流參數標準裝置1中的儀器模塊組11根據所述數字集成電路直流參數標準值以及待測試裝置2對數字集成電路直流參數標準裝置1兩端的電壓/電流施加值在由控制器12、儀器模塊組11、待測試裝置2依次串聯連接形成的測試回路中復現數字集成電路直流參數，控制器12接受儀器模塊組11復現的測試回路中的數字集成電路直流參數，并與所述數字集成電路直流參數標準值進行比較，得到誤差測試結果；

S3：若所述誤差測試結果超過控制器12規定的誤差判定范圍，控制器12利用二分法算法對測試回路中的數字集成電路直流參數進行修正，直到誤差測試結果小于規定的誤差判定范圍，修正后的數字集成電路直流參數即是數字集成電路直流參數標準裝置1復現的數字集成電路直流參數標準。

本發明提供了一種數字集成電路直流參數標準裝置，包括PXI儀器模塊組11、控制器12及接口適配器13；

所述控制器11、接口適配器13分別與所述PXI儀器模塊組11電連接；

所述PXI儀器模塊組11，用于根據數字集成電路直流參數的測量原理，復現多組可編程數字集成電路直流參數標準；

所述控制器12，用于控制所述PXI儀器模塊組11復現數字集成電路直流參數標準，并對數據進行存儲、處理及顯示；

所述接口適配器13，用于根據復現數字集成電路參數標準所對應的不同的原理，對接收的PXI儀器模塊組11的數據信號進行轉接、隔離、分配，以復現不同的數字集成電路參數標準至待測試裝置2。

本發明提供的數字集成電路直流參數標準復現方法及標準裝置，可以實現數字集成電路直流參數標準的無極調節，同時具有溯源功能，確保了數字集成電路直流參數的全量程校準，填補了我國在此項技術的空白；且性能優異、集成度高、便攜性好，可溯源，能夠很好地滿足當前數字集成電路直流參數現場校準的需求。

附圖說明

圖1是本發明實施方式提供的數字集成電路直流參數標準復現方法的流程示意圖。

圖2是本發明實施方式提供的數字集成電路直流參數標準裝置的結構示意圖。

圖3是本發明實施方式提供的數字集成電路直流參數標準復現方法中直流參數復現的原理結構圖。

圖4是圖3中復現I_OL/I_OH、I_IL/I_IH、I_OS、I_DD參數標準的原理結構圖。